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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光币
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 =k^Y?.  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 r\-uJ~8N  
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    1. 案例 1;Cyz)  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 _ 4U5  
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    1. 系统构建模块 AicBSqUke  
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    2. 组件连接器 qzKdQ&vO  
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    几何光学仿真 WrxP  
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    以光线追迹 gM u"2I5  
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    1. 结果：光线追迹 4~Vx3gEV:  
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          4C61GB?Vy  
    快速物理光学仿真 ~obqG!2m  
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    以场追迹 ZojI R\F^  
     =S+wCN  
    1. NA=1.4时的光栅成像 d iL +:H  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 j,lT>/  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 Ui_8)z _  
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