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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 &=:3/;c  
    })J}7@VPO  
                          
    A McZm0c`  
    ?FR-a Xx  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 X2:23j<  
    #<u;.'R  
    建模任务
    C 'Y2kb  
    MtoOIkQ  
    !gfd!R  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 DpT$19Q+  
    F=#V/ #ia  
    -g|ji.  
    0bIgOLP  
    图层矩阵解算器 SN\c 2^#  
    Q#K10*-O6  
    H?xY S| n  
    cKoW5e|u  
    )%n $_N n  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 [9NrPm3d  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?`O^;f  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 27$,D XD  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 nf1 `)tXG  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    O.xtY @'"  
    I:UDEoQo  
    更多的信息: [8[<4~{  
    @_#\qGY  
    总结-组件 rcY &n^:  
    <l5m\A  
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    MHye!T6fO\  
    两条光谱线的可视化 u3pFH(  
    IvI..#EzG  
    8VO]; +N  
    精细vs.涂层反射率 |(PS bu  
    x',6VTz^  
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    X|ZAC!J5>  
    精细度vs.涂层反射率 ;ny9q  
    J1~E*t^  
    .V3e>8gw3  
    内部谐振增强
    wEJzLFCn  
    BNI)y@E^X  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ',LC!^:~Nw  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 tAI v+L  
    K4YD}[  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 <yBa5m@/  
    W-/V5=?   
    VirtualLab Fusion技术 R:R<Xt N`5  
    d)acWF\  
    =6Gn? /{  
     
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