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摘要 UT~a&u d\e7,"L*Q
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iu**`WjI\ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }'r[m5T G;>
_<22 建模任务 $'W}aER =_j vk.
5tQ1fJze 具有高反射(HR)涂层的标准具 f>'Y(dJ'W "~UUx"Y
gVeEdo`$< Iff9'TE 图层矩阵解算器 y(R?
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f}guv~K =to=8H- "5cM54Z0 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 wf,7== 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 .xf<=ep 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 G!4(BGx& 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .4.b*5 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 2Q;9G6p 2r$#m* 更多的信息: &d7Z6P'`G :Xc@3gF 总结-组件 3_JCU05H} S"9zc
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cj11S>D Nn>'^KZNG 两条光谱线的可视化 keRE==(D ;lYHQQd!,
"~TA SX_? 精细vs.涂层反射率 j*xV!DqC bINvqv0v
=4d (b ; hsu{ey p 精细度vs.涂层反射率 fdONP>K[E (8_\^jJ
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RxP^l 内部谐振增强 TLehdZ>^ UGK*G y 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 P2Vg 4 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ybp -$e
iQ{G(^sZN 注意: 传输值取自艾里图案的中心 iR"N13 r'gOVi4t1* VirtualLab Fusion技术 F;^F+H C]Q8:6b
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