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摘要 AVp"<Uv ,*wj~NE
"; ?^gA s3)T}52 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 a]x\e{ z.:IUm{z 任务说明 }& 01=nY =1j`VJU9
p{JE@TM zh4m`}p 多重光源 i^/D_L. )eWg2w ] x{{ZV] I\VC2U
螺旋相位板 ,,(BW7( _MGhG{p7t
x;/%`gKn8 Oc^bbC 探测器插件 K/LoHWy+n* D^2yP~(
MtK5>mhZI` ZQDw|*a@ 参数运行 v:Z.8m8D 9/50+2F
0bG2YMs xW'(]Z7_ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: J_ `\}55n O0>^?dsL Usage of the Parameter Run Document %D*yXNsY %-[U;pJe; 非时序建模 4K$d% Psu*t%nQ?A
3.I:`>;EO iLG~_Ob: 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 o*|j}hnbv .cm$*>LW:x Channel Setting for Non-Sequential Tracing V|bN<BYJ =Qw`F0t 总结 – 组件… 54,
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J;7O`5J "# BI" 系统观感 /CN`U7:E Gd%E337d
V$fvf#T /
L/hR4 RgT|^|ZA 发射&损耗激光 uvf}7 Kdwt^8Umh
B>M @ ' -V)DKf"f 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 /__@a&9t R7d45Wl *R6Ed 3D STED 轮廓 DZ Q=Sinry mVuZ}`
vmZyvJSE ~1v5H]T{ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 6S#e?>"+ \P|PAU@, 受激发射损耗效应 6vQCghI /2e&fxxD 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 >FabmIcC [~<X|_LG
kq kj.#u {FU,om9 VirtualLab Fusion 技术 e$3{URg +bw>9VmG
``Wf%~ 5dE@ePO[/9 文件信息 Xo:!U=m/# ;L458fYs
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bK|I 进一步阅读 ~S, R`wo • Simulation of Multiple Light Source in VLF j%m9y_rg} • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy :q0TS>l
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