切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 690阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6441
    光币
    26350
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 D EL#MD!  
     g Xvuv^  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 s7<x~v+^  
    oToUpkAI  
    oxb#{o9G  
     Jn. WbS  
    1. 案例 Q%(LMq4UG  
    .3&zP  
     `|;R}"R;  
      &/4W1=>(  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 5TVDt  
     {|6(_SM|  
    1. 系统构建模块 Qd 1Q~PBla  
    EOjo>w>  
     #!KbqRt  
    XU .FLNe  
    2. 组件连接器 8|`4D 'Ln  
    B`} ?rp  
    Mjrl KI}f/  
          %J?;@ G)r  
    几何光学仿真 keEyE;O}u  
     g&H6~ +\  
    以光线追迹 |Gb"%5YD  
     B]q &?~  
    1. 结果：光线追迹 J A ]s  
    S\ ~Wpf  
    ]C-hl}iq  
          "8aw=3A  
    快速物理光学仿真 $cFanra  
     # &o3[.)9  
    以场追迹 ojzO?z  
     G@anY=D\EB  
    1. NA=1.4时的光栅成像 !12W(4S5  
    lN)U8  
     b/ h,qv  
    Ft>Abj,6  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 NWSBqL5v   
       e;R5A6|  
    ~fn2B  
    H3}{]&a  
    3. NA=0.5时的光栅成像 'Uew(o  
       Nrva?W_i  
    LZV  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表