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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 0 9qfnQG  
    N\|BaZ%>|  
                               n?U^vK_  
    OG9 '[o`8  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 g(9kc<`3'D  
    Gt)ij?~  
    建模任务     /24}>oAH  
    hpgOsF9Lh  
    yf7|/M  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 .yDGwLry  
    9kh MG$  
     IXG@$O?y/  
    (%OZ `?`  
    图层矩阵解算器 -y>~ :.  
    n =WH=:&  
     tW a'[2L  
    4jSYR#Hqp`  
    {1qr6P,"  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 \E[6wB>uN%  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ':3[?d1Es  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 0' oXA'L-J  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 OE}FZCX F  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     >bd@2au9!  
    9)t[YE:U3!  
    更多的信息： &Q#*Nnb3  
    1$+8wDVwad  
    总结-组件 *AP"[W  
    684d&\(s  
    Bgn%d4W;G  
     Eh)VT{vp  
    e`:^7$  
    两条光谱线的可视化 <nb%$2r1  
    ;rF[y7\  
     H>W8F2VT  
    精细vs.涂层反射率 vK[%c A"  
    1= 7ASS9  
    T9XUNR{&  
    TEh.?  
    精细度vs.涂层反射率 !\$V?*p7  
    O@4J=P=w  
    -7]j[{?w  
    内部谐振增强     jCXBp>9$M  
    N#ZWW6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 22=sh;y+2  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 R :(-"GW'  
    J8i,[,KcE  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ~\AF\n%  
    r~2hTie  
    VirtualLab Fusion技术 3h:y[Vm#9y  
    e0h[(3bXs$  
     V.z8 ]iG  
     
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