线下课程培训FRED杂散光分析与控制设计

时间地点： *Vk%"rwaG  
主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司；苏州黉论教育咨询有限公司 >YPC&@9   
授课时间：2023年11月27（一）-29日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 i?R+Ul`Q  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 ["|' f  
课程讲师：讯技光电高级工程师 p7b`Z>}  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) \I r&&%  
课程简介： m&)5QX  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统，具体突出红外热辐射和冷反射计算，在以往的方法中我们通过计算点列图来实现，但存在诸多的缺陷，如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点，我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 R:+2}kS5e{  
课程大纲： 2mVcT3  
1. 杂散光介绍与术语 g?V>+oMx  
1.1 杂散光路径 f&+=eUp  
1.2 关键面和照明面 2UYtFWB9o  
1.3杂光内部和外部杂散光 w,L PM+  
2. 基本辐射度量学-辐射 (17%/80-J  
2.1 BSDF及其散射模型 QG\lXY,  
2.2 TIS总散射概念 <1tFwC|4BJ  
2.3 PST(点源透射比) -^=sxi,V  
3. 杂散光分析中的光线追迹 8D[8(5  
fm2,Mx6  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 H\A!oB,sw  
3.2构建杂散光模型 7Mxw0J  
定义光学和机械几何 Skgvnmk[U  
定义光学属性 G%N/]]ll  
3.3 光线追迹 YDBQ6X  
使用光线追迹来量化收敛速度 a`5ODW+  
重点采样 x2B~1
edf  
反向光线追迹 V$u~}]z  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 uLV@D r   
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 
aVv$k  
使用GPU来进行追迹 [9f TN2'z  
RAM内存使用设置 J%']t$AR  
4.散射模型 }>vf(9sF`  
4.1来自表面粗糙的散射 .uzg2Kd_  
低频、中频、高频 "oZ]/(  
RMS粗糙度与BSDF的关系 55xv+|k  
由PSD推导BSDF D*+uH;ws  
拟合BSDF测量数据 G5W6P7-<X  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 *<*{gO?Q4
 
4.3 来自颗粒污染的散射 -|^}~yOx0=  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） usiv`.  
颗粒密度函数模型 Dt,b\6  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 }^uUw&   
4.4 来自黑处理表面的散射 E@\e37e  
4.5 孔径衍射 @xR7>-$0p  
杂散光程序中的孔径衍射 m7X&"0X  
衍射元件的衍射特性 $ wGDk
  
案例：衍射杂散光分析 Xv3u}nPMq  
5. 大气湍流散射 Q!/<=95E  
6. 热辐射 %&KJtKe  
红外热辐射的杂散光分析 %zE_Q  
冷反射仿真 <{@?c  
7. 鬼像反射 $Gb] K{e  
鬼像反射 Tj@}O:q7:  
表面镀膜 REnd# V2x  
表面镀AR增透膜的仿真 ^.Cfa  
8. 光学设计中的杂散光控制 2SU G/-P#  
8.1使用视场光阑 ^_b+
o  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 qq}EXq^  
8.3使用眩光光阑（Lyot stop）
!}wJ+R ^2  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 K7}EL|Kx  
8.5 使用滤光 KNU/Kc#  
9. 挡板和冷窗的设计 evf){XhT;n  
9.1主挡板和冷屏的设计 9v)p0  
9.2 挡光环的设计 V^aX^;  
槽型挡光环 0gPz|v>z  
挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 'U]= T<
 
案例：望眼镜系统的挡板的优化 /km^IH  
10. BSDF散射测量 TkhbnO g6