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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 XYS'.6k(  
    \A#1y\ok  
                          
    ZDD..j  
    neXeAU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Tneq6>  
    by'DQ 00  
    建模任务
    vKq^D(&cl  
    Z.W66\8~}^  
    z >YFyu#LF  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +2K:qvzZ  
    UOGuqV-  
    r'dr9"-{  
    2RqbrY n  
    图层矩阵解算器 G0`h%  
    &?uz`pv2  
    'WI^nZM  
    Mmo6MZ^  
    >iOzl wmG  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2u"7T_"2D  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 y.=/J8->  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 *?z0$Kz<,[  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 qS/V"|G(  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    -D N8Yb  
    Vo9F  
    更多的信息: xXY.AoO6  
    `} m Q  
    总结-组件 Q.9qImgN  
    1=|7mehL%  
    l" q1?kaVg  
    3#vinz  
    UWZa|I~:J  
    两条光谱线的可视化 <W`#gn0b6  
    :LWn<,4F&  
    J0 k  
    精细vs.涂层反射率 (faK+z,*6R  
    rUlS'L;$"  
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    \.f}W_OF  
    精细度vs.涂层反射率 4<lQwV6=  
    rrnNn'  
    ?\U!huu  
    内部谐振增强
    Nrah;i+H\o  
    !Oj)B1gc6&  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z2Zq'3*  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 -UZ@G~K  
    \eGKkSy  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 &(z fa&j|  
    O<j PGU  
    VirtualLab Fusion技术 }C  /]  
    YC=S5;  
    6cdMS[_SD(  
     
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