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摘要 _Adsq8sFW
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31}W6l88c /U*yw5 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 uyT/Xzo3 0H[L S 任务说明 >^3zU FH*RU1Z
}bMWTT Df@/cT 多重光源 .pvxh|V uV~e|X
"9s uTGcQs} H/J<Pd$p 螺旋相位板 a)S7}0|R GuO`jz F
=M<z8R RH1uVdJ1 探测器插件 wL2XNdo}< ,4Y*:JU4
QlD6i-a Q4wc-s4RN 参数运行 *48IF33&s ` X}85
<*Y'lV El6bD% \G 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: /2@["*^$ ]MAT2$"le Usage of the Parameter Run Document C4NRDwU|. CgnXr/!L 非时序建模 Ro r2qDF (X}@^]lpa
(1){A8=?o J&6:d 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 HC7JMj CLN+I'uX0 Channel Setting for Non-Sequential Tracing (
v@jc8y >&Fa(o;* 总结 – 组件… rkYjq4Z@ B*@6xS[IL
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QIV%6q+*R r(`nt-o@ 系统观感 - DL"-%X. np6HUH
k^%_V|&W/( ',mW`ZN Fu)Th|5GZ 发射&损耗激光 ax@H"d&
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%LM ~7SH4Cr 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 &KqVN]1+^ +t]Xj1Q U:lv^QPG 3D STED 轮廓 nq;#_Rkr z[&s5"
qY(:8yC36 zWIeHIt 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 }<[Db}?9 +Me2U9 受激发射损耗效应 rsF:4G"% c> G@+ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 8$}OS- PZM42"[&
7g6RiH} Y<LNQ]8\G VirtualLab Fusion 技术 .JAcPyK^ _CdROo6I
Iql5T#K+ 0BTLcEqgZ 文件信息 ]\;xN~l 3"rkko?A
Y}.Ystem F?4Sz# 进一步阅读 I/s.xk_i • Simulation of Multiple Light Source in VLF $qm~c[x% • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy }uQ${]&D 3g'+0tEl 市场图片 >q(6,Mmb f7+Cz>R
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