如何更好地分辨物体是
光学科学界一直存在的问题,因此如何判断
光学系统的
分辨率是一个重要的问题。根据Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我们在
VirtualLab Fusion中演示了阿贝分辨率极限和瑞利判据,并说明了如何使用这两种分析来评估典型
成像系统的性能。
cX=b q_ zKAyfn.A 用瑞利准则研究
显微镜物镜的分辨率
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,F 根据瑞利判据,我们研究了三种不同数值
孔径的显微物镜的分辨率。
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Y0|l,m 阿贝理论成像的论证
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