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摘要 XYS'.6k( \A#1y\ok
ZDD..j neXeAU Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Tn eq6> by'DQ 00 建模任务 vKq^D(&cl Z.W66\8~}^
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>YFyu#LF 具有高反射(HR)涂层的标准具 +2K :qvzZ UOGuqV-
r'dr9"-{ 2RqbrY n 图层矩阵解算器 G0`h % &?uz`pv2
'WI^nZM Mmo6MZ^ >iOzl wmG 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2u"7T_"2D 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 y.=/J8-> 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 *?z0$Kz<,[ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 qS/V"|G( 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 -DN8Yb Vo9F 更多的信息: xXY.AoO6 `}m Q 总结-组件 Q.9qImgN 1=|7mehL%
l"q1?kaVg
3#vinz UWZa|I~:J 两条光谱线的可视化 <W`#gn0b6 :LWn<,4F&
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k 精细vs.涂层反射率 (faK+z,*6R rUlS'L;$"
t4qej \.f}W_OF 精细度vs.涂层反射率 4<lQwV6= rrnNn'
?\U!huu 内部谐振增强 Nrah;i+H\o !Oj)B1gc6& 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z2Zq'3* 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 -UZ@G~K
\eGKkSy 注意: 传输值取自艾里图案的中心 &(zfa&j| O<jPGU VirtualLab Fusion技术 }C
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