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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 *~%QXNn`  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ={k_ (8]  
    O,_k.EH  
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    1. 案例 N2Q b+  
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     t wr-+rm2  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 Ja[7/  
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    1. 系统构建模块 }7+`[g  
    $a.,; :  
     Wi"3kps q  
    6-t:eo9  
    2. 组件连接器 *a2-Vte  
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    iQ8T3cC+  
          6Z>G%yK  
    几何光学仿真 {;^GKb+  
     4SNDKFw  
    以光线追迹 (p!w`MSv  
     A2p]BW&  
    1. 结果：光线追迹 >MLP mER  
    M'sq{K9  
    ('oA{,#L  
          :\cid]y3  
    快速物理光学仿真 4%"Df1 U  
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    以场追迹 9?Q0O\&uP  
     ,\'E<O2T  
    1. NA=1.4时的光栅成像 Cb i;CF\{  
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     pp1kcrE\M  
    pdq5EUdS  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 Gg# 1k TK  
       I2^@>/p8\(  
    VxqoE]Dh  
    xWxgv;Ah  
    3. NA=0.5时的光栅成像 B.F~/PET  
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    t+IrQf,P[  
     
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