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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 YHo*IX')C?  
    qApf\o3[0  
                               ks<+gL{K|i  
    =OooTZb:x-  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 R,W w/D  
    ~@K!>j  
    建模任务     N`5 mPE  
    h) W|~y@  
    =2, iNn  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 lkgB,cflpi  
    qjLFgsd  
     DgC;1U'  
    (Bu-o((N@0  
    图层矩阵解算器 4G=KyRKh  
    'V:ah3 8  
     5=P*<Dnj  
    i  M!=/  
    b'G!)n  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ^9oJuT!tu  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Z<$ y)bf  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (/Dr=D{ `  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 &, WQr  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     u/X1v-2  
    DsGtc<l%  
    更多的信息： Y kcN-  
    CYN|  
    总结-组件 ~_"/\; 1  
    [xg& `x9,.  
    lag%} ^  
     $oH?7sj  
    B}Sl1)E  
    两条光谱线的可视化 O\)rp!i  
    <I^Tug\M+  
     3X}>_tj  
    精细vs.涂层反射率 M`.v/UQn  
    r7n-Xe  
    %jmL#IN)  
    I0C$  
    精细度vs.涂层反射率 x)^t5"F  
    8hm|9  
    zX ?@[OT  
    内部谐振增强     ?DKwKt  
    G,h=5y9_J  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 +umVl  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Cw&U*H  
    @j?)uJ0Q  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 \*6Ld %:h$  
    SpiI9)gp  
    VirtualLab Fusion技术 1A-ess\  
    4Rev7Mc  
      K na  
     
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