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摘要 dAkJ5\=* QssU\@/Q u#r[JF9LP U,2H) {l/ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 FvVR \a Xah-*]ET 任务说明 +o[-ED LZF%bJv 9~ JeI / ZxvBo4>tH 多重光源 rIJv(&l R-lpsvDDL2 \mGok<b4 W34_@,GD 螺旋相位板 I5mtr h}SP` x}B_;&>&"_ S?K x:] 探测器插件 3tu:Vc.:M "B3&v%b Q$XNs%7w5, A4 参数运行 !Pf6UNN' tTcff9ee Iq["(!7E5 H{CiN 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: <2,NWn. |Ta-D++]' Usage of the Parameter Run Document ,!7\?=G6}v !)-)*T 非时序建模 UZJ<|[ uZhY)o*]@ :HW\awv J_eu(d[9 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 yi&6HNb 3<R8_p Channel Setting for Non-Sequential Tracing +]dh`8*8>1 vzH"O= 总结 – 组件…
A\:u5( ]21`x lV
M)'m V AnP3: f@7HVv& o>i@2_r\&H 系统观感 unD.t *-\qO.4\ Xdl7'~k Xt9vTCox Sk7sxy<F' 发射&损耗激光 gUWW}*\ U tQWjNP~ sEzl4I +Z=%4 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 e<+$E%"7hS -,a@bF: l?<DY$H
0 3D STED 轮廓 f(UB$^4 j{&$_ L"Dos + x +]ek
注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 yE{\]j|Zf ^Gwpx+ 受激发射损耗效应 Y?#aUQc FaQz03N\ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 aE
2= twP%+/g]< 2|\WaH9P SbXV'&M2AT VirtualLab Fusion 技术 !D|c2
f)1*%zg% w`I+4&/h L}= t"y 文件信息 zGaqYbQD Oj8xc!d' Z>PS>6 )<(3 .M 进一步阅读 j.kv!;Rj= • Simulation of Multiple Light Source in VLF wJF(&P • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy YkF52_^_ 3g87i r 市场图片 ~B\O{5W $bFH%EA. tSVU,m
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