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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 _JOrGVmD  
     01}az~&;35  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 VI0^Zq!6R  
    G<OC99;8  
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    1. 案例 D oX!P|*  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 !}|n3wQ  
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    1. 系统构建模块 F2]v]]F!  
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    2. 组件连接器 x$d3 fsEE  
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    几何光学仿真 rlk0t159  
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    以光线追迹 IlG)=?8XZ  
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    1. 结果：光线追迹 }GJIM|7^  
    U*`7   
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    快速物理光学仿真 [>QV^2'Z  
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    以场追迹 #Mw|h^ Wm  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 E</Um M+ R  
    } NW^?37  
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    2%U)y;$m2  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 )QEvV:\  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 By(:%=.  
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