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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 sYvlf0  
    kLpq{GUv:  
                               .])X.7@x  
    _N>#/v)Yi  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 R|` `A5zQ  
    VWzuV&;P  
    建模任务     \w(0k^<7  
    wb h=v;  
    Wt=@6w&  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 6UL9+9[C  
    UnEgsf N  
     >ffC?5+  
    -})zRL0!'  
    图层矩阵解算器 Q:T9&_|  
    F~bDg tN3  
     8pp;" "b  
    |Q";a:&$  
    Y> ~jho  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含  Q0,eE:  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 j'hWhLax  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 #^$_3A Y  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 D,(:))DmR  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     jB0Ts;5  
    ugTnz$  
    更多的信息： e$JATA:j  
    m&be55M;  
    总结-组件 `>)pqI%L[g  
    ?I"?J/zm  
    r}:U'zlC{  
     up0=Y o@  
    oJ/=&c  
    两条光谱线的可视化 -%{+\x2  
    @U1t~f^  
     9>`dB  
    精细vs.涂层反射率 *~b~y7C  
    )ZFc5m^+u  
    \~zm_-Hw@Y  
    }n'W0 Sa  
    精细度vs.涂层反射率 uK1VFW  
    H\9ePo\b~  
    LX=v _}l J  
    内部谐振增强     d3#e7rQ8  
    a$bE2'cb  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 YIb7y1\UM  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 )V*`(dn'zm  
    \g)?7>M|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ;lhW6;oI'  
    JLjs`oq h  
    VirtualLab Fusion技术 A:pD:}fm}D  
    ez5>V7Y  
     2k&Voa  
     
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