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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 *z};&UsF{  
    M+I9k;N6&  
                               -2j[;kgt}  
    %Fx ^"  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 sL,|+>7T^M  
    ^r,0aNzAs  
    建模任务     5"ooam3  
    #/5eQTBD  
    ]WK~`-3C^  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +BDW1%  
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    图层矩阵解算器 {9* l  
    ?_r{G7|D  
     ?dXAHY  
    YP[8d,  
    {y B0JL}n  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 zN9#qlfv  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 iRx`Nx<@  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ttls.~DG  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 @urZ  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     '<QFf  
    hAt4+O&P  
    更多的信息： lI~8[[$xd  
    1M b[S{  
    总结-组件 Vl3-cW@p  
    9m)gp19YA  
    ~7FS'!W,F  
     xm5?C>vu(  
    {jv+ J L"5  
    两条光谱线的可视化 =oM#]M'G+(  
    OT(0~,.GJ  
     e tL?UF$  
    精细vs.涂层反射率 7w]3D  
    +43~4_Oj  
    HCCq9us  
    #;5Q d'  
    精细度vs.涂层反射率 X|&H2y|*7  
    ?:&2iW7z  
    !D?(}nag  
    内部谐振增强     \ueCbfV!Z4  
    w~&#:F?  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9_4(}|"N|  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ]O{i?tyX  
    -ssmj8:Q\|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 1GIBqs~-  
    ^>>9?  
    VirtualLab Fusion技术 Mlr'h}:H  
    f*A B Im  
     eo@8?>}{X  
     
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