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摘要 F`CDv5 o.wXaS8
SK5__Ix r=# v@]zB 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ,qj M1xkL$ F]cc?r312 任务说明 kH?PEA! \ qdo_YPG
>nO[5 j43i:c;F 多重光源 Awe'MG p% -qG7, t WnhH]WY '![VA8 螺旋相位板 5hfx2O) (zw.?ADPCT
H[N~)3x 0yxwsBLy 探测器插件 q#`;G,rs dTqL[?wH?
O@>{%u L#fS P 参数运行 -^t&U]
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EUS^Gtc - XB[2h 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ;Bat--K7+ M1I4Ot Usage of the Parameter Run Document !X 0 (4^ :|Bzbn=N2 非时序建模 z5W;-sCz |T{ZDJ+
^9XAWj" 7eG@)5Uy 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 Tvw(Sq}; *oAnG:J+M Channel Setting for Non-Sequential Tracing ._<gc;G h8P_/.+g|V 总结 – 组件… *-gmWATC6 yn04[PN2
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/g [yVcH3GcjI 系统观感 .&/A!3pW u HXb=U
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sVP2$? 发射&损耗激光 #J%Fi).^) /_r{7Gq.
fw0Z- 9* EiWd =jDm 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 K555z+,'e /P*ph0S- qb5IpI{U 3D STED 轮廓 #}xPOz7: >IHf5})R
VqeW;8&*iv CxVrnb[`q 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 6/Z 8/PL qGie~S ## 受激发射损耗效应 fwaM ;YN_ 0*o =JM] 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 IF3 V5Q ~T&X#i
KQ.cd]6 NjSjE_S2B8 VirtualLab Fusion 技术 ;\t(c Y+"Gx;F>
%$F\o1S r'u[>uY 文件信息 m ,TYF dH0wVI<z
FBrJVaF <nn!9V\C 进一步阅读 '8fL)Zk • Simulation of Multiple Light Source in VLF 9wv 7HD| • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy kk3G~o+ XwdehyPhT2 市场图片 P87qUC z#sSLE.$Z
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