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摘要 t[;-gi,, pj7al;
;^JMX4[ L_T+KaQCH 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 p%iZ6H>G P#3J@aRC 任务说明 Z;NaIJiL- KCpq<A%
W)Mz1v #s gc I<bY 多重光源 '_Q';T_n99 3rMi:*? D?dS/agA -p0*R<t 螺旋相位板 )Pubur %, $ r-rIW5\
[ Y{ daCkjDGl\ 探测器插件 hKhad8 w('}QB`xad
'A3*[e|OS #lik: ? 参数运行 [OPF3W3z b7+(g[O
Jj0:p" )l(DtU!E 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: a;a1>1 g`Q!5WK* Usage of the Parameter Run Document yzl}!& E -ert42fN 非时序建模 'xG{q+jj' J!|R1
?.-+U~ <Vt"%C 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 U)iBeYW: +2p}KpOsL Channel Setting for Non-Sequential Tracing iZ/iMDfC XR<g~&h 总结 – 组件… ?b}e0C-a sUQ
Q/F6
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V@y&n1?6 pI.8Ip_r 系统观感 fGA#0/_` t+pA9^$[`
Z:<wB#G e NH9`Aa S|KUh|=Q 发射&损耗激光 =j20A6gND ]R!YRu
pVzr]WFx 4$mtc*tzT 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Gr}NgyT<!D K:VZ#U(_ A42!%>PB 3D STED 轮廓 $Fi1Bv) (7&b)"y
>T:0 &Cm]*$? 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 W lW%z(RC |+[Y_j 受激发射损耗效应 N9*QQ0 {:\LFB_ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 Q.3:"dT 2qV oe}F
8}AWU 4hfq7kq7( VirtualLab Fusion 技术 rR/{Yx4 =w:)AWZ
CGb4C(%-7 /C<p^#g9. 文件信息 ZCBF&.! @)!N{x?
`}L{gssv YRv96|c, 进一步阅读 ^ rUq{ • Simulation of Multiple Light Source in VLF z
yp3+| • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy %] :ZAmN Ejf5M\o 市场图片 QctzIC#;k #,1)@[
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