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    [技术]分辨率的分析 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-09-18
    如何更好地分辨物体是光学科学界一直存在的问题,因此如何判断光学系统分辨率是一个重要的问题。根据Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我们在VirtualLab Fusion中演示了阿贝分辨率极限和瑞利判据,并说明了如何使用这两种分析来评估典型成像系统的性能。 _?9|,  
    Y^ ,G} &p  
    用瑞利准则研究显微镜物镜的分辨率 Q_A?p$%;L  
    QkY;O<Y_  
    SY+$8^  
    _^Q =n>G  
    根据瑞利判据,我们研究了三种不同数值孔径的显微物镜的分辨率。 @|9V]bk  
    tVAH\*a,/  
    阿贝理论成像的论证 &fwb?Vn4  
    "@&I*1&  
    X6o iOs  
    T28Q(\C:}  
    我们搭建了成像系统,以金属光栅为实验对象,利用VirtualLab Fusion演示了阿贝的成像理论。 ](^BQc  
    aP +)  
     
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