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摘要 FR2=
las"z X\EVTd)@ 3rLTF\ ['8!qr 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 _iNq"8>2 ljl^ GFo 任务说明 6T 8!xyi-+ W>-Et7&2 ,h"- f&v9Q97= 多重光源 "-@[R Z{&cuo.@<] R.=}@oPb Eu"_MgD 螺旋相位板 N?Lb rZ8`sIWQt Y0eE-5F, V#VN%{ 探测器插件 rE@T79" ;WR,eI.. F:x [ Zd"^</ S 参数运行 LL:_L< 3R+|5Uq8~ 6@DF .\>v0Du 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: mI 74x3 [ >/|q:b^2r Usage of the Parameter Run Document I`NjqyTW p/+a=Yo 非时序建模 sr8cYLm5R ~"A+G4jl t!RiU ZAo {<<U^<6} 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 |i++0BU -Uml_/rd_ Channel Setting for Non-Sequential Tracing / m=HG^! A~-b!Grf 总结 – 组件… UX7t`l2R c/sC&i;%O !qG7V:6 G^ :C+/) K6R.@BMN vN;mPd~g
系统观感 =>-Rnc@ F6z%VWU #\=F O> ^0Mt*e{q `nu''B
H 发射&损耗激光 <Y}R#o1Z 8i2n;LAz <7~'; K nrjE.+v 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 i{`:(F5* JD|=>)
$ ` "" 3D STED 轮廓 OGl}-kw ~sh`r{0 T:~vk.Or 'tH_p 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 qi^7 m^zUmrj[ 受激发射损耗效应 NCDvobYJ `x*Pof!Io 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 nlc
"c5;jh z:wutqru g%=z_ a^I\ /&aw' VirtualLab Fusion 技术 %$.3V#? BI%$c~wS e~=;c )?anOD[ 文件信息 $|@
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bFO7C ?Wlb3; 进一步阅读 fumm<:<CLO • Simulation of Multiple Light Source in VLF fb e[@#: • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy J| w>a Tw-;7Ae 市场图片 GBPo8L"9 |Y,b?*UF asppRL||
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