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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要  _I}L$  
     `J7Lecgo  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 2;(iTPz +  
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    1. 案例 0jZ{?  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 OFL+Q~~C  
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    1. 系统构建模块 FC- *?  
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    2. 组件连接器 {hq ;7  
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    几何光学仿真 3% 4Mq6Q`  
     ysT!^-&p  
    以光线追迹 qsRfG~Cg  
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    1. 结果：光线追迹 DW%K'+@M  
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          714nUA872  
    快速物理光学仿真 MdboWE5i  
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    以场追迹 nu%Nt"~[%  
     wQuaB6E  
    1. NA=1.4时的光栅成像 h \cK  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 @.@#WHde  
       7MJ)p$&  
    <21^{ yt1  
    T q; "_s  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Gz5@1CF  
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