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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 Lzy Ix!S  
     U7le> d;L  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 L6IF0`M<,I  
    Mi2l BEu,  
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    1. 案例 $hE,BeQ  
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      02 6|u|R  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 _1U7@v:<@  
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    1. 系统构建模块 J~(M%] &k^  
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    2. 组件连接器 jO+#$=C  
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    几何光学仿真 5"o)^8!>  
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    以光线追迹 ac< hz0   
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    1. 结果：光线追迹 2j( ]Bt:  
    c</u]TD  
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          AW< z7B D  
    快速物理光学仿真 :rhh=nHgn  
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    以场追迹 }"o,j>IP  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 DP<[Uz&  
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    dp'xd>m  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 \qB:z7I2  
       jZLD^@AP  
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    ,a1 1&"xl  
    3. NA=0.5时的光栅成像 (TQhO$,  
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    ;0 No@G;z  
     
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