线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计

时间地点： UNF@%O4_T  
主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司；苏州黉论教育咨询有限公司 ZGsI\3S  
授课时间：2023年11月27（一）-29日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 E]c0+rh~  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 >)*0lfxTZ  
课程讲师：讯技光电高级工程师 t$EL3U/(  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) iPCDxDLN3V  
课程简介： ep)O|_=  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统，具体突出红外热辐射和冷反射计算，在以往的方法中我们通过计算点列图来实现，但存在诸多的缺陷，如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点，我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 B6-1q& E/  
课程大纲： ^|UD&6 dx  
1. 杂散光介绍与术语 4'#?"I  
1.1 杂散光路径 |7)oX  
1.2 关键面和照明面 *b,4qMr  
1.3杂光内部和外部杂散光 77H"=  
2. 基本辐射度量学-辐射 ZbfpMZ g  
2.1 BSDF及其散射模型 `6RR/~kP(  
2.2 TIS总散射概念 1{-yF :A
 
2.3 PST(点源透射比) a&!K5(  
3. 杂散光分析中的光线追迹 )s|o&aP>  
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3.1 FRED软件光线追迹介绍 pg.BOz\'q  
3.2构建杂散光模型  %X**(  
定义光学和机械几何 @bF4'M  
定义光学属性 MG:eI?G/'  
3.3 光线追迹 ;:1o|>mX
 
使用光线追迹来量化收敛速度 `Rx\wfr}  
重点采样 0)]?@"j  
反向光线追迹 :6jh*,OHZl  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 C$4!|Wg3  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 o0 |T<_  
使用GPU来进行追迹 e]*@|e
4b  
RAM内存使用设置 ht_'GBS)  
4.散射模型 @iBaJ"*,  
4.1来自表面粗糙的散射 >Vph_98|  
低频、中频、高频 g+]o=@  
RMS粗糙度与BSDF的关系 !,9;AMO -  
由PSD推导BSDF S+bpWA  
拟合BSDF测量数据 G]zyx"0Sqb  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 LV@tt&|N  
4.3 来自颗粒污染的散射 !g4u<7  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） ^4Tf6Fw#  
颗粒密度函数模型 F$@(0c  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 ;T :]?5W!  
4.4 来自黑处理表面的散射 M \UB r4  
4.5 孔径衍射 Jd28/X5&  
杂散光程序中的孔径衍射 Zg$RiQ^-{J  
衍射元件的衍射特性 0]xp"xOwW  
案例：衍射杂散光分析 Xbu P_U'  
5. 大气湍流散射 Ejj+%)n.  
6. 热辐射 `+!F#.  
红外热辐射的杂散光分析 O+"a0:GM  
冷反射仿真 q0{_w  
7. 鬼像反射 &AnWMFo  
鬼像反射 r2m&z%N&  
表面镀膜 l#TE$d^ym  
表面镀AR增透膜的仿真 ^{a_:r"  
8. 光学设计中的杂散光控制 C."\ a_p  
8.1使用视场光阑 wwE3N[  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 -5Oy k,  
8.3使用眩光光阑（Lyot stop） %5!K?,z%  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 Ch_eK^ g1  
8.5 使用滤光 M{g.
x4M@W  
9. 挡板和冷窗的设计 m4?a'z"  
9.1主挡板和冷屏的设计 5'/ff=  
9.2 挡光环的设计 INY?@in  
槽型挡光环 Sq]QRI/  
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 -I[KIeF  
案例：望眼镜系统的挡板的优化 "R]wPF5u  
10. BSDF散射测量 "KgNMNep