切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 699阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6441
    光币
    26350
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 u1y c  
     V@jR8zv|_  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 w < p  
    Rv=(D^F,  
    #vhxW=L`=  
     mA5xke_)  
    1. 案例 qyMR0ai-  
    |H&2[B"l  
     _20nOg`o  
      |F36^  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 "Vp+e%cqG  
     TY"=8}X1  
    1. 系统构建模块 sygAEL;.  
    \AOVdnM:  
     qw[)$icP  
    d$<HMs:o@  
    2. 组件连接器 ,.u7([SGm  
    ![os5H.b#q  
    ^9eJ)12pK  
          ' jFSv|g+0  
    几何光学仿真 ZK))91;v  
     n~ \"W  
    以光线追迹 Y5fwmH,a-  
     E1:{5F5/  
    1. 结果：光线追迹 5haJPWG|'  
    ;5 cg<~t  
    79<{cexP  
          DPn]de:e  
    快速物理光学仿真 IbQ3*  
     %-?HC jT  
    以场追迹 g W'aK>*c  
      ^G{3x  
    1. NA=1.4时的光栅成像 m sS5"Qr  
    o Y_(UIa  
     _wp6rb:8!  
    Px&*&^Gf[b  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 y4s]*?Wz  
       k}y1IW+3  
    PgAC3%M6  
    3dNOXk, #  
    3. NA=0.5时的光栅成像 cYyv iR59#  
       $O,$KAC  
    #/t^?$8\\  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表