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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 `N"fsEma  
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                               'yM)>]u"  
    KCed!OJ+  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 :1wMGk  
    B1A5b=6G<  
    建模任务     HSOdqjR*  
    eMvb*X6  
    @.X}S "yr  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 U{>eE8l  
    ]4>[y?k34  
     ft[g1  
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    图层矩阵解算器 +B@NSEy/+  
    #={L!"3?e  
     >cD+&h34  
    <z|? C  
    %d9UWQ  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 }x1mpPND  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hqY9\,.C  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 3HA$k[%7P  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 m!:7ur:Y  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     (;a O%  
    )8yee~+TN  
    更多的信息： sz wXr  
    8P!dk5 ,,O  
    总结-组件 MOG[cp  
    ~&~%qu  
    d/(=q  
     j#U?'g  
    43-%")bH  
    两条光谱线的可视化 8y!fqXm%)  
    _A)<"z0E  
     H+3I[`v  
    精细vs.涂层反射率 5 ^iU1\(L  
    k&DH QvfB  
    \sC0om,  
    ) ZOmv  
    精细度vs.涂层反射率 KF'H|)!K  
    %`}CbD6  
    >UJ&noUD#:  
    内部谐振增强     c)SSi@< cv  
    @WEem(@  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 BPrA*u }T  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 "\BP+AF  
    gH\r# wy|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 7"xd'\c@  
    /@RnCjc'  
    VirtualLab Fusion技术 2a=WT`xf ?  
    2,&lGyV#  
     *!9/`zW  
     
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