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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 |{@FMxn|q  
    4GB7A]^E  
                               m5Tr-w$QY  
    sp* Vqd  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 rL5z]RY  
    %4W$Lq}  
    建模任务     ]#.]/f >-  
    XerbUkZ  
    lb:/EUd5  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 *]i!fzI']  
    N&[D>G]>v  
     v)_nWu  
    DvM5 k  
    图层矩阵解算器 &* E+N[  
    _Ob@`  
     &[hLzlrg  
    e]Zngt?b  
    0 &GRPu27  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ,<:!NF9  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 nbG/c80  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 c`fG1s  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ^`<w&I@  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     2[gFkyqe  
    "HYQqNj?Z  
    更多的信息： a5G/[[cwTV  
    "YB** Y  
    总结-组件 Pm$q]A~  
    G7=p Bf  
    (|d34DOJ  
     ai*f F  
    M4WiT<|]R  
    两条光谱线的可视化 A_;8IlW  
    [ 4;Ii  
     )(7&X45,k  
    精细vs.涂层反射率 \a+(=s(;  
    TO-$B8*nq  
    +1~Z#^{&  
    4 QZ?}iz  
    精细度vs.涂层反射率 1jX3ey~  
    5Q=P4w!'  
    & /4k7X}y  
    内部谐振增强     ,TRTRb;  
    5E0eyW  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 z]3 `*/B  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \cLSf=  
    ?EX"k+G  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 X w.p  
    ]qB:PtX  
    VirtualLab Fusion技术 <A9y9|>o  
    8?Z4-6!{V,  
     H_?o-L?+  
     
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