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摘要 QXL .4r% *kTp(*K/7`
gV\Y>y4v /Ix5`Q) 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Lr6C@pI !^0vi3I 任务说明 r%X
M`;bQX S<'_{u z
#=ij</ B^GMncZO 多重光源 a$^)~2U{ cT/mi":8{ gE=9K @ 1|H4]!7kE 螺旋相位板 c VO-iPK >JY\h1+ H
Y= =5\;- 9h)8Mq+M 探测器插件 E?KPez .Z"`:4O
c9CFGo?)N CRNi*u 参数运行 hDZyFRg 5M5vxJ)Lh
Y TY(Et1i !hS)W7!ik 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9b,0_IMHH 59W~bWHCP Usage of the Parameter Run Document +s;Vfc$b]H &V+KM"Ow 非时序建模 9Hb|$/FD {^uiu^RAc
/'_<~A I\c7V~^hnG 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 kZrc^ S-~)|7d. Channel Setting for Non-Sequential Tracing HJym|G>%? ]SPuNBsy) 总结 – 组件… wqV"fZA\] Zz/p'3?#
j&a\ K}U! 5VQ-D`kE+
-%%Xx5D Iu`S0#+ 系统观感 JZ5 ";*, G{>PYLxOb
.sM,U B)L0hi J-uQF| 发射&损耗激光 M
l@F mEi(DW)(
-{9mctt/gE =>evkaj 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 =_m3~=Z ST?Rl@4 WvfM.D!
3D STED 轮廓 PeqW+Q. >G%oWRk
F.1u9) S
~fz 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 CnZEBAU BKb#\(95* 受激发射损耗效应 mf{M-(6' }S?"mg&V 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 xfI0P0+ rWDD$4y
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Rf>)#hn% JN` $Fq+ 文件信息 #ley3rJW] A?}[rM
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C#yRop_d]o =H;'.!77Hx 进一步阅读 yFb"2 • Simulation of Multiple Light Source in VLF E"S#d&9 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy |3T2}oh rr G8%VL^;O*5 市场图片 2@
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