切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 467阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 m* 3ipI{h  
    (wu'FFJp#  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 "}()/  
    It3k#A0  
    l%+ &V^:  
    z</C)ObL  
    1. 案例 gP>pb W_  
    4U dk#  
    @|A!?}  
    ZX/FIxpy  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 ;Z*rY?v  
    A;8kC}  
    1. 系统构建模块 >lIzeEW#  
    6%V:Z  
    <y7{bk~i  
    \PS]c9@,rc  
    2. 组件连接器 q{h,}[U=  
    3$"V,_TBZ  
    #`y[75<n  
    w10~IP  
    几何光学仿真 du$lS':`  
    h1S)B|~8  
    光线追迹 [pU(z'caS  
    4D&L]eJ  
    1. 结果:光线追迹 ;?u cC@  
    y],op G6  
    6wpW!SWD  
    )q{qWobS0  
    快速物理光学仿真 8(`e\)%l0  
    ^?{&v19m  
    以场追迹 UG\2wH_  
    zWo  
    1. NA=1.4时的光栅成像 IhzY7U)}T  
    QyCrz{/  
    |ufT)+:  
    |6^a[x3/U  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 ~ AD>@;8fG  
       ;40Z/#FI  
    yLf9cS6=  
    62nmm/c  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Pfs_tu  
       4U\>TFO  
    $cn8]*Z =  
     
    分享到