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摘要 Q#N+5<]J)# j+9
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@5wg' mM r83~o/T@ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 NM@An2
FNuu ',: 建模任务 wb[(_@eZ mc'p-orAf
kut|A 具有高反射(HR)涂层的标准具 TJpv"V
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(Pd>*G\ S:YL<_oI| 图层矩阵解算器 HWhKX:`l 0vp I#q
?~.&Y ?nW#qy!R b..$5 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 'EV *-_k 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 \zU5G#LQ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 6W=:`14 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 X t =bc 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 At(9)6n8 Y2-bU 7mo 更多的信息: h*UUtLi%WU c0&'rxi(B 总结-组件 7Ca\ (82 <&:&qngg
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YSo7~^1W" fZ}Y(TG/ 两条光谱线的可视化 5V~p@vCx Zk
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AnY)T8w 精细vs.涂层反射率 1fv~r@6s 9D{).f0
3|Sy'J0'K #<Nvy9 精细度vs.涂层反射率 i@5%d!J ':D&c
X3{1DY3@u 内部谐振增强 X'7S|J6s a~F@3Pd 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 _M[[vXH 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 |HGb.^f?
&hN&nH"PC 注意: 传输值取自艾里图案的中心 ;-pvc<_c< PbUcbb17 VirtualLab Fusion技术 w"agn}CK M#]|$\v(
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