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摘要 !OV+=Rwdx Vp1Ff
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受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 KJ
cuZ."wX 65l9dM2 任务说明 b<j*;n. Y2$xlqQd"
,"5][RsOn I ;F\'P)e 多重光源 z@[-+Q: ht2J, 1t oZ>2Tt% ~uu{
v') 螺旋相位板 Lum5Va%0 %R P\,|
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1=]. 探测器插件 EN5F*s@r q
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S|]\q-qA& $Y[C A.F 参数运行 |LirjC4 Cy6%f? j
:@~mN7O* Qn}M 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9\>{1"a _8e0vi!~2 Usage of the Parameter Run Document (Q"~bP{F O@a7MzJ 非时序建模 @PV3G
KJ fvRqt)Ks
-nY_.fp> x#fv<Cj4 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ?8YbTn1f) 7MIrrhk Channel Setting for Non-Sequential Tracing 5%w08 @4Lol2 总结 – 组件… "
f.9u JZ/T:Hsh4
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(3&P8ZGNR T!-ly7-` 系统观感 bycnh H__'K/nH+
nZ[`Yrq)0 gnlU 1ezBnZJg 发射&损耗激光 e?:1wU F!P,%JmI<
\pXo~;E\ S}6xkX 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 @ssT$#)$! yeA]j[ # ut.tf \c 3D STED 轮廓 UL"
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6ipQx/IQ ,;n[_f 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 w`[`:H_z
czH# ~ 受激发射损耗效应 f<>CSjQ4c T1;>qgp4b 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 XoGOY|2`6 @>`qfy?
luJNdA:t& *A0*.>@N VirtualLab Fusion 技术 y 7z)lBy\ -_bDbYL
ynJ)6n7a ,fvhP $n 文件信息 1z_1Hl ~|{_Go{
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J7@Q;gcl: }>_ 进一步阅读 .x1.` Y • Simulation of Multiple Light Source in VLF
M,we,!B0 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy zb.sh ~Xc1y!"9* 市场图片 wpt5'|I cCcJOhk|d
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