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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 x3=SMN|a  
     Dp;6CGYl?  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 #D Oui]  
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    1. 案例 BA`K,#Ft7  
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      O.'\GM  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 [_3L  
     T@on ue7  
    1. 系统构建模块 :cE~\B S&  
    B&z~}lL  
     lm(k[]@  
    Eh.NJI(  
    2. 组件连接器 z 5IdYF?  
    w7Vl,pN,  
    u\}"l2 r  
          j%Z%_{6Ds*  
    几何光学仿真 !WQS.&  
     8i?:aN[.1b  
    以光线追迹 u|M_O5^  
     Nr0}*8#j  
    1. 结果：光线追迹 G>j4b}e  
    sEEyN3 N  
    m7.6;k.  
          bjB4  
    快速物理光学仿真 "' ]|o~B  
     = GZ,P (  
    以场追迹 LVxR *O  
     vC%8-;8{H  
    1. NA=1.4时的光栅成像 9\a;75a  
    ^Z:qlYZ  
     ^n<o,K4\}  
    ~Jx0#+z9V  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 4Y4QR[>IU3  
       H 5'Ke+4.e  
    :B5M#D!dO  
     j#YPo  
    3. NA=0.5时的光栅成像 a X:,1^  
       <~-cp61z;  
    S3.76&  
     
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