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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 ,bl }@0A  
    :^3) [.m  
                               r6Yd"~ n  
    1"ZtE\{ "  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 p|t" 4HQ  
    k i<X^^  
    建模任务     uI7n{4W*x  
    'Z4}O_5_  
    Wn(!6yid  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 5p[}<I{  
    0vm>*M*p  
     V2Vr7v=Y"  
    #XDgvX >  
    图层矩阵解算器 CvY+b^;  
    P[ :_"4U  
     xR0T' @q  
    = UH3.  
    _Hv+2E[4Z  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 `s CwgY+  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 RVatGa0  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 [P`e @$  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .d1ff] ;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     u[b |QR=5  
    f$xXR$mjf  
    更多的信息： {=ox1+d  
    VV$t*9w  
    总结-组件 GEWjQ;g  
    10FiA;  
    - eG~  
     ,0W^"f.g{m  
    ^<CVQ8R7  
    两条光谱线的可视化 7Bp7d/R-  
    'E_~ |C  
     AEyvljv  
    精细vs.涂层反射率 uAn}qrqE9  
    CQ!pt@|d  
    SndR:{  
    q Q\j  
    精细度vs.涂层反射率 t%lat./yT  
    ?R)]D:`  
    U g"W6`  
    内部谐振增强     M|*YeVs9#  
    m-Eh0Zl>Z  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 g_Z tDxz  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 w>%@Ug["  
    KxkBP/`3Q  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ==dKC;  
    *jlIV$r_  
    VirtualLab Fusion技术 cpQ5F;FI  
    Xqf,_I=V  
     pE5v~~9Ikv  
     
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