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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 6,+nRiZ  
    \[ M_\&GC  
                               bi$VAYn.^  
    u-szt ?O|  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 0x~`5h  
    xA #H0?a]  
    建模任务     M{E{NK  
    O%g\B8 ;  
    b\giJ1NJB  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 "SR5wr   
    Qqq <e  
     V!&P(YO:  
    si(cOCj/  
    图层矩阵解算器 g5Td("& n  
    J(s;$PG  
     e_rzA  
    bfdVED  
    7&+Ys  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Jhy(x1%  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 mCdgKr|n  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 au$"B/  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 $iPP|Rw  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     BQ#L+9%  
    B4Lx{u no  
    更多的信息： .~mCXz<x  
    2|{V,!/cvG  
    总结-组件 >emcJVYV`[  
    <kbyZXV@K  
    Wi$dZOcSJ  
     A,#2^dR  
    tsv$r$Se  
    两条光谱线的可视化 KDTDJ8  
    o8ppMM8_R[  
     8omC%a}9m  
    精细vs.涂层反射率 o~1 Kp!U  
    Phs-(3  
    AIZBo@xg  
    &tE.6^F  
    精细度vs.涂层反射率 zwr\:Hu4  
    DDeE(E  
    v\%G|8+]  
    内部谐振增强     Z cpmquf8L  
    `hrQw)5?r  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 b$- e\XB!  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 AGq>=avv  
    s 3r=mp{  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 OYmi?y\  
    VQxpN 1  
    VirtualLab Fusion技术 D7 ?C  
    q p~g P  
     k;Fh4Hv  
     
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