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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 @k[R/,#'[t  
     *f& EoUk}F  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ) [0T16  
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    1. 案例 ]f+ csB  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 ~P~  
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    1. 系统构建模块 5N%93{L  
    lY|Jr{+Ln  
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    2. 组件连接器 =]:>"_jN  
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    几何光学仿真 i4^o59}8  
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    以光线追迹 /pF `8$  
     sR/b$j>i3  
    1. 结果：光线追迹 =Umw$+fJr  
    c478P=g=5  
    Cvn#=6V3  
          sC9&Dgkk  
    快速物理光学仿真 pdE3r$C  
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    以场追迹 xg)v0y~  
     Eb=}FuV  
    1. NA=1.4时的光栅成像 V<Z[ nq  
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     [Q=dC X9%  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 g!-,]  
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    7Hm3;P.  
    =i~}84>  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Ei2'[PK  
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    YW{C} NA  
     
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