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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 .OI&Zm-  
    L{_Q%!h3]  
                               <u>l#weG,  
    3e&H)  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。  hUy"XXpr  
    jG8W|\8  
    建模任务     )/VhkSXbG!  
    Pi|WOE2  
    +[386  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 1#rcxUSi  
    M*ZR+pq,  
     F*" "n  
    t){})nZ/4  
    图层矩阵解算器 $80 TRB#  
    QN`K|,}H^  
     2JY]$$K7  
    9z>I&vcX  
    hgt@Mb   
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _XLGXJ[B  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 fyYHwG  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 !EO*xxQ  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 h"h3SD~  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Cu*+E%P9`  
    _}8hE v  
    更多的信息： 37C'knW  
    !h\.w9o[  
    总结-组件 byALM  
    nymF`0HYe1  
    ?#N: a  
     Sg#$ B#g  
    S#km`N`  
    两条光谱线的可视化 p5RnFe l  
    -*`7Q'}%  
     / =]h@m-`  
    精细vs.涂层反射率 NX wthc3  
    ^y" #2Ov  
    s2SxMFDP  
    <%d/"XNg[D  
    精细度vs.涂层反射率 OH.lAF4E(  
    IXjFK  
    `^3N|76Y  
    内部谐振增强     r 7 dwj  
    QT\||0V~p  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =K#5I<x  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 5UWj#|t  
    I8ZBs0sfF{  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  kwI[BF  
    Z5x&P_.x[  
    VirtualLab Fusion技术 @4)NxdOE  
    (^_j,4  
     :V,agAMn  
     
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