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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 T|Sz~nO}f  
     SN(:\|f 2  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 e3"GC_*#  
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    Q}d6+C  
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    1. 案例 [0El z@.C  
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     ^]( sCE7  
      {3@f(H m  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 Dz:A.x@$*  
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    1. 系统构建模块 .C$S DhJ~  
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     VUxuX5B3M  
    $[T^ S  
    2. 组件连接器 *%7[{Loz  
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    几何光学仿真 z6]dF"N  
     U BzX%:A  
    以光线追迹 Fm_^7|  
     ? [l[y$9  
    1. 结果：光线追迹 /17Qhex  
    E^rKS&P  
    :f G5?])  
          _t|| v  
    快速物理光学仿真 =,$*-<p=3  
     t'|A0r$  
    以场追迹 L15?\|':Y  
     3p6QJuSB  
    1. NA=1.4时的光栅成像 Ck d@|  
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     "XlNKBgM  
    GPz0qK  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 i'OFun+-,  
       C-E~z{  
    jj_z#6{  
    .A<G$ db ?  
    3. NA=0.5时的光栅成像 0uV3J  
       g5M=$y/H  
    !iA 3\Ai"  
     
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