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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 Oqy&V&-C  
    trAIh}Dj  
                               s?-J`k~q  
    WAWy3i  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 W2-1oS~ma  
    9EIOa/*  
    建模任务     '$m uA\  
    +\@}IKWl-?  
    n k@e#  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 s J~WzQ  
    HAOl&\)7"_  
     =U)e_q  
    {L9WeosQ  
    图层矩阵解算器 v5Qp[O_  
    rM5{R}+;  
     W:V:Ej7 h  
    ,MRAEa2  
    Q xg)Wb#  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 NL7CeHs5  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ER4j=O#  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 b0n " J`  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 QO|roE  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     }US^GEs(  
    0'Y'K6hG`  
    更多的信息： 1GA$nFBVC  
    64jFbbd-/  
    总结-组件 nJ{vO{N  
    PW)Gd +y  
    d> OLnG> F  
     Okt0b|=`1*  
    FvTc{"w /  
    两条光谱线的可视化 t=B>t S.hO  
    r'5~4'o$  
     +#Q\;; FNP  
    精细vs.涂层反射率 b!hs|emo;  
    R3,O;9i  
    AIK99  
    ~[H+,+XLY+  
    精细度vs.涂层反射率 =k +nC)e  
    !da [#zK  
    ~E J+<[/  
    内部谐振增强     7>sNjOt@M  
    ` <3xi9  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 E!_mXjlPc  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ln~;Osb  
    ljJi|+^$  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 pY T^Ug  
    g$P<`.  
    VirtualLab Fusion技术 zJ9[),;7B  
    XoZPz  
     Q(gc(bJV  
     
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