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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 Z5G]p4  
    7fju  
                          
    d>%gW*  
    z\fW )/  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 e1 x^PT  
    4$ Dt8!p0  
    建模任务
    M{?zvq?d  
    ~+O`9&  
    lWx  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ;n`R\NO9  
    b?_e+:\UV  
    BBHK  
    Deg!<[Nw  
    图层矩阵解算器 #z ON_[+s9  
    {=3J/)='  
    GX4QaT%  
    'yp>L|  
    #`W=m N(+k  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 gNShOu  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 v*E(/}<v  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 %35L=d[  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 CRH{E}>  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    j-7u>s-l  
    E {tx/$f  
    更多的信息: %*wzO9w4  
    ;{vwBDV!'  
    总结-组件 wfgqgPo!v  
    9O;cJ)tXY  
    V=pMq?Nr  
    UMV)wy|j  
    #j;Tb2&w  
    两条光谱线的可视化 F{<5aLaYti  
    dsJm>U)  
    {esJ=FV\  
    精细vs.涂层反射率 WRW WskP  
    vCw<G6tD  
    qO-9 x0v#  
    -LtK8wl^  
    精细度vs.涂层反射率 JB3"EFv  
    { ;s;.  
    F^QQ0h]2  
    内部谐振增强
    ,7W:fwdR  
    <$%X<sDkq  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 x2co>.i  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 NzQ9Z1Mxy  
    zN#*G i'  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 h.)h@$d  
    v2Bzx/F:  
    VirtualLab Fusion技术 'Gx$Bj  
    98R KCc9h  
    pY@Y?Jj  
     
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