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摘要 >dXB)yl 9SXpZ*Sx
C5Mpm)-% (t5vBUj 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 VFq7nV/O baGV]=j 任务说明 W&HxMi T?CQgVR
PZj}]d ` R)-~5"}~ 多重光源 4kR;K!@k xVTl #vc!SI =.l>Uw! 螺旋相位板 >M^:x-mib }\1V%c
zXk^ugFy oJ|m/i) 探测器插件 ~MP/[,j` &yI>A1
+_jM$?:F} tMXNi\Bj 参数运行 lT~WP)
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KN&|&51p} ErFt5%FN.O 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: wbI1~/ /J9Or{#r Usage of the Parameter Run Document ru|*xNXKgC ~du U& \ 非时序建模 0}po74x*r qRz /$|.
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R' 4UND;I& 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 T7o7t5* iiWpmE<, Channel Setting for Non-Sequential Tracing wk'&n^_br L-zU%`1{M 总结 – 组件… tKds|0,j| y
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#w8.aNU+] "<f?.l\+ 系统观感 &.PAIe. t_Rj1U
s(e1kk}" K3h"oVn m"6K_4r] 发射&损耗激光 j?g#8L;W\w ):A.A,skf
s,l*=< ^:,wk7 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 A,(9|#%L D- O{/ u9u'5xAO 3D STED 轮廓 }SyK)W5Y TtQd#mSI\
l.Z+.<@ <I 0om(P 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ?6L8#"= de[NIDA;` 受激发射损耗效应 L$@+'Qn@: Dtyw]|L\H 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 "L8Hgwg -KfMKN~
{xTh!ih2- WP=uHg VirtualLab Fusion 技术 %?F$3YN, @\>7
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fZ^ad1o B|{E[]iK 文件信息 lhf5[Rp !1A< jL
_'^_9u G 0kw) -)= 进一步阅读 Vn\jUEC • Simulation of Multiple Light Source in VLF ^g"p}zf
L" • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy ULs'oT)K; $ub0$S/Hu 市场图片 7) af zZey
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