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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 8 EH3zm4  
    `r Ql{$9IC  
                          
    &t4(86Bmq  
    KguFU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Q)&Ztw<  
    iOxygs#p  
    建模任务
    >?<d}9X  
    sBL^NDqa2  
    fsu "Lc  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 VvKH]>*  
    [%:NR  
    7]bq s"t  
    [*v\X %+  
    图层矩阵解算器 mQJGKh&Pk  
    !^\/ 1^  
    )G&OX  
    ^;bkU|(`6  
    24fWj?A|^  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 +a;j>hh  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ,;y^|X  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 >sq9c/}X  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 K.~U%v}  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    mH"`46  
    0kfw8Lon  
    更多的信息: ~Ji A  
    XMdYted  
    总结-组件 X)+N>8o?N  
    k@'.d)y0`  
    M#m7g4*L!  
    KNhH4K2iP8  
    Xqk$[ peS  
    两条光谱线的可视化 uPPe"$  
    `OWB@_u5  
    B^{DCHu/  
    精细vs.涂层反射率 sEa:p: !  
    oCS NA.z  
    I\_R& v  
    >xN^#$ng}  
    精细度vs.涂层反射率 \N)FUYoHg  
    +nuQC{^>  
    j&9~OXYv  
    内部谐振增强
    g@L4G?hLn  
    57r)&8  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 FW4 hqgE@  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 %oo&M;  
    Z:Wix|,ONS  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 #*~Uu.T  
    jWz-7BO  
    VirtualLab Fusion技术 >*MB_m2|  
    {mDaK&]Oh  
    FYJB.lAT  
     
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