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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 vpk~,D07yR  
    &MP8.( u `  
                               $7\hszjZ  
    l,Ixz1S3e  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 AdRt\H<  
    Js !Zk\O  
    建模任务     `Y7&}/OM  
    1;+(HB  
    /A`Ly p#  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ':,p6  
    nZUBblRJ)  
     y#e<]5I  
    =v=H{*dWA  
    图层矩阵解算器 8f#&CC!L  
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    $ZE"o`=7  
    z^9df(  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Ea3 4x  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 rjT!S1Hs  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 zMN4cBL9m  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 26c1Yl,DMn  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     l@%7] 0!T  
    3)qtz_,H/g  
    更多的信息： aAkO>X%[  
    Q,xKi|$r  
    总结-组件 3 ?DM AV  
    Z9 tjo1X  
    |Ok1E  
     T WgI-xB  
    [a1}r=6~  
    两条光谱线的可视化 \9dC z;  
    ?QCHkhU  
     GvT'v0&+  
    精细vs.涂层反射率 gkNvvuQXc  
    4 5\%2un  
    'B4j=K*  
    X2p9KC  
    精细度vs.涂层反射率 %y;Cgo[  
    1PJ8O|Z t8  
    KcX] g*wy  
    内部谐振增强     N{6Lvq[8  
     zWIC4:  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W%RjjL J@  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 QK%6Ncv  
    P$i?%P~  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 `l95I7  
    u4[3JI>  
    VirtualLab Fusion技术 j:{d'OV  
    D +vHl}  
     fhp][)g;  
     
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