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摘要 ~tFqb<n .9[45][FK
tirIgZ kUx&pYv Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 $h[QQ- r`S< A; 建模任务 xda;
K~w g.JN_t5
s pLZ2]A 具有高反射(HR)涂层的标准具 <N,)G
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Mp$@`8X` E`H$YS3o 图层矩阵解算器 #3=P4FUz. 2f`nMW
DmVP }ov&.,vQ ]'~vI/p 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 B\*@krI@ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 &5{xXWJK 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 )&{K~i ;: 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 FSuAjBl0- 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 q*![AzFh Il@Y|hK 更多的信息: m4E)qCvy RyB~Lm`ZK% 总结-组件 ^04Q %, g42)7
,fIe&zq
gk BdR + w6dFb6~R 两条光谱线的可视化 + 1IQYa| EVX{ 7%
e6B{QP#jq 精细vs.涂层反射率 R2L;bGI*J I]"96'|N
9z;HsU v -V"22sR] 精细度vs.涂层反射率 <!$:8ls qjAWeS/
o`zr> 内部谐振增强 WnwhSr2 )Dp/('Z2 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 LWsP ya 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _{vkX<s
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v!*2 注意: 传输值取自艾里图案的中心 pu!d qF< G!8Z~CPF VirtualLab Fusion技术 qrvsjYi*w
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