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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 jk K#e$7  
     Gee~>:_Q{J  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ?_8%h`z  
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    1. 案例 ^v ]UcnB0  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 4=~ 9v  
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    1. 系统构建模块 qo)Q}0  
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    2. 组件连接器 | A3U@>6  
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    几何光学仿真 txj wZ_p  
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    以光线追迹 W\&WS"=~  
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    1. 结果：光线追迹 *~"zV`*Q  
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    快速物理光学仿真 fEHh]%GT`  
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    以场追迹 9 %D$T'K  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 `l+ >iM  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 =Dh$yC-Zr  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 hq5NQi` %  
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