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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 {rw|#Z>A  
    $k%2J9O  
                               .@U@xRu7|  
    }<SQ  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 xJ8M6O8  
    "?xHlYj@+  
    建模任务     =s2*H8]  
    1~ 3_^3OT  
    PiIpnoM  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 S`0(*A[W*  
    (Zrj_P`0[  
     )9`qG:b'  
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    图层矩阵解算器 & G4\2l9  
    'Aq{UGN  
     pJ"qu,w  
    d#4**BM  
    J @1!Oq>  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 :q% M_  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 cf20.F{<  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ]MitOkX  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 3$>1FoSk  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     m@v\(rT.  
    X *"i6 *  
    更多的信息： xy[3u?,&s!  
    SsDmoEeB[  
    总结-组件 dOH &  
    m nX2a  
    @,7GaK\  
     #a,PZDaE  
    051 E6-  
    两条光谱线的可视化 f+)L#>Gl?  
    #'szP\  
     Hd ={CFip  
    精细vs.涂层反射率 ,m|h<faZL  
    F/kWHVHU[  
    D.u{~  
    0-Ku7<a  
    精细度vs.涂层反射率 _|I#{jK  
    q{LF>Wi  
    >tV{Pd1  
    内部谐振增强     \?k'4rH  
    -- 95Jz  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 z,p~z*4  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 A]oV"`f  
    Moza".fiN  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 7.j?U  
    6 V=9M:  
    VirtualLab Fusion技术 D'Df JwA  
    wJo}!{bN  
     qqY"*uJ'  
     
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