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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 :J}t&t  
     c~A4gtB=  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 |5I'CNi\  
    "Th$#3  
    IM=bK U  
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    1. 案例 qo+N,x9o  
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      JXiZB 8}  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 aYL|@R5;e  
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    1. 系统构建模块 `&M{cfp_  
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    2. 组件连接器 nM=e]qH  
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          78n=nHS  
    几何光学仿真 @J[6,$UVu  
     `Yc _5&"  
    以光线追迹 %v5R#14[n  
     #L crI  
    1. 结果：光线追迹 JGiKBm;  
    "Z,q?Fc  
    Vi! Q  
          < V\Y@Ei+  
    快速物理光学仿真 @#+jMV$g  
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    以场追迹 MFJE6ei  
     I4H`YOD%  
    1. NA=1.4时的光栅成像 F9c`({6k  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 VeiElU3  
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    m(D]qYwh  
    ,zcQS-e2  
    3. NA=0.5时的光栅成像 (J$\-a7<f  
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