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摘要 `]%|f
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-\C!I Hw4%uS==V 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 1')%`~ w!D|]LoE 任务说明 WYr/oRO DY`kx2e!
0=?<y'= |j7,Mu+ 多重光源 #"B\UN fZoHf\B]{ HPZ}*m' 'ET~ 螺旋相位板 bD?VU<)3 Ig
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Om5Y|v"* ,'u W*kx 探测器插件 `G}TG( 3xaR@xjS
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Ym}d :>C2gS@ 参数运行 sr{a(4*\ GaK-t*Q
2%_vXo=I 4GX-ma, 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9J2NH|]c o{y9r{~A Usage of the Parameter Run Document =Lf,?"S IhVO@KJI 非时序建模 7Mg=b%IYs sG92XJ
)!P)U(*v 3v1iy/ / 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 *Qg _F6y q!|*oUW Channel Setting for Non-Sequential Tracing 75XJL;W # vzim<;i 总结 – 组件… |Uc_G13Y{D YTUZoW2
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Z$/xy" "eB$k40- 系统观感 +JjW_Rl?=V xdp`<POn%
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HVl(O 发射&损耗激光 W04@!_) < E2R&[Q"%
RBs-_o+ % W*Zkc:{eB 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 '"SEw
w 21K>`d\ ]:XoRyIZ1[ 3D STED 轮廓 {zQ8)$CQ M
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'>-gi}z7 -zOdU}91Ao 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 9]f!'d!5 /5(Yy} 受激发射损耗效应
TQpf Q p@xf^[50k 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 gOSJM1Mr3 jB%lB1Q|
Qz5sxi ILEz;D{] VirtualLab Fusion 技术 (l^3Z3zf& QbkLdM,S*
hT`J1nNt Xg|B \\ 文件信息 WrQD X3 u0|8Tgf
MQ5R O;RY YIoQL}pX 进一步阅读 gQWa24 • Simulation of Multiple Light Source in VLF 7puFz4+f • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy m$}R% e:fy#,HEj{ 市场图片 We$:&K0 sFT.Oxg<
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