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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 r\"R?P$y|  
    W7n^]~V  
                          
    (W h)Ov"  
    fJ8>nOh  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 `n>|rd  
    ^>an4UJ t  
    建模任务
    `F/R:!v  
    KS8@A/f  
    kKlNhP(  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ufk2zL8y  
    nT> v  
    l1T`[2  
    MxpAh<u!vF  
    图层矩阵解算器 C"kfxpCi  
    )K?7(H/j  
    ZY,$oFdsi  
    9~`#aQG T  
    8|@) #:  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 }~W/NP_F  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 9_wDh0b~p  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 J.JD8o9sa  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 N & b3cV  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ~E 6sY  
    R=.?el  
    更多的信息: <B>qE a_I  
    .<?7c!ho  
    总结-组件 ?jz\[0)s  
    ,oH\rrglf  
    YD[AgToo0  
    T/ECW  
    33<{1Y[Q6E  
    两条光谱线的可视化 lwfS$7^P  
    l| uiC%T  
    E+i(p+=4  
    精细vs.涂层反射率 3ux7^au  
    [_%u5sc-y  
    DX!dU'tj  
    cEa8l~GC<  
    精细度vs.涂层反射率 Jf4` 2KN\  
    odca?  
    *g*"bi*  
    内部谐振增强
    _*UI}JtlS  
    c/88|k  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ^f>c_[fR  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 1\,k^Je7  
    \dU.#^ryp  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 aHC%:)ww:  
    (hOD  
    VirtualLab Fusion技术 ASov/<D_q  
    yKUxjb^b\  
    \(7A7~  
     
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