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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 >0dv+8Mn  
    c\ia6[3sX  
                          
    <c%W")0  
    Hew d4k  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 m! W3Cwz\&  
    OKi\zS  
    建模任务
    cwm_nQKk  
    !^v5-xO?rP  
    ~}!3G  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +8v9flh  
    2-"0 ^n{  
    MB%Q WU  
    [tg^GOf '  
    图层矩阵解算器 rz"txN  
    xGU(n _Y  
    M @3"<[g  
    Z0`T\ay  
    &AlJ "N|  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 % , N<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和  P\]B<  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 6<'rG''  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 e#,~,W.H  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    #U*_1P0h  
    Wm H~m k"  
    更多的信息: ?-tVSRKQ  
    MwfOy@|N  
    总结-组件 >7roe []-|  
    Ja SI^go  
    Yp0/Ab(v  
    d/}SAvtt  
    u7xDau(c  
    两条光谱线的可视化 ~GuMlV8  
    "+zCS|   
    A>[|g`;t  
    精细vs.涂层反射率 w=|GJ 0  
    wHIj<"2  
    k"g._|G  
    U|HB=BP  
    精细度vs.涂层反射率 it> r+%  
    A<\JQ  
    Hg9CZM ko  
    内部谐振增强
    JT9N!CGZ  
    ?=VOD#)  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 pA;-v MpMj  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ~+<olss_  
    +525{Tj  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 y7S4d~&  
    .XkMk|t8  
    VirtualLab Fusion技术 % aUsOB-RV  
    k<RZKwQc  
    0 a~HiIh  
     
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