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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 _:+W0YS  
    S-gL]r3G8  
                               @Rig@  
    _MR|(mV  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 F:n(yXA  
    ;x@9@6_  
    建模任务     Pw1V1v&> q  
    92]>"  
    yi"V'Us  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Z?oFee!4  
    cm%QV?  
     NAZxM9  
    mc?5,oz;pz  
    图层矩阵解算器 ?%{bMqYJD{  
    McNj TD  
     P}~6 yX  
    $bF.6  
    D4}WJMQ7s  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 &w*.S@  ;  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ;s3"j~5m)  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 1jh^-d5  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 nrUrMnlg  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     9TO  
    `dMOBYV  
    更多的信息： \x(J v Dt  
    0jrcXN~  
    总结-组件  F04`MY"  
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    Dgc[WsCEW  
     JZD27[b  
    $T^O38$  
    两条光谱线的可视化 %~4R)bsJ'  
    NJz8ANpro$  
     uB 6`e!Q  
    精细vs.涂层反射率 M86v  
    ZJP.-`U  
    X@JDfn?A  
    rD%(*|Y"c  
    精细度vs.涂层反射率 NjdAfgA  
    x,2+9CCU  
    @>qzRo  
    内部谐振增强     \hc}xy 0  
    . m7iXd{  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k^C;"awh  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 }qmZ  
    F{[2|u(4  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 jzI\Q{[m'  
    e&8pTD3  
    VirtualLab Fusion技术 ?qHW"0Tjn  
    +C/K@:p  
     UQPd@IVu6  
     
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