-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-01-14
- 在线时间1914小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ,*4p?|A `r5$LaD
I$Qs;- ( qQpnLV 4 Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 6.5T/D*TT x}U8zt)yD3 建模任务 *5zrZ]^ !zPG?q]3
VIP7OHJh 具有高反射(HR)涂层的标准具 EFpIp4_Y -~eJn'W
SVjl~U-^ HL/bS/KX 图层矩阵解算器 ;})5:\h "#v=IJy&r
JKer//ng4 j8|g!>Nv Q0Nyqhvi 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 @i^~0A#q* 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 g}laG8 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 DC1'Kyk 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 5L:1A2Z?c 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 zkTp`>9R #j@71]GI 更多的信息: /h v4x9 h25G/` 总结-组件 aNyvNEV3C kc/{[ME
*. 3N=EO
0y<wvLv2C {]z4k[;.h 两条光谱线的可视化 %/>xO3"T {bO|409>W
[2ax>Yk$ 精细vs.涂层反射率 BmHwu{n' MNH1D!}
jBaB@LO9G 2F%W8Y3 精细度vs.涂层反射率 Soie^$
Y SuZ&vqS
0l;<5 内部谐振增强 _"4xKh) B?$ "\;& 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 b3wM;jv 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 "EU{8b
X(jVRr_m9 注意: 传输值取自艾里图案的中心 )
'j: 'qdPw%d VirtualLab Fusion技术 K[chjp!$l ogFKUD*h&>
9Lh|DK,nV/
|