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摘要 u7ER }TAHVcX*p
YNWAef4 BJ7m3[lz 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 +G<9 |- nXcOFU 任务说明 tz"zQC$ 5nJmabw3
+UC- 00(#_($ 多重光源 lhhp6-r U4$CkTe2Y 6?(vXPpT$ *L~88-V^ 螺旋相位板 %.;`0}b G/5]0]SO
4GTB82V$ YkbZ 2J*- 探测器插件 .f]2%utHB ?.b.mkJ
Af _yb`W? p(]o#$ 6[ 参数运行 ISl-W1u}
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7ZRLSq'S t|y`Bl2 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: l\{{iAC]I p6e9mSs Usage of the Parameter Run Document gXI8$W> BSib/)p 非时序建模 >,. x'{ "vG~2J
R-2V C >X!A/;$ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 -%#F5br% IHlTp0? Channel Setting for Non-Sequential Tracing =ADdfuKN 8h| 9;% 总结 – 组件… =/jCDY )dgooq
UjI-<| XKq}^M&gy
&;O)Dw I>L@P`d 系统观感 #+,O #XJ`/\E]
Pwh0Se5Z 5*W<6ia 3\jcq@N 发射&损耗激光 (jY -MF3 N}tiaL4
g`BtG B Ctm05 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 L&2 Zn{#` M:?
:EJ \h}a?T6 3D STED 轮廓 D7"RZF\) ?nya;Z-~Hc
xfyUT^ *3>$f.QU 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 K^'NG! c/q -WEKL 受激发射损耗效应 O$Z<R:vVA T8ftBIOi 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 X^;LiwQv WKB8k-.]ww
xJ(4RaP 09psqXU@I VirtualLab Fusion 技术 sC=fXCGW\p &CEZ+\bA
LYv$U;*+ tb@&!a$`? 文件信息 &XnbZ&_ ED+tVXyw
aMaFxEW 5|E_ ,d!v 进一步阅读 ))qOsphN • Simulation of Multiple Light Source in VLF ]"Qm25`Qz • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy oL2 a:\7 e(NpX_8 市场图片 ^l(Kj3gM !}gC0dJ
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