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摘要 %S$P+B?
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<Ni]\-* 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术，以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中，两束激光—一束正常，一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应，与通常的显微镜技术(例如，宽视场显微镜)相比，后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中，介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应，在焦点区域采用等效孔径。 D?X97jNm B0Xn9Tvk 任务说明 A3Ltk 2< N-_2d*l 3
 ) ae/+Q8 HbZ3QW P 多重光源 F
=d L#@^ Y,>]) R[4  i]9SCO
c @2s!bs 螺旋相位板 Dugr{Y/0 7th&C,c&
 ;rd!kFd#bq 3YA !2 探测器插件 .i[Tp6'%, V ,
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 T'f E 4}rY ,+zLFQC0@ 参数运行 2E=E!Zwt_
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$n (@hT>? 为了实现焦点区域的z-扫描，可以执行参数运行。使用此工具，用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息，请参阅： " F)7!e E
hd* Usage of the Parameter Run Document u )
fbR w;>]L.n 非时序建模 YBHm d
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 <t]i' D( K o?/N4$&5l 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后，用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时，将对活动光路进行初步分析（通过所谓的Light Path Finder）。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 N \A)P b>I -4 Channel Setting for Non-Sequential Tracing -$[=AqJXp; I:AlM ? 总结 – 组件… '<4OA!,^)
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7m@pdq5Ub 系统观感 ZN G.W0{p
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 t2tH%%Rs &$vDC M4 R1J" QU 发射&损耗激光 >.J68 x
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>|2JN<& 光在焦点区域中的传播表明，来自损耗激光的光会产生环形光斑，其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争，这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 'fawpU|h D
zl#[|q X-~ Q 3D STED 轮廓 HHa7Kh|-H
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ruF+X) 注意：由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应，我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 B]Yj" LM) *w>
/vu 受激发射损耗效应 I2K52A+ klJDYFX=HK 为了近似饱和损耗的影响，我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓（600nm 直径，25% 边缘）。通过系统传播回探测器平面表明，由于这个过程，光斑变得非常小。 U5izOF c
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[J-r*t"! 进一步阅读 6sB!m|zm]:
• Simulation of Multiple Light Source in VLF vk;>#yoox • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy .F)--% "eh"' Z 市场图片 eQ9{J9)?
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