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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 y(|6`  
    5YIi O7@4  
                               'l\V{0;mp  
    c L*D_)?8  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^SCZ  
    Ty%4#9``0  
    建模任务     GCrh4rxgg  
    L>{E8qv>w  
    JJ56d)37.  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 BQf}S +  
    Kp"mV=RG2T  
     wgSA6mQZ  
    pTZPOv#?Q  
    图层矩阵解算器  ,[ +  
    VL"ZC:n)-  
     +-,Q>`  
    9;Ezm<VQ  
    3y>.1  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 xkl'Y*  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 zsI0Q47\  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 I"3Qdi  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 7"=  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     BZ1@?3  
    xk86?2b{)  
    更多的信息： fl~k')s  
    IDzP<u8v  
    总结-组件 BW:&AP@B  
    \~xsBPX+x  
    xXZ$#z\ Z,  
     uf`o\wqU  
    8x'rNb  
    两条光谱线的可视化 %-]j;'6}cX  
    <(d ^2-0  
     :RHNV  
    精细vs.涂层反射率 a#!Vi93  
    6fPuTQ}fY>  
    x{~-YzWho  
    qYIBP?`g  
    精细度vs.涂层反射率 ^/R@bp#<  
    $ sEe0  
    ZERUvk  
    内部谐振增强     9`.b   
    -O~WHi5}  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 `(=)8>|e  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 m*P~X*St  
    J~ v<Z/gm  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ]*juF[r(  
    o&*1Mx<+  
    VirtualLab Fusion技术  A`#v-  
    S7wZCQe  
     &4"(bZ:LO  
     
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