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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 xi.IRAZX  
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    z[Z2H5[  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ,P!D-MN$V  
    :F9q>  
    建模任务
    uNg'h/^NZ|  
    Q-jf8A]  
    QK'`=MU  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 TIETj~+  
    $59nu7yr  
    |a>}9:g,=*  
    8T<@ @6`T  
    图层矩阵解算器 d<_NB]V&F  
    PM8Ks?P#u  
    n{L:MT9TD  
    `i9N )3 X  
    @kz!{g]Sn  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 sK`< kbj  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 0K/G&c?;=  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 b h*^{  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 @~s~/[  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    z'T=]- D  
    V0s,f .a  
    更多的信息: U>in2u 9  
    !5? m  
    总结-组件 487YaioB$  
    [f=.!\0\  
    \WiqN*ZF  
    YWSz84d  
    di--:h/  
    两条光谱线的可视化 ka!Bmv)  
    |>Z&S=\I)  
    epn#qeX  
    精细vs.涂层反射率 IX"ZS  
    G *ds4R?!  
    5GaoJ v  
    Zd8drT'@#  
    精细度vs.涂层反射率 ix^gAot  
    :4%<Rp  
    {K<uM'ww>  
    内部谐振增强
    qQL.c+%L  
    1;aF5~&  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 KUF$h Er  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 o>@=N2n  
    PEfE'lGj  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 R$Zv0a&  
    5/ tj  
    VirtualLab Fusion技术 *wV iH  
    zIP[R):3&U  
    Cy<T Vk8  
     
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