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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 &E5g3lf  
    Fd9 [pU  
                          
    @?]RBX?a  
    b,1ePS  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 8$Y9ORs4  
    {V CWn95Z  
    建模任务
    \ta?b!Y),?  
    iSs:oH3l  
    3eQ&F~S  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 @_}P-h  
    mrtb*7`$  
    NyNXP_8  
    p9{mS7R9T  
    图层矩阵解算器 <x>M o   
    WOL:IZX%  
    d5:c^`  
    IyG}H}  
    )bscBj@  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 M[,@{u/  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 fVpMx4&F   
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 k~1?VQ+?M  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 0oIe> r  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    _E.>`Q  
    PB\x3pV!}  
    更多的信息: svH !1 b  
    1o{Mck  
    总结-组件 ,r\o}E2  
    \LexR.Di  
    dDLeSz$b  
    w~qT1vCCN  
    w ;^ra<*<+  
    两条光谱线的可视化 sLxc(d'A  
    Qq|57X)P*  
    O3kA;[f;  
    精细vs.涂层反射率 O6^]=/wd  
    BLD gt~h#  
    r mg}N  
    m!HJj>GEo  
    精细度vs.涂层反射率 vUM4S26"NT  
    Wvf ^N(  
     Mb~F%_  
    内部谐振增强
    cSV aI  
    Lw>N rY(Y  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 7hPY_W y  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 f._ua>v,f  
    }-=|^  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 xU`p|(SS-  
    ;NITc  
    VirtualLab Fusion技术 A~70  
    {_v#~595  
    9djk[ttA)  
     
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