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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 qMe$Qr8  
     x, ^j=n  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 mMvt#+O  
    5)GO  
    H?>R#Ds-  
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    1. 案例 G? "6[w/p  
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     _ZfJfd~  
      y++[:M  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 XaV h.  
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    1. 系统构建模块 Q=%1@ ,x"  
    Q0_UBm^f  
     =q( ;g]e  
    \]W*0t>s  
    2. 组件连接器 [huS"1  
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          Vx^+Z,y&QP  
    几何光学仿真 L= fz:H  
     : YU_ \EV  
    以光线追迹 C0X_t  
     q]Cmaf(  
    1. 结果：光线追迹 V\"x#uB  
    r-+.Ax4L"  
    +tNu8M@xFo  
          wYJ.F  
    快速物理光学仿真 uf (`I  
     shOQ/  
    以场追迹 M3350  
     ^6 F-H(  
    1. NA=1.4时的光栅成像 !K#Q[Ee  
    #$QC2;/)F  
     X9#;quco@  
    r(IQ)\GR  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 fYR*B0tu  
       A7|!&fi  
    p*8LS7UT  
    Lmx95[#@a  
    3. NA=0.5时的光栅成像 y8uB>z+#+;  
       T<"Hh.h  
    y1!c:&  
     
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