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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    在线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 vtw6FX_B  
     k,'L}SK  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 A9f)tqbc  
    +g` 'J$  
    I Y2)?"A  
     kgnmGuka  
    1. 案例 #,7e NM"  
    iTFdN}U  
     %70~M_  
      eAXc:222  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 =+ytTQc*ot  
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    1. 系统构建模块 qDv93  
    AB F"~=aL  
     <Fi%iA  
    {XNREjhm  
    2. 组件连接器 3^R&:|,  
    $>GgB`  
    %1H[Wh(U  
          i 7_ _  
    几何光学仿真 )=5ng-  
     ~Q?a|mV,  
    以光线追迹 Av"R[)  
     7N-w eX  
    1. 结果：光线追迹 'qjeXqGH$  
    (IC]?n}  
    {U!8|(  
          R#2t)y  
    快速物理光学仿真 qp/v^$EA  
     \]=7!RQ\  
    以场追迹 FO!]P   
     *"D3E7AO  
    1. NA=1.4时的光栅成像 KHgBo}6  
    2Tfz=7h$  
     ?mWw@6G,  
    ^SxY IFL  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 b+@JY2dvj  
       w S4.8iJ  
    %%NlTE8*  
    c/zJv*}x ?  
    3. NA=0.5时的光栅成像 hJDi7P  
       x*?x=^I{  
    an|x$e7|?  
     
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