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摘要 .`N&,&H Hh;o<N>U
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Zv1/J}+ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Nxt z1 2k""/xMF' 任务说明 )pt#Pu
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q"^T}d d, *}`D2_uP 多重光源 Ja6PX P]' ~bk+JK- > syLpnNx= AVv 8Hhd 螺旋相位板 H;eOrX{GT &8wluOs/5
:>otlI<0t {VrjDj+Xy 探测器插件 .9;wJ9Bw[ at `\7YfQp
? v2JuhRe %]i("21 参数运行 v5o@ls `JL&x|q o
VWa;;?IK X>y6-%@ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: gcfEJN4' ^iq$zHbc0u Usage of the Parameter Run Document WH^rM`9 j8Csnm0 非时序建模 wsNM'~( 7 V+rQ
P*;zDQy ^d2bl,1 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ^yB>0/{)z w oS I
2i Channel Setting for Non-Sequential Tracing Z,osdF x GHS 总结 – 组件… WSW,}tFp" 4h[^!up.7
/P/S0 c);(+b
7 n=fB#!*3 "ujt:4p@ 系统观感 <ZM8*bqi M6b;
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}Myi0I< <2a7>\74E0 jreY'y: 发射&损耗激光 'j+J?Y^ :A{ US9D
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=K)au$BE| 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 4V`ypFme 85fBKpEe `_;VD?")*l 3D STED 轮廓 Wh)QCp0|n i+V4_`
2Xm\; 7 m{bw(+r 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 b)A$lP%` F_$ K+6 受激发射损耗效应 uz1t uX_ 7='M&Za 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ;Vad| - %@{);5[
eFPDW; K/y#hP VirtualLab Fusion 技术 'lU9*e9 IdlW[h3`[
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}cll? 2 ]~z2s;J{/ 进一步阅读 wL2d.$?TEg • Simulation of Multiple Light Source in VLF > @ulvHL • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy I hvL2zB xcz1(R 市场图片 =J,aB p $o`N% ]
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