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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 \pmS*Dt  
    N&9o  1_}  
                          
    9&mSF0q  
    "c^!LV  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 eP{srP3 9  
    , X5.|9  
    建模任务
    4kOO3[r  
    GP:<h@:798  
    yR}. Xq/  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 [4)Oi-_Y>  
    t,/ G  
    ;vn0%g  
    AtT7~cVe  
    图层矩阵解算器 Gnc`CyN:H  
    bS_#3T  
    1wSAwpz  
    K<JzIuf&  
    ycA<l"  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 J^!;$Hkd  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 F^!D[:;jK  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 {UiSa'TR1b  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 | dQ>)_  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    ep>!jMhJa  
    ^FCXcn9  
    更多的信息: MK< y$B{}  
    E)b$;'  
    总结-组件 So%X(, |  
    u?').c4  
    ]8G 'R-8}  
    l;8t%JV5  
    )f8>kz(  
    两条光谱线的可视化 u6iW1,#  
    bG;fwgAr  
    ,EqQU|  
    精细vs.涂层反射率 JsaXI:%1  
    I8#2+$Be+@  
    GwWK'F'2  
    X><C#G  
    精细度vs.涂层反射率 0KA*6]h t  
    s 6Wp"V(  
    [9E~=A#  
    内部谐振增强
    g)Z8WH$;H3  
    2=cx`"a$  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 W'G|sk  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 q<Rj Ai  
    Y,L`WeQY.  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 uWS]l[Ga  
    sG g458  
    VirtualLab Fusion技术 ;`AB-  
     3@Ndn  
    n,T &n  
     
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