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摘要 @Q=P6Rz
{S LE"t'R
96&Y hjgxCSp 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 oiS>:de%tc DsY$ 任务说明 8#S}.|"?F qC%[J:RwF
P 3CzX48^ ``:AF: 多重光源 U;_b4S: LcA~ a<_ LD~s@}yH> aC&ZV}8of 螺旋相位板 -C7IUat< P0En&g+~
?rD`'B 6#JdQ[IP6 探测器插件 R`RLq1WA B f_oIc
nA\9UD<G. f.o,VVYi 参数运行 -%U 15W; Tu'/XUs;k
5nGDt~a 8"#Ix1# 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ?`nF"u> g 36\%L Usage of the Parameter Run Document }Ot
I8;> _PPW9US{ 非时序建模 jQKlJi2xu fDn| o"
^Fl6-|^~ )m-l&UK 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 Q/%(&4>'y `FP)-^A8 Channel Setting for Non-Sequential Tracing 6T}bD[h4? 5PJB<M_m: 总结 – 组件… :\*<EIk( }+L!r53g6
r~sx]=/ R?Dbv'lp>
93Yo}6> QL>G-Rp 系统观感 G36}4 (;V=A4F-D
0.}Um ,_ XDCu @ |EJ&s393& 发射&损耗激光 S^GB\uJ >A$J5B>d
s<I[)FQVr +$#YW5wy 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 qIwI]ub~ sOJH$G3O _jw A_ 3D STED 轮廓 8+&] q#W3 No)v&P%
7L[HtwI gc:qqJi)X 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Ul?Ha{W t5z6{` 受激发射损耗效应 J~5VL |ca gY],
(*v 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 5#zwdoQ 2kTLj2@o,
.,:700n+^ /;M0tP VirtualLab Fusion 技术 R|T_9/#) %C=
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h:[PO6GdX 进一步阅读 D-.XSIEMu • Simulation of Multiple Light Source in VLF B.&ly/d • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy eR(PY{ Q)}sX6TB 市场图片 rN)T xH&*p "Hmo`E B0
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