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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 b#I,Z+0ry  
     E{6ku=2F  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 t'F$/mx.  
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    1. 案例 _,^f,WO~  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 0 iSNom}m  
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    1. 系统构建模块 ;s3@(OnjZ  
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    2. 组件连接器 7h9oY<W  
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          3=]/+{B  
    几何光学仿真 rKPsv*w  
     *Iw19o-I  
    以光线追迹 -T+yS BO_3  
     ~b8.]Z^  
    1. 结果：光线追迹 Jur$O,u40l  
    ~(m6dPm$}m  
    h%:wIkZ/  
          N+SA$wG  
    快速物理光学仿真 P9\y~W  
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    以场追迹 ~=wBF  
     fo}@B &=4  
    1. NA=1.4时的光栅成像 D vEII'-h  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 dFeGibI{  
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    3I?yRE  
    \mN?5QCcE  
    3. NA=0.5时的光栅成像 (`n*d3  
       -GgV&%'a  
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