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摘要 _4x[}e7KF dBi3ZCAF
o<eWg PPIG?fK) 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 II f >z_m pCud`
:o" 任务说明 "}y3@ M^ /=O+/)l`
Dv\:b* E]e[Ty1 多重光源 J*W;{Vty Y9c9/_CSj B39PDJ]hu \T#(rt\j 螺旋相位板 c )P%O }E\+e!'!2
4s+J-l 5eZg+ O 探测器插件 2%No>w}/2 nR|uAw
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7f^[+ 参数运行 "Qm~;x2kB A`ertSlbhe
2K7:gd8Ru =S7C(;=4 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: J&0wl]w|O% m{=~|I Usage of the Parameter Run Document R~mMGz jwE(]u 非时序建模 U3R`mHr0 BtBt>r(*
dUVTQ18F j$ i8@] 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 \#*;H|U.x -,CndRKx Channel Setting for Non-Sequential Tracing 'H-YFB$l ba:du
|Ec 总结 – 组件… LYo7?rp >IydXmTy
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nhaoh!8A6 ve/6-J!5Y. 系统观感 vWfef~}~ aNf3 R; *
sn-+F%[ (Y@|h%1W :s5<AT Q 发射&损耗激光 N#-\JlJ) )ZT0zIG
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aF nf@u7*#6 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 ?ut juMdl rVW'KN Vy*Z"k 3D STED 轮廓 S{|)9EKw iKTU28x
Dve5m= 745V!#3!M
注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 :s985sEv #)eJz1~ 受激发射损耗效应 Z8_gI[Zn X{5 DPhB, 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ><[. `-`iS?
%l P bM_(`]&* VirtualLab Fusion 技术 ZpBH;{., 6_
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&x5ZEe4 s3%8W==rBW 进一步阅读 `lOoT • Simulation of Multiple Light Source in VLF V zx(J) • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy &H>dE]Hq, =_:L
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