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摘要 \x=j g0-~%A,
pgw_F b3.}m[] Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 IkP; i_| +/>XOY|Ie 建模任务 2{|mL`$04< ]?*'[
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具有高反射(HR)涂层的标准具 "'3QKeM1 fB=j51Lw
Ba}<X;B } U|~IJU3- 图层矩阵解算器 LjySO2 SG@E*yT1
=))VxuoN dZkj|Ua~ g3| 62uDF 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 HSj=g}r 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @[v4[yq- 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 W`F?j-4 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 c[+uwO~ 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 9j>LU<Z #BW:*$>} 更多的信息: Hrg -5_ 9Pql\]9"o 总结-组件 P TH'-G |t6 :4']
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p5Wz.n.<' 两条光谱线的可视化 }u.I%{4 aL|a2+P[`q
iE#I^`^V 精细vs.涂层反射率 tHmV4 H$ QV>hQ]L
,CIsZ1[VS [5-3PuT&9 精细度vs.涂层反射率 TFO4jjiC" h\/T b8
%\B@!4] 内部谐振增强 ldWrv7.P om{aws; 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /Jc54d 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 cH`ziZ<&m1
jm0v=m7 注意: 传输值取自艾里图案的中心 &~"e["gF= <"Yx}5n. VirtualLab Fusion技术 B*otquz rLE5fl5W
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