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摘要 X-WvKH(=w R')GQ.yYq
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o[KU 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 s'w0pZqj -$p-o
Z) 任务说明 ,6)y4=8 L tH!z7VZ
eW<hC( P Qay
sdb 多重光源 AYerz >U.uRq Darkj>$\ Q&;qFv5-l 螺旋相位板 t`{Fnf ^ 9E(8DD
4h(Hy&1C \rO>FE 探测器插件 mY9K)]8 vnpX-c
mK4A/bsE ^5F/=TtE G 参数运行 XCoOs<O:@ E$
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%m`QnRX?D $4]PN2d& 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: $x*GvI1D 9IV WbJ Usage of the Parameter Run Document x.Y,]wis /0(KKZ) 非时序建模 ualtIHXK) 29oEkaX2o
NM ]/OKs'H )2S\:&x 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 '
r/1+. cCIEG e6 Channel Setting for Non-Sequential Tracing TrW3@@}j WP9=@X Z 总结 – 组件… vP!gLN]TV "-sz7}Mb
5o*x?P!$ =*I9qjla[?
)C[8#Q-: /VQ<}S[k}- 系统观感 ak zb<aT D? ($R9t
$si2H8 U\N`[k.F %Vq@WF 发射&损耗激光 9Z=Bs)-y. wC19
6m9Z5:xG )u$A!+fo 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 &AzA0r&, BmZd,}{ {,m!%FDL 3D STED 轮廓 kci H ^>>Naid
+Fk.B@KT,
d%<Uh(+: 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 p&7>G-. /2c?+04+ 受激发射损耗效应 ^vzNs>eJ 5i0<BZDTef 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 [mhY_Hmz] wi!Ml4Sb
[p(Y|~ {w2<;YXj! VirtualLab Fusion 技术 7%X$6N-X Cu}Rq!9i
r8mE PS>k67sI 文件信息 s3q65%D [Ga9^e$Zv
mFT[[Z# ?R";EnD 进一步阅读 =!7yX;| • Simulation of Multiple Light Source in VLF zD?<m
J` • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy |[gnWNdR$M /7*u!CNm 市场图片 <#:"vnm$j WFtxEIrl3j
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