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摘要 PY{
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Rhv,
z6U\axO6 \K5DOM "# Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 U_M$#i{_ m,VOx7%n 建模任务 N:S/SZI =b%MXT
Yrb{ByO& 具有高反射(HR)涂层的标准具 DGRXd# *QpMF/<?
b,5~b&<h y`VyQWW 图层矩阵解算器 vq0Vq(V= bfFeBBi
R_ B7EP T5R-B=YWu *F+KqZ.2 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?Y$JWEPJ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Nkjza:f{ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 #H)vK"hF 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 VQ(j pns5 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 };mA^xO]j wrc,b{{[iM 更多的信息: lsJSYJG& |ax3sAg 总结-组件 h:W;^\J:- 9Z|jxy
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hcgMZT!<5 s6H]J{1F 两条光谱线的可视化 aI%g2q0f <->{
`[z<4"Os 精细vs.涂层反射率 ot,jp|N>f~ y0{u<"t%w
/'Ass(=6 ?5+.`L9H 精细度vs.涂层反射率 "fQ~uzg=" ({
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%<)2/|lCd 内部谐振增强 }QN1|mP2 %oF}HF. 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9/{(%XwX 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 spGb!Y`mR
9`T)@Uj2n 注意: 传输值取自艾里图案的中心 XR8,Vt)= L(/e&J@>< VirtualLab Fusion技术 Y4OPEo 5o qt"G[9;
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