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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 QW!'A`*x  
    [;2v[&Po  
                               ' Sl9xd  
    G6 GXC`^+  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 &@RU}DnvM&  
    .1}u0IbJ  
    建模任务     l/`Z+];  
    X@cV']#V  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 Jn&(v"_  
    ,Pl[SMt!  
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    图层矩阵解算器 ]s<Q-/X  
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     B}3s=+L@8  
    w0.#/6  
    { u;ntDr  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 R% ddB D\?  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Z8:iaP)  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 B (BWdrG  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 0wc+<CUW  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     !?KY;3L:  
    HO wJ 2L  
    更多的信息： '; qT  
    KsHMAp3  
    总结-组件 F'Wef11Yz  
    KLoHjBq  
    &)wQ|{P~k  
     79i>@u%  
    l lQ<x  
    两条光谱线的可视化 WjA)0HL(  
    h5Z%|J>;0  
      Z3I<  
    精细vs.涂层反射率 ]A_)&`"Cb  
    (+9@j(  
    >0f5Mjug  
    yvVs9"|0  
    精细度vs.涂层反射率 Qx {/izc  
    Ar>-xCT D  
    jtd{=[STU  
    内部谐振增强     fIFB"toiPE  
    \l#=p+x5  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^D\#*pIO  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 R(Z2DEt</  
    bZ0r/f,n$  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 MF=@PE][  
    f\Pd#$3  
    VirtualLab Fusion技术 q7X /"Dfx  
    {y :/9  
     Yj;$hV8j(  
     
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