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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 l`}Ag8Q  
    k;?Oi?]  
                          
    't5 I%F  
    U =G^w L  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。   ps*dO  
    s.)nS $  
    建模任务
    jW G=k#WN  
    g[,1$39Z|@  
    >(t_  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 {MaFv  
    ZPISclSA+  
    Q6|~ks+Y  
    |4F 3Gu  
    图层矩阵解算器 >,JA=s  
    ,VM)ZK=Tr  
    'xC83}!k  
    HcrI3v|6  
    D=Pv:)*]  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 p FkqDU  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 +[DL]e]@U  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 y<<:6OBj  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 %qM3IVPK)q  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    v .ftfL!  
    +cw;a]o^>  
    更多的信息: _(q|W3  
    r95l.v  
    总结-组件 e[lRY>Pe5  
    $6c8<!B_  
    Z{|U!tn  
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    INyakAmJ}-  
    两条光谱线的可视化 y'9 bs  
    ]/p)XHKo  
    G(puC4 "&  
    精细vs.涂层反射率 ~\ 9bh6%R  
    NTHy!y<!h  
    '5Zt B<  
    zLs[vg.(  
    精细度vs.涂层反射率 H@uCbT  
    `W8A *  
    4gTD HQP  
    内部谐振增强
    r`Qzn" H  
    @CSTp6{y  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 COx<X\  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 (]Z$mv!  
    0$n0f u  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 (L)tC*Qjc  
    V8z91  
    VirtualLab Fusion技术 y<G@7?   
    1|L3} 2  
    ?Afx{H7  
     
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