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摘要 c46-8z$ >(a35 b$
>b2!&dm I9qZE=i 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 o664b$5nsI pL{oVk#, 任务说明 uluAqDz` ~7ZZb*].(
N0w?c 5> HZ'rM5Kq 多重光源 ,A` |jF 95'+8*YCY =8 @DYz' 8HKv_vl 螺旋相位板 GL O3v.
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L/jaUt[, ;B 8Q,.t>x 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Q O =5Q \|S%zX Usage of the Parameter Run Document q{&c?l*2 ~o_JZ: 非时序建模 phH@{mI 4ekwmw(ox
nBk&+SN k'O.1 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 %l!A%fn( ;'{7wr|9 Channel Setting for Non-Sequential Tracing =?C < |