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摘要 rxp|[>O< $:s@nKgnD~
g1t6XVS$9 L@Rgiq|v-| Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 SS/vw% e=LrgRy+ 建模任务 {t;o^pUF Oti;wf G7o
P#TPI*qw 具有高反射(HR)涂层的标准具 ~ZafTCa; jI,[(Z>
,!>
~izB \]>821r 图层矩阵解算器 Mmz;
uy_ B~:yM1f@u4
bqn(5)% { ]I*RuDv} A^aY-V 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 V_3oAu54s{ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 FH}?QebSR 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 fV+a0=Z 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 hT%fM3|,e 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 %Za}q]? :s_o'8z7L 更多的信息: :uYZ1O |ts0j/A]Pi 总结-组件 ltOS()[X -O &>HA
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9or 两条光谱线的可视化 xR-;,=J {
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B-g uz[v 精细vs.涂层反射率 !=S?*E +j) 7bYwh8
6EC',=)6R e,Cc.T\o 精细度vs.涂层反射率 :G6CWE 09McUR@
>-c?+oy 内部谐振增强 XrUI[ryE bR3Crz(9G 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 p+b/k2Q 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 hV $Zr4'
]$#bNt/p 注意: 传输值取自艾里图案的中心 DD/B\ g]j&F65D VirtualLab Fusion技术 NtGJpT4YX [!U%''
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