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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 #qrZ(,I@n  
     X1&Ug ^  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 g6{.C7m  
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    1. 案例 M.$Li#So,  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 jWJq[l  
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    1. 系统构建模块 "X0"=1R~  
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    2. 组件连接器 QEKSbxL\W  
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    几何光学仿真 HM57b>6  
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    以光线追迹 %E#OUo[y/  
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    1. 结果：光线追迹 5v <>%=  
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    快速物理光学仿真 Ri4t/H  
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    以场追迹 nv&uhu/q  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 i)9}+M 5  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 L1=3_fO  
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    u>c\J|K_V  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ^?PU:eS  
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