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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 dJaEoF  
    rEg+i@~  
                               (}6wAfGo  
    E2-ojL[6  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ]|;7R^o3|  
    >]^>gUmq  
    建模任务     _,t&C7Yf;  
    sb`&bA;i  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 Al=(sHc'  
    ~v^%ze  
     IPwj_jvw  
    e21E_exM0  
    图层矩阵解算器 /*AJ+K._  
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     7 kEx48  
    ]Jja  
    _E3U.mV  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 LG"c8Vv&)~  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 |)m*EME  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 <'yf|N!9G  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 44Q6vb?  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     'y'T'2N3  
    #4Dn@Gqh.Y  
    更多的信息： H&~5sEGa  
    dK[*  
    总结-组件 N[#iT&@T}/  
    "xL;(Fqu  
    '2 w XV;`  
     y;zt_O/  
    fEx+gQW_  
    两条光谱线的可视化 ;r gH}r  
    A*G )CG  
     oNiToFbQu  
    精细vs.涂层反射率 a v'd%LZP  
    zJz82jMm  
    |\i:LG1  
    ?SB[lbU  
    精细度vs.涂层反射率 i,mrMi c#  
    w> Tyk#7lw  
    DZ%g^DRZX  
    内部谐振增强     M(_^'3u  
    `Ev A\f  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 N$N;Sw  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 6T R8D\  
    Es.toOH$S  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 6V.awg,  
    +io;K]C  
    VirtualLab Fusion技术 7 JxE |G  
    L@)b%Q@a  
     +^/Nil  
     
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