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摘要 ]{<saAmJC oI*d/*
_FT6]I0 -ovoRI^6`} 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 7"#f!.E 0',[J 任务说明 uj)yk*
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^}hJL7O' t-x[:i 多重光源 C\OECVT *<7l!# ;>8kPG bf1)M>g,O 螺旋相位板 /p,{?~0mj mf$Sa58
zz&vfO31J i@XB&;*c\ 探测器插件 {tc57jsr ;?zF6zvQ
Z&-tMai; VtWT{y5Ec 参数运行 lY8`5Uz TU%bOAKF\
V:OiW"/ sDX/zF6t 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 2$tQ @r Y[@0qc3UO Usage of the Parameter Run Document @y5= J`@= (xu=% 非时序建模 x}|+sS,g modC6d%
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5[d x9&p!&*&IT 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 )b9_C
O} !VRo*[yD@ Channel Setting for Non-Sequential Tracing \2 >3Opt YQ7@D]# 总结 – 组件… 0<Q*7aY !b63ik15O~
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A?r^V2+j [~)x<=H8{ 系统观感 _C$X04bU3V /tZ0
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+ {e`]t>_ #1gO?N(<= N571s 发射&损耗激光 j8a[
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X3yS5whd( mX;H(( 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 (;ADW+.`J d@ (vg 3+V#[JBJv 3D STED 轮廓 NO4Z"3Pd_ /[{auUxSX
=?/&u< Y{+3}drJE 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 G "brT 5: S3y246|4 受激发射损耗效应 Y[um|M315 3[VNsX 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 V:Mk)8Gf| d}+W"j;
M4:s;@qZ. l9J*um- VirtualLab Fusion 技术 "V}qf3qU yWY|]Pp
R6P\T\~E 2Wl{Br. 文件信息 GHG,!C :)4*^a/lC
H+x#gK2l 4Jykos2 进一步阅读 mNDuwDd$S • Simulation of Multiple Light Source in VLF %*K;np-q{ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 5v|EAjB6o MGaiTN^_< 市场图片 u"Y]P*[k [.&[<!,.
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