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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 (o5j'2:.  
    ntFT>g{B  
                               H@bf'guA|B  
    zcrY>t#l  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 HpZ1xT  
    Zf$Np50@(  
    建模任务     ~6YMD  
    br-]fE.be  
    8N&+7FK  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 21hv%CF\9  
    ;oZ)Wt  
     fGhn+8VfX  
    %yBB?cp+_  
    图层矩阵解算器 vM:cWat  
    ~5FW [_  
     LUB${0BrA  
    Gmwf4>"  
    HK`I\,K  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 '3zc|eJt&  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 #(An6itl  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 svxw^ 0~a  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 YIw1  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     x }Ad_#q  
    PB;eHy  
    更多的信息： [sB 9gY(  
    VD_$$Gn*q  
    总结-组件 2hzsKkrA {  
    _ODbY;M  
    _S>JKz  
     (L^]Lk x)  
    lpz2 m\  
    两条光谱线的可视化 94B\5I}  
    0 a80 LAK  
     89r DyRJ;  
    精细vs.涂层反射率 /p8dZ+X  
    %CK^Si%+  
    ZK>WW  
    ` ,SiA-3*  
    精细度vs.涂层反射率  }Y;K~J  
    tH-C8Qxy  
    d_IAs  
    内部谐振增强     |JQQU! x  
    IiG6<|d8H  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 "'D=,*  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 8- 2cRs  
    l1f\=G?tmU  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 h*-Pr8  
     4^M  
    VirtualLab Fusion技术 /5u<78GW1  
    'FDef#P<  
     ]*AR,0N&  
     
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