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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 2PR^:h2  
    lMz<s  
                               P\&! ]  
    Z^9/v  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 )kJH5/  
    1H,g=Y4f%  
    建模任务     q,2]5 '  
    /n4pXT  
    >z`,ch6~  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 :EtMH(  
    dk==?  
     R <"6ojn  
    X{g%kf,D=  
    图层矩阵解算器 %G@5!|J  
    }N*>QR5K  
     =ORf%f5"'  
    R4<lln:[  
    (#oycj^<  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 pU!o7>p  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 !4rPv\   
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Q#Y k?Kv~  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 v[lnw} =m9  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     0~& "  
    (Bo bB]~a  
    更多的信息： cMzkL%  
    GyC/_ntn  
    总结-组件 - ~4+w  
    w#^U45y1v  
    X[W]=yJJ  
     ~^vC,]hU  
    Uw<&Wm`'  
    两条光谱线的可视化 rQP"Y[  
    b8f+,2Tk  
     "*7C`y5&P  
    精细vs.涂层反射率 *g;-H&`  
    a9~"3y  
    +3,|"g::  
    = c~I .  
    精细度vs.涂层反射率 [k]|Qi nk  
    zx1:`K0bi  
    y@wF_WX2  
    内部谐振增强     }xFi& <  
    Vdn.)ir~P  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 y5 m!*=`l`  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 iQ^: ])m>  
    =ex'22  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 FXo2Y]K3`L  
    *wi}>_\  
    VirtualLab Fusion技术 4B?!THjk  
    Gowp <9 F  
     :[M[(  
     
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