切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 371阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5479
    光币
    21559
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 `USze0"t0:  
    MP )nQ  
                          
    8@6*d.+e  
    Ir- 1@_1Q  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 .7Pp'-hK  
    QY\'Uu{  
    建模任务
    a@ ? Bv  
    hy~KY6Ta  
    IG%x(\V-e  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 f7%g=0.F  
    mEb`ET|  
    SM<qb0  
    nAsc^ Yh  
    图层矩阵解算器 f?@M"p@T  
    -O@/S9]S)  
    '81Rwp  
    d%!yFix;<  
    f8f|'v|  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 JvJ)}d$,&  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Ghe@m6|D  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ILHn~d IC  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 l`:-B 'WM  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    kWbY&]ZO  
    E*v+@rv  
    更多的信息: \ov]Rn  
    IJ{VCzi  
    总结-组件 %7Gq#rq  
    v=IcVHuf  
    (tg+C\ S.  
    ;~}!P7z  
    |c2;`T#`o  
    两条光谱线的可视化 S! .N3ezn  
    YIl,8! z~  
    fKs3H?|  
    精细vs.涂层反射率 s21)*d  
    GlT/JZ9  
    /DSy/p0%  
    7l'1  
    精细度vs.涂层反射率 kPnuU!  
    Z~"8C Kz  
    gg Hl{cl)  
    内部谐振增强
    1fh6A`c  
    fa/p  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 HDhG1B"NL  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9H%ixBnM  
    b]WvKdq  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Wk/Il^YG  
    tqU8>d0^  
    VirtualLab Fusion技术 =?hbi]  
    tkdyR1-  
    A+hT2Ew@t}  
     
    分享到