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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 hU4~`g p  
     o#+!H!C.O  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 >w*"LZjTTK  
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    1. 案例 2ag]p  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 | z('yy$  
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    1. 系统构建模块 =)bZSb"<"  
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     Ri-I+7(n!  
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    2. 组件连接器 h]zx7zt-  
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    几何光学仿真 fI BLJ53  
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    以光线追迹 :#gz)r  
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    1. 结果：光线追迹  !c*^:0  
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          J%[K;WjrZJ  
    快速物理光学仿真 VyI%^S ]sS  
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    以场追迹 .<j8>1  
     /`'50C j  
    1. NA=1.4时的光栅成像 7C 4Njei"  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 n@%'Nbc>b  
       cw^FOV*  
    HML6<U-eS  
    Tok"-$`N  
    3. NA=0.5时的光栅成像 :}GxJT4  
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