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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 "($"T v2  
    C"7-lz  
                               W *.j=?)\[  
    6>Dm cG:.  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 % H/V iC  
    /Pv dP#!  
    建模任务     X^o0t^  
    2pQ29  
    KATu7)e&~^  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 'LX]/ D  
    u,~/oTg O  
     (baBi9<P=  
    vCX 54  
    图层矩阵解算器 5.M82rR; ~  
    Gov]^?^D-  
     !FA[ ]d4  
    9 `+RmX;m  
    ~8 S2BV3@  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 K3dg.>O  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ,II-:&H  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Bcl6n@{2f  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 [6cF#_)*  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     r7FFZNs!  
    M!4}B  
    更多的信息： CpLLsphy  
    2'U+QK@  
    总结-组件 2%_UOEayU  
    FKWL{"y  
    }'u0Q6Obj  
     1|XC$0  
    XMlcY;W  
    两条光谱线的可视化 p N+1/m,  
    wX+KW0|>  
     lvp8{]I<  
    精细vs.涂层反射率 / n@by4;W  
    "30R%oL]=  
    ]@A31P4t|  
    *f-8egt-  
    精细度vs.涂层反射率 E}lNb  
    jI!WE$dt  
    W[B;;"ro  
    内部谐振增强     Z/oP?2/Afh  
    w%?6s3   
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 dV7~C@k6k8  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。  WfH4*e  
    Qm@v}pD  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 1X-fiQJe  
    yL #2|t(  
    VirtualLab Fusion技术 (W'3Zv'f  
    |Ye%HpTTv  
     >5MHn@  
     
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