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摘要 VPYcA>-%u oFyB-vpYQV
%qJgtu"8 9T2_2 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 $EIKi'!8 <:(;#&< 建模任务 S_*Gv O L\#G#1x8
l'Li!u 具有高反射(HR)涂层的标准具 3bd`q
$ /Xc9}~t6
l`6.(6 ~f[;(?39xZ 图层矩阵解算器 3J8>r|u;1' ,|8aDL?
cJ?,\@uuP 82)=#ye_P wYFkGih 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 H#X*OJ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 {]|<|vc;GI 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 _ZJQE>]nWu 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ~c+=$SL-= 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 B<myt79F_[ }/tf^@ 更多的信息: #CJET 9A{D<h}yk 总结-组件 "7fEL:|j 1bz^$2/k
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fGH)Fgo` <tO@dI$~> 两条光谱线的可视化 9%R"(X) rT-.'aQ2t
`X()"Qw 精细vs.涂层反射率 ~[aV\r? x~m$(LT
eC 2~&:$L Gys-Im6>~@ 精细度vs.涂层反射率 7[L%j;)bw f;+.j/ +
uARkf' 内部谐振增强 fMHw=wJQ EHl~y=9 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 R:'&>.AUw 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 18kWnF]n=
rHybP6C< 注意: 传输值取自艾里图案的中心 gDw(_KC ,9F3~Ryt( VirtualLab Fusion技术 KqBiF]Q ())_4 <
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