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摘要 m 8aITd8 dwDcR,z?a
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Urr@a/7 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ~N<4L>y< b[o"7^H 建模任务 ;<j0f~G` *Zt#U#
f;W|\z' 具有高反射(HR)涂层的标准具 |wH5sjT 59"UL\3
^/\Of{OZ- `$W_R[ 图层矩阵解算器 D-5VC9{ {<R2UI5m5
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N gm igsXQ e=B|==E10M 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Kx;eaz:gx 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 05b_)&4R 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 $}>+kHoT{ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 mLP.t%?# 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ]G5w6&d -*
WXMzr 更多的信息: <{V(.=11 amOnqH-( 总结-组件 4KIRHnaj SYCEQ5
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YjxF}VI~< GO`Ru 8 两条光谱线的可视化 4dO~C MvK !u
2+QY hdw 精细vs.涂层反射率 1(I6.BHW 62k^KO6Y
=&ks)MH- Y2n!>[[. 精细度vs.涂层反射率 fI{&#~f4C Sjvdirr
==3dEJS 内部谐振增强 d1AioQ9 :.Jf0 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 x[h^[oF0 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 D~hg$XzK
}1Gv)l7 注意: 传输值取自艾里图案的中心 i;/5Y'KZ QPx_- VirtualLab Fusion技术 'ig&$fz b 9 7GV2]-M
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