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摘要 9]'($:LF08 n}mR~YqD
Ke-)vPc |+U<S~ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 b.O9ITR IZ3{>NV 建模任务 $DBGLmw +uWYK9
?4CNkk=v 具有高反射(HR)涂层的标准具 WS2osBc 7B3w\
NA$zd( ,uz ]V1 图层矩阵解算器 }<jb vCeK "&Qctk`<P
@mt0kV9 ZAuWx@} )U:2z-X&e 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 K~RoUE<3[ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 }]UB;id' 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 L?Yoh< 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Q>qFM9Z 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 _)$PKOzbb ]=73-ywn] 更多的信息: +]:2\TTGI WqrgRpM{ 总结-组件 zVv04_: 'z=:[#b
JM.XH7k
.w6eJ4] Xj+q~4{|vt 两条光谱线的可视化 BsZ{|,oQnZ qJR!$?
kJs^ z 精细vs.涂层反射率 4y}"Hy MVCl.o
"()sb? & bVr*h2p 精细度vs.涂层反射率 lz |
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t@?u 内部谐振增强 ?lCd{14Mkh Wx)K*9 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 !wLg67X$
- 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ALd;$fd qf
smAC,-6]~ 注意: 传输值取自艾里图案的中心 o[6y+ <'o ]"fsW 9s VirtualLab Fusion技术 +:jT=V"X J#3{S]*v_
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