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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 Bu{1^g:  
     L/+KY_b:*  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 I k[{,p  
    [V2`t'  
    $D%[}[2  
     H)5V \  
    1. 案例 :~PzTUz  
    )a;ou>u  
     Cju%CE3a  
      &pk&8_=f  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 VNggDKS~K  
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    1. 系统构建模块 No(p:Snbo  
     W]aX}>0  
     ;Q{~jT  
    U%qE=u-  
    2. 组件连接器 QKAt%"1&  
    $p?TE8G  
    z{uRq A G  
          q"OJF'>w5  
    几何光学仿真 >I&'Rj&Mc  
     84|oqwZO  
    以光线追迹 q2U8]V U)  
     O&vE 5%x  
    1. 结果：光线追迹 Q[Xh{B  
    =,HxtPJ  
    lij>u  
          =TcT`](o  
    快速物理光学仿真 9cMQ51k)E  
     ob(S/t  
    以场追迹 ZPO+ #,  
     W5c?f,  
    1. NA=1.4时的光栅成像 R{R'byre  
    u.~`/O  
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    ab/^z0GT  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 a*GiLq  
       FQp@/H^  
    5+yT{,(5  
    4n 9c  
    3. NA=0.5时的光栅成像 9s9_a4t5  
       M%S.Z4D (0  
    PrwMR_-  
     
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