关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 i|M^QKvF
vxN,oa{hf 1. 描述 Z]VmTB ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 O>FE-0rW}e ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 G_m$W3 zS ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 W_JFe(=3,
_4+'@u
# 2. 系统 Lmp_8q-Ej 9:[L
WT& 文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd
Q:rQ;/b0/ 3. 透镜系统组件编辑 b9 Gq';o
$eqwn&$n
■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 y+jOk6)W75
■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 qpjG_G5/
■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 O:G5n 5J
■ 包括序列光学表面和光学介质。 =H8
LBM
>s*ZT%TF b"J J3$D 4. 光线追迹系统分析器-选项 /^Ckk )7`2FLG 816OV
■ 分析器允许用户指定使用光源的光线选项。 "~:AsZ"7
■ 可以选择选取光线的方法: %t.L;G
— 在x-y-网格 c}$C=s5 h}
— 六边形 Qf=+%-$Y
— 自由选取 ;^yR,32F
■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 Y:;]qoF = ^NTHc^* 5. 系统的3维视图 8l<