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摘要 \kZ? *WuID2cOI
`EaLGzw FYpzQ6s~ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 [@.!~E)P ~A\GT$ 建模任务 6e|*E`I {z{bY\
[TmIVQ!B 具有高反射(HR)涂层的标准具 p>huRp^w r 8RoE`/T
LcTP# )P
sY($ & 图层矩阵解算器 2GDD!w#!j *_d7E
9P+-#B 9w7n1k. koug[5T5 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ]Gsv0Xk1 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Y^wW2-,m 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 %WjXg:R 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 A
PEE~ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 C&(N
I Wi)_H$KII 更多的信息: |Y,b?*UF asppRL|| 总结-组件 Li4zTR|U b0Ps5G\ u
;~m8;8)
k5'Vy8q w9EOC$|Y 两条光谱线的可视化 0Qf,@^zL* u0`S5?
?67Y-\} 精细vs.涂层反射率 cK( C&NK )"7iJb<E
+V{kb<P 3YR!Mq$|~ 精细度vs.涂层反射率 -lY6|79bF W{ q U
v dc\R? 内部谐振增强 .1Dg s=| Q+{xZ'o"Z 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 s"r*YlSp" 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _@
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OrY/`+Cog 注意: 传输值取自艾里图案的中心 52Z2]T
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