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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 "iK'O =M  
     >k=@YLj  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 MOB'rPIUI  
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    1. 案例 3y:),;|5  
    [6.<#_~{  
     *(i%\  
      KlBT9"6"  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 *(/b{!~  
     ]:?hU^H]<  
    1. 系统构建模块 +Bt%W%_X  
    NP~3!b  
     tI9p2!  
    +8|Xj!!*}  
    2. 组件连接器 V!+<  
    0BjP|API  
    LT,zk)5  
          P$clSJW  
    几何光学仿真 gMZrtK`<  
     R \y qM;2  
    以光线追迹 6BXZGE  
     wb]Z4/j#  
    1. 结果：光线追迹 qCm%};yt  
    '=K~M  
    ~1,$  
          "zFTPL"  
    快速物理光学仿真 iZ ;562Mo  
     !g~u'r'1  
    以场追迹 &oK&vgcj  
     8<E U|/O  
    1. NA=1.4时的光栅成像 poqNiOm4%  
    sN1I+X  
     2Aa  
    "*d%el\63  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 HXqG;Fds(  
       Q b5vyV `  
    {qSYe!`  
    H3ob 8+J  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ET6}V"UD  
       2)q$HUIX  
    OF! n}.O(  
     
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