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摘要 C0@[4a$8f M8wEy_XB1
*n h.&Mv| 9!06R-h Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^sA"&Vdr^ ~)\E&c 建模任务 b4HUgW3Ac D-IXO@x
Rg?m$$X` 具有高反射(HR)涂层的标准具 J(JqusQd ! &^4 E )F
PRE\2lLY >^fkHbgNQ 图层矩阵解算器 \h}a?T6 D7"RZF\)
?nya;Z-~Hc atA:v3" Q7-d]xJ^ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Z-D4~?Tv 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 #I(Ho:b 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 m|5yET 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ucVn ` 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 uqg#(ADy?R zz1e)W/ 更多的信息: e:&(y){n( h7h[!> 总结-组件 MSw:Ay[9
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*&VqAc%qD 3Y}X7-|)Z 两条光谱线的可视化 5|E_ ,d!v n
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`zJTVi4 精细vs.涂层反射率 [N-t6Z* H[a1n' "<:
lB0: 4cIj fq"<= 精细度vs.涂层反射率 #~SQujgB i!!1^DMrw
m:1f7Z> 内部谐振增强 8=%%C: zu~E} 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 KF#,Q 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 c9
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>,Zf3M 注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^mu?V-4 J,bE[52 VirtualLab Fusion技术 SbLx`]rI *Hnk,?kPq
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