切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 618阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6374
    光币
    26015
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 EN;s 8sC!  
    ?]PE!7H  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 {Etvu  
    yU'<b.]  
    6w)a.^yx7  
    q1?}G5a ?  
    1. 案例 &ws^Dm]R  
    25{-GaB  
    D,P{ ,/  
    rc`}QoB)R  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 1V:I }~\  
    ,u_ Z0S M  
    1. 系统构建模块 Dbl+izF3  
    XDohfa _  
    )J{ .z   
    M)1Y7?r]  
    2. 组件连接器 F_F02:t  
    v8f1o$R  
    7-#   
    Ra/Pk G-7  
    几何光学仿真 #%7)a;'  
    +^|_vq^XR  
    光线追迹 b|oT!s  
    !QS j*)V#  
    1. 结果:光线追迹 '8w>=9Xl  
    Oe ~g[I;  
    "Tz'j}< 9C  
    |ya.c\}q  
    快速物理光学仿真 W`v$-o-  
    LY;Fjb yU  
    以场追迹 ->L>`<7(  
    e2qSU[  
    1. NA=1.4时的光栅成像 Z@,[a  
     G& m~W  
    L Q0e@5  
    GRh430V [  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 i93 6+[  
       [h63*&  
    5Mz:$5Tm  
    Q$(Fm a4a  
    3. NA=0.5时的光栅成像 rld8hFj  
       [ylRq7^e  
    OE*Y%*b  
     
    分享到