-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-11-13
- 在线时间2001小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 zv"Z DRW Xs?o{]Fe
C6yuX\ E+JqWR5 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 NgCvVWto kSh( u 建模任务 _/K_[w 1 AzxXB
OBAi2Vw 具有高反射(HR)涂层的标准具 alvrh'51 \'bzt"f$j
!0cD$^7 O8.5}>gDn. 图层矩阵解算器 L,@lp bY0|N[g
ZQ0F$J)2~ DDH:)=;z D5HZ2cz|a 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 # Vha7 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 }AH]
th 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 uRr o?m< 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 fwf$Co+R:* 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 #
4PVVu< IobD3:D8W 更多的信息: Y.r+wc] C 6AUNRpl 总结-组件 \;"=QmRD%: (*)hD(C5
^]-6u:J!
,nB5/Lx <3hRyG@vB 两条光谱线的可视化 3kMf!VL 3jC_AO%T
/RC7"QzL 精细vs.涂层反射率 )TH@#1 KMjhZap%
4Wm@W E <yFu*(Q 精细度vs.涂层反射率 hFl^\$Re .xWC{}7[
v OpKNp 内部谐振增强 s+?zL~t b`O'1r\Y; 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 1^(ad;BCy 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 )f<z%:I+Z
fDU!~/# 注意: 传输值取自艾里图案的中心 exUu7&*: X*@dj_, VirtualLab Fusion技术 SJ>vwmA4 -I,$_
*6DB0X_-}
|