切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 643阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6421
    光币
    26250
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 mdOF0b%-]  
    S`"M;%T  
                          
    rY>{L6d  
    F~ n}Ep~1  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 m//(1hWv7  
    .JpYZ |  
    建模任务
    5U[;T]{)e  
    Z<|ca T]Q(  
    2 f]9I1{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Qko}rd_M  
    m)q;eQs  
    'sm+3d  
    d& @KGJ  
    图层矩阵解算器 %rT XT  
    HPT9B?^  
    J680|\ER  
    F,e_`  
    P$@5&/]  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 0X)'8N  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 OZ_'& CZ  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 S{z%Q  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 r! 5C3  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    AdB5D_ Ir  
    ];1z%.  
    更多的信息: COj50t/  
    =?57*=]0M  
    总结-组件 |J`YFv  
    awXL}m[_!  
    5Lt&P 5BY  
    3u7E?*{sH  
    ?}B9=R$Pi  
    两条光谱线的可视化 A"C%.InZ  
    "31GC7  
    Gn;eh~uw;l  
    精细vs.涂层反射率 Xt8;Pl  
    FQ?H%UcW  
    0sq/_S  
    K I$?0O  
    精细度vs.涂层反射率 L"tj DAV  
    ^#S  
    1(!QutEb  
    内部谐振增强
    PF!Q2t5c3  
    ,I@4)RSAH|  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 X?Omk, '  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 5<a)SP 0  
    z0HCmj9T  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 H U$:x"AW  
    ,q/K&'0`  
    VirtualLab Fusion技术 CQ"IL;y  
    +&a2aEXF  
    *=S\jek  
     
    分享到