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摘要 &E5g3lf Fd9[pU
@?]RBX?a b,1ePS
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 8$Y9ORs4 {V
CWn95Z 建模任务 \ta?b!Y),? iSs:oH3l
3eQ&F~S 具有高反射(HR)涂层的标准具 @_}P-h mrtb*7`$
NyNXP_8 p9{mS7R9T 图层矩阵解算器 <x>Mo WOL:IZX%
d5:c^` IyG}H} )bscBj@ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 M[,@{u/ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 fVpMx4&F
2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 k~1?VQ+?M 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 0oIe>r 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 _E.>`Q PB\x3pV!} 更多的信息: svH !1b 1o{Mck
总结-组件 ,r\o}E2 \LexR.Di
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w~qT1vCCN w ;^ra<*<+ 两条光谱线的可视化 sLxc(d'A Qq|57X)P*
O3kA;[f; 精细vs.涂层反射率 O6^]=/wd BLD gt~h#
r mg}N m!HJj>GEo 精细度vs.涂层反射率 vUM4S26"NT Wvf
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Mb~F%_ 内部谐振增强 cSV aI Lw>N rY(Y 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
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y 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 f._ua>v,f
}-=|^ 注意: 传输值取自艾里图案的中心 xU`p|(SS- ;NITc VirtualLab Fusion技术 A~70 {_v#~595
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