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摘要 *QWOWg4w C96*,.j~'
_[rQt8zn !G[%; d 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 /5"T46jD $ (xdF 任务说明 H
lM7^3(& ?E+f<jol
);JWrkpz mI DVN 多重光源 \xl$z*zI lVq5>:'}^; kRwUR34yc Ee7+ob 螺旋相位板 GH-Fqz uKXD(lzX
GiM-8y~ M&29J 探测器插件 ];6955I! czu9a"M>X
NyRa.hgZ; z#PaQp5F 参数运行 3Og}_ 3<M yb
Zr2T^p5u !vJ$$o6# 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: |?{V-L cAwqIihZ Usage of the Parameter Run Document w}OBp^V^ l5VRdZ4Uf 非时序建模 46e?%0( dm=?o
uQx/o^ S ;rd0+J 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 *VJ ISJC zng.(]U/?H Channel Setting for Non-Sequential Tracing *U$]U0M *<67h*|) 总结 – 组件… =M*pym]QSY '1b)(IW
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P/1YN #;^U W 系统观感 3~3tjhw;]9 ak|
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T!y 9v5 W3>9GY90R $6*Yh-"g 发射&损耗激光 \a|~#N3? w5PscEc
h~9P34m SZ[?2z 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 nM.g8d K |k*bWuXgLs l P=I0A- 3D STED 轮廓 |36%B7H @M<qz\
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Wj|W B*B 3'0vLi 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 =gJ{75tV3 62'9lriQ 受激发射损耗效应 >}~[ew wH@S$WT 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 Fs4shrt M_%KhK
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zv 'R-\6;3E>9 VirtualLab Fusion 技术 F::Ki4{jJ juF=ZW%i
8g_kZ^<[ 6AY(/N8V 文件信息 ,T
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+3zQ"lLD^ YV|_y:- 进一步阅读 g7hI9(8+ • Simulation of Multiple Light Source in VLF ,|VLOY^ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy :^{KY(3 0H4|}+e 市场图片 #V/{DPz viYrPhH+z
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