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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 9y5nG  
     mi$*,fz  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 e(sV4Z~  
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    1. 案例 7%Ii:5Bp  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 +G<9|-  
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    1. 系统构建模块 ,[0rh%%j  
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    2. 组件连接器 @mrGG F  
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    几何光学仿真 h> A}vI*:  
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    以光线追迹 \hT=U*dMR  
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    1. 结果：光线追迹 Um\_G@  
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    快速物理光学仿真 $mp'/]  
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    以场追迹 jFMf=u&U  
     .ITR3]$  
    1. NA=1.4时的光栅成像 .~Z@y#  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 wX*F'r"z  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 =ADdfuKN  
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