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摘要 &=:3/;c })J}7@VPO
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McZm0c` ?FR-aXx Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 X2:23j< #<u;.'R 建模任务 C'Y2kb MtoOIkQ
! gfd!R 具有高反射(HR)涂层的标准具 DpT$19Q+ F=#V/ #ia
-g|ji. 0bIgOLP 图层矩阵解算器 SN\c2^# Q#K10*-O6
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n cKoW5e|u )%n$_N n 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 [9NrPm3d 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?`O^;f 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 27$,D XD 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 nf1 `)tXG 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 O.xtY@'" I:UDEoQo 更多的信息: [8[<4~{ @_#\qGY 总结-组件 rcY &n^: <l5m\A
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Nv6"c<(L= MHye!T6fO\ 两条光谱线的可视化 u3pFH( IvI..#EzG
8VO];+N 精细vs.涂层反射率 |(PS
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Np r u X|ZAC!J5> 精细度vs.涂层反射率 ;ny 9q J1~E*t^
.V3e>8gw3 内部谐振增强 wEJzLFCn BNI)y@E^X 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ',LC!^:~Nw 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 tAI
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