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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 Wm)-zvNY;  
     c.(Ud`jc  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 }KA-t}8  
    z|3`0eWIG  
    B:?#l=FL  
     ]l=O%Ev  
    1. 案例 AhvvuN$n%  
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     fW.GNX8  
      `10X5V@hP  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 &[5n0e[  
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    1. 系统构建模块 >*`>0Q4y  
    $5lW)q A  
     /v"6BU  
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    2. 组件连接器 5S%C~iB  
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          EO#gUv  
    几何光学仿真 (0E U3w?]  
     cy)k<?,  
    以光线追迹 L$1K7<i.  
     / R_ u\?k(  
    1. 结果：光线追迹 x.b; +p}=  
    {*QvC g?  
    J>=1dCK  
          +/y{^}b/  
    快速物理光学仿真 pi`;I*f/  
      Y*@|My`  
    以场追迹 3ppuQ Q  
     :E>&s9Yj?  
    1. NA=1.4时的光栅成像 iV?` i  
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     m[Z6VHn  
    WP0 #i~3*  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 `$S^E !=  
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    \O kc5;kB2  
    w`L~#yu  
    3. NA=0.5时的光栅成像 QXdaMc+Ck  
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