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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 .MP !`  
    fmb} 2h  
                               V0P>YQq9s  
    4\4FolsK  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 v5QqS8u_C  
    K>DR Jz  
    建模任务     !BOY@$Y  
    >8qQK r\"  
    U'<KC"f:'!  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 NbU[l  
    -T[lx\}  
     B(n{e53 9f  
    CTZh0 x  
    图层矩阵解算器  y"H*%]  
    +h r@#n4A  
     /XzH?n/{R  
    W8KDX_vGJ  
    )~HUo9K9  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ucG@?@JENm  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 HLV2~5Txc  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 \l]DQaOEe  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 U8LtG/  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     \kU &^Hi  
    j ~1B|,H  
    更多的信息： |~X ;1j!  
    --|Wh^i>?  
    总结-组件 9.a3&*tV[  
    K0 }p i +=  
    ?MgUY)X  
     ZI3Nq  
    q&W[j5E  
    两条光谱线的可视化 =1Oj*x@*4  
    Q2F+?w;,  
     @!yMIM%P  
    精细vs.涂层反射率 uFPF!Ern  
    LRb{hUt=  
    }L#_\  
    jO1r)hw N>  
    精细度vs.涂层反射率 FMClSeO7  
    OVhE??#  
    &' Ne! o8  
    内部谐振增强     |>tKq;/  
    Z`KC%!8K  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /$'AjIg4:&  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3P^sM1  
    ) `A3M)  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 b/{t|io{  
    ^ml'?  
    VirtualLab Fusion技术 qx4I_%  
    a+!tT!g&I  
     @++.FEf  
     
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