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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 \q24E3zS&  
    :Z_abKt  
                               Ge=\IAj  
    "{3|(Qs  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Jw^my4  
    V`YmGo  
    建模任务     A`>^A]%  
    Z@$'fX?~9  
    v |pHbX  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 8YgRJQZ!  
    * kUb[  
     JE*?O*&|Q  
    m5HMtoU  
    图层矩阵解算器 gp H@F X  
    /q7$"wP  
     cf*~G x_l  
    No+BS%F5  
    k)y<iHR_o  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 qLKL*m  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 3O _O5  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 [D<(xr&N%  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 YB^m!A),I[  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     H7<g5pv  
    ^EW6}oj[  
    更多的信息： f 9IqcCSW  
    }*aj&  
    总结-组件 +bb-uoZf  
    h gwS_L  
    5Fq+^  
     Nd@/U c  
    w_LkS/  
    两条光谱线的可视化 U7,.L  
    =KD[#au6a  
     +@7c:CAy(  
    精细vs.涂层反射率 LfCgvq6/pO  
    :6m"}8*q8  
    Q7UQwAN'  
    AP4s_X+=  
    精细度vs.涂层反射率 W3^^aD-  
    <KStl fX  
    8vfC  
    内部谐振增强     U9 Q[K`  
    5>=4$!`  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 04}c_XFFE  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。  /7Q9(}  
    (hRg0Z=  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 2uF'\y  
    8)83j6VF  
    VirtualLab Fusion技术 S T4[d'|j  
    R+/kx#^  
     [<Mls@?  
     
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