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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 k5aB|xo  
    |D-[M_T5  
                               |E?r+]  
    N!~]D[D  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 kR97 )}Y  
    $L0sBW&  
    建模任务     7BU7sQjs  
    tE=09J%z  
    EB!ne)X  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 37kFbR@x  
    Jg=!GU/::  
     b;jdk w|  
    \_,p@r]Q  
    图层矩阵解算器 -V{"Lzrfug  
    >Vt2@Ee  
     [A =0fg5  
    1}la)lC  
    IXtG 36O  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ni{'V4A  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 axUj3J>  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (CIcM3|9C  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 f:+/= MW  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     8_4!Ar>2  
    .kFO@:  
    更多的信息： O>pX(DS L  
    A{q%sp:3~  
    总结-组件 -W^{)%4g  
    =QVkY7  
    'u v=D  
     #T8o+tv  
    &P9fM-]b s  
    两条光谱线的可视化 JS ^Cc  
    +^(_S9CO  
     @ywtL8"1~  
    精细vs.涂层反射率 }_KzF~  
    ^OQP;5 #K  
    C lf;+G0  
    #[9UCX^=  
    精细度vs.涂层反射率 fB9,# F  
    nE8z1hBUq  
    @Nsn0-B?ne  
    内部谐振增强     QnOgF3t  
    :5/Ue,~ag  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 4!{lySW  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 <e BmCrJ  
    dQ{qA(m  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 hOk9y=  
    2{=D)aC$f  
    VirtualLab Fusion技术 ~*1>)P8]#  
    vVo'f|fW  
     9k71h`5  
     
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