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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 >!BFt$sd  
    YF[$Q=7.  
                               L$JI43HZ  
    W);W.:F  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 oX|?:MS:  
    0\ f-z6  
    建模任务     8M93cyX  
    vl5){@   
    %x2b0L\g  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 \|q-+4]@,  
    ^5)_wUf  
     76MsrOv55  
    B7 c[ 4  
    图层矩阵解算器 1X:&* a"5  
    &va*IR  
     ;X7i/D Q  
    fOBN=y6x  
    C_-E4I Z)  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 #O|lfl>}  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 >l2w::l%  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 |cu`f{E2]  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 (Jpm KO  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ~07RFR  
    8A/>JD3^  
    更多的信息： 0M\NS$u(Y  
    qy9i9$8  
    总结-组件 -A;w$j6*  
    gb_X?j%p7  
    JN^bo(kb  
     E\! n49  
    kH2oK:lN  
    两条光谱线的可视化 2FT-}w0;  
    jZ#UUnR%  
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    精细vs.涂层反射率 "WP% REE!  
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    @\$Keg=>:  
    精细度vs.涂层反射率 bX&e_Pd  
    uN(b.5y  
    EE9vk*[@C  
    内部谐振增强     9fCO7AE0#  
    d5' )6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 [a+4gy  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 a 8-;   
    j!CU  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 kxy]vH6m  
    *o 2#eI  
    VirtualLab Fusion技术 I4ctxMVP  
    V^vLN[8_\  
     /.)2d8,  
     
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