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摘要 ~C;1}P%9x CHZjK(a
\Gzo^w gp?|UMA9. 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ,:G3 Y
) }zK/43Vx 任务说明 _jhdqON6E 9S_N*wC.
HJV8P2f8` pbM"tr_A{ 多重光源 ZJ|@^^GcL 9F*],#ng 8N58w)%7` :zL.dJwa 螺旋相位板 ^Z9v_qB 0xNlO9b/
Sn_zhQxG 1|PmZPKq9n 探测器插件 O8J:Tw}M* (ex^=fv
cuw3}4m% qtv>`:neB 参数运行 c=-2c&=& H=7z d|W
1f.xZgO/2 $_.m< 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: .QhH!#Y2D l5jW`cl1 Usage of the Parameter Run Document R+s_uwS X>
*o\ 非时序建模 Gn
]%'lrg' tv_Cn
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>VAZ^kgi MKuy?mri~ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 .%@=,+nqz LqHeLN Channel Setting for Non-Sequential Tracing (5"BKu1t jaoGm$o>"F 总结 – 组件… GC3:ZpV` Oc]&1>M
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biFN]D F7(~v2| 系统观感 }}GBCXAf_ Xcq9*!%o
n},~2 =f)S=0U F YLlw:jN 发射&损耗激光 r|Y|uv0 PAe2hJ
':7%@2Zo -S=Zsr\ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 ZS uMQ32 mf26AIlkQ dkV%Pyj 3D STED 轮廓 7p?6j)rj @"}dbW <DV
J! 4l-.- f77uqv(Y 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。
,i2%FW B;8YX>r 受激发射损耗效应 JH~v e pGi "*oZD 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 @= c{GAj ^i{B8]2,
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J {k EX>|+zYL VirtualLab Fusion 技术 r\Wp\LfY&{ {Izg1N
'JEZ;9} h^P>pI~ 文件信息 `8F%bc54iw FhB^E$r%
r'hr'wZ 9p!V?cH#8 进一步阅读 x5m
.MQ J • Simulation of Multiple Light Source in VLF O.=~/!( • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy Gvt.m&_ xPh%?j?*v 市场图片 xZ@H{): vi6EI
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