-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-11
- 在线时间1927小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 YU'k#\gi* 3<e=g)F
#>a\>iKQ2q I
}a`0Y&{ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 XnH05LQ \,'m</o~, 任务说明 0.Q
Ujw U"~>jZKk
'NbHa! F;Spi 多重光源 F0m-23[H K6)Gc%:` xBj9yu N_LM/of|D 螺旋相位板 ?=u\n;w) xf'V{9*
Ky`qskvu ;_XFo&@ 探测器插件 !K#qe Y} %6t:(z
}t!Gey ;'gWu 参数运行 \Zb;'eDv qRu~$K
2zX]\s?3 k<z)WNBf 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: M.JA.I@XC Q1lyj7c#x Usage of the Parameter Run Document PgAf\.48a .zf~.R;> 非时序建模 o]odxr y1z4ik)Sd@
{aZ0; *nd! )t 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 v<k?Vu (xycJ`N Channel Setting for Non-Sequential Tracing j<u pRS,$ -$\y_?} 总结 – 组件… k``_EiV4t REQ\>UO_
@ 8(q$ L]7=?vN=8
@?ebuj5{e zE*li`@ 系统观感 \Zk;ikEY C-xr"]#]
*9
{PEx O}gV`q; 5; C| 发射&损耗激光 ]dVGUG8 t6rRU~;}
0^ _uV9r 0J*??g-n 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 =<C:d P-[-pi@ v4<nI;Ux 3D STED 轮廓 v@sIHb OHN _
SZ7:u895E A.F%Ycq 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 '$Dn t
mntp 受激发射损耗效应 3=#<X-); PxX4[ P 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 goNG' o %| q~Hn-5H4Q
4IK( 7 O;Rqv VirtualLab Fusion 技术 E*&vy ;7*[Bcj.
t3WiomNCc F~ty!(c 文件信息 U)TUOwF E,Z$pKL?
@3i\%R)n; j8i[ONq^ 进一步阅读 t|?ez4/{z • Simulation of Multiple Light Source in VLF d7^}tM • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy sFKX-S~: HdI8f!X'TG 市场图片 Ep_HcX` Z{.8^u1I
ZmqKQO
|