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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 C0@[4a$8f  
    M8wEy_XB1  
                          
    *nh.&Mv|  
    9!06R-h  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^sA"&Vdr^  
    ~)\E&c  
    建模任务
    b4HUgW3Ac  
    D-IXO @x  
    Rg?m$$X`  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 J(JqusQd !  
    &^4E)F  
    PRE\ 2lLY  
    >^fkHbgNQ  
    图层矩阵解算器 \h}a?T6  
    D7"RZF\)  
    ?nya;Z-~Hc  
    atA:v3"  
    Q7-d]xJ^  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Z-D4~?Tv  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 #I(Ho:b  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 m|5yET  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ucVn `  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    uqg#(ADy?R  
    zz 1e)W/  
    更多的信息: e:&(y){n(  
     h7h[! >  
    总结-组件 MSw:Ay [9  
    `>mT/Rmb@  
    g^dPAjPQ  
    *&VqAc%qD  
    3Y}X7-|)Z  
    两条光谱线的可视化 5|E_ ,d!v  
    n 7Bua  
    `zJTVi4  
    精细vs.涂层反射率 [N-t6Z*  
    H[a1n' "<:  
    lB0: 4cIj  
    fq"<=  
    精细度vs.涂层反射率 # ~SQujgB  
    i!!1^DMrw  
    m:1f7Z>  
    内部谐振增强
    8=%%C:  
    zu~E}  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 KF#,Q  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 c9 UJ=  
    >,Zf3M  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^mu?V-4  
    J,bE[52  
    VirtualLab Fusion技术 SbLx`]rI  
    *Hnk,?kPq  
    Y0||>LX  
     
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