-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-07-16
- 在线时间1813小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Z5G]p4 7fju
d>%gW* z\fW )/ Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 e1
x^PT 4$
Dt8!p0 建模任务 M{?zvq?d ~+O `9&
lWx 具有高反射(HR)涂层的标准具 ;n`R\NO9 b?_e+:\UV
BBHK Deg!<[Nw 图层矩阵解算器 #zON_[+s9 {=3J/)='
GX4QaT% 'yp>L| #`W=mN(+k 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 gNShOu 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 v*E(/}<v 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 %35L=d[ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 CRH{E}> 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 j-7u>s-l E{tx/$f 更多的信息: %*wzO9w4
;{vwBDV!' 总结-组件 wfgqgPo!v 9O;cJ)tXY
V=pMq?Nr
UMV)wy|j
#j;Tb2&w 两条光谱线的可视化 F{<5aLaYti dsJm>U)
{esJ=FV\ 精细vs.涂层反射率 WRWWskP vCw<G6tD
qO-9
x0v# -LtK8wl^ 精细度vs.涂层反射率 JB3 "EFv {;s;.
F^QQ0h]2 内部谐振增强 ,7W:fwdR <$%X<sDkq 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 x2co>.i 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 NzQ9Z1Mxy
zN#*G
i' 注意: 传输值取自艾里图案的中心 h.)h@$d v2Bzx/F: VirtualLab Fusion技术 'Gx$Bj 98RKCc9h
pY@Y?Jj
|