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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 H1&RI4XC  
     Q0>q:aj\  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 V.VJcx  
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     T*+A.G@L"  
    1. 案例 D^?_"wjW  
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     9rcI+q=E  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 .NnGVxc5*  
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    1. 系统构建模块 XwPx9+b6j  
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    2. 组件连接器 mx}E$b$<CY  
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    几何光学仿真 m =k%,J_  
     =x H~ww (D  
    以光线追迹 U ~1 SF  
     <[hz?:G"$  
    1. 结果：光线追迹 fA^SD"xf  
    p+<}Y DMb  
    ipZHSA  
          j-32S!  
    快速物理光学仿真 _9kIRmT{  
     *h:kmT  
    以场追迹 }\Z5{OA  
     W4vBf^eC  
    1. NA=1.4时的光栅成像 aQ|hi F}  
    m&Sp1=*Ejy  
     [`nY2[A$  
    F$yeF^\g  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 q%S8\bt  
       eP= j.$  
    ^:z7E1 ~  
    |!Ists  
    3. NA=0.5时的光栅成像 `~nCbUUee  
       [z+x"9l0!  
    ]o*$h$?s  
     
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