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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 ;) 5d wq  
    6~0S%Hz   
                               R"Hhc(H  
    a =*(>=  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 g[44YrRD  
    II)\rVP5  
    建模任务     -$?xR](f  
    z6B/H2  
    s,"<+80%  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 6/wAvPB$  
    4!d&Zc>C4  
     h5U@Ys  
    (X,Ua+{  
    图层矩阵解算器 +e`f|OQ  
    F5gL-\6  
     _,=A\C_b@  
    syA*!Up  
    )~T)$TS  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 XN5EZ#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 a:Y6yg%1>  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 `ndesP  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。  VD;Ot<%  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     cTHSPr?<  
    b>hNkVI  
    更多的信息： =_\5h=`Yx  
    kTAb <  
    总结-组件 m(s(2wq"f  
    (\, <RC\  
    7$<.I#x  
     #gMMh B=  
    wxkCmrV  
    两条光谱线的可视化 U>IllNd  
    YxlV2hcX;  
     a57Y9.H`o  
    精细vs.涂层反射率 dD?1te  
    iN"kv   
    4{(uw  
    Sf B+;i'D  
    精细度vs.涂层反射率 P_B#  
    Al09R,I;  
    ;3U-ghj  
    内部谐振增强     sNc(aGvy  
    @HxEp;*NH"  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 zIi|z}WJ  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 $\Bzp<SN`  
    h8Q+fHDYv  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ,a eQXI#@  
    2qo=ud  
    VirtualLab Fusion技术 Yc3\NqQM  
    yQ}$G ,x  
     n1 =B  
     
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