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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 'H4?V  
    ?GtI.flV  
                               F\ GNLi  
    H0yM`7[y  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 d0f(Uk  
    c/:k|x  
    建模任务     HD1/1?y!@q  
    om=kA"&&Q  
    q}0I`$MU  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ^R)]_   
    =Zsxl]h   
     J, +/<Y!  
    QUfF>,[sv  
    图层矩阵解算器 \hb$v  
    PnB2a'(^@?  
     "3|OB, <;:  
    &&m1_K  
    NS TO\36  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 J!dv"Ww"  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 A:(qF.Tm  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 52,'8` ]  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 fY #Yn  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     T &bB8tQk  
    OsVz[wN  
    更多的信息： Snp(&TD<<  
    =UWW(^M#[:  
    总结-组件 4d}n0b\d  
    tB4yj_ZF  
    {yEL$8MC  
     IG2z3(j  
    0ia-D`^me  
    两条光谱线的可视化 V?`|Ha}  
    \%%M>4c  
     tK'9%yA\  
    精细vs.涂层反射率 :Z_abKt  
    *,*XOd:3TL  
    'WBhW5@  
    (?lT @RY/  
    精细度vs.涂层反射率 r>PKl'IbE  
    CyB4apJ  
    5B8fz;l= B  
    内部谐振增强     {0AlQ6.@>  
    `Hv"^o  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 D~`RLPMk  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 78<fbN5}r  
    a5d_= :S ;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 :<0lCj  
    cS@p`A7Tpo  
    VirtualLab Fusion技术 [9Tnp]q  
    9}42s+  
     EU'rdG*t/R  
     
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