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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 dh.{lvlX|  
     ~ ^D2]j  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ,qo^G0XO  
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    1. 案例 9+$IulOvk  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 }Y|M+0   
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    1. 系统构建模块 tIV{uVM[|D  
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    2. 组件连接器 n%G[Y^^,  
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    几何光学仿真 yPe9KN_  
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    以光线追迹 08{^Ksg  
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    1. 结果：光线追迹 ->o[ S0  
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          q*,HN(& l?  
    快速物理光学仿真 3TLym&  
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    以场追迹 =hd0Ui>x  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 TQ :e! 32  
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    KKb7dZbt<  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 kOdpW  
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    #@5VT* /7  
    3. NA=0.5时的光栅成像 GUD]sXSj  
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    F(Zf=$cx  
     
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