切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 499阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5925
    光币
    23778
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 =b*GV6b  
    TY% c`Q5  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    )T9Cv8  
    @#hQ0F8  
    ]R\L~Kr  
    ZhCd**  
    建模任务 ffk >IOH  
    {wM<i  
     GpTZp#~;  
    v\bWQs1  
    9~=zD9,|iA  
    准直系统 JJ1>)S}X-  
    4I&(>9 @z<  
    JZ`u?ZaJ/s  
    to).PI?  
    序列追迹 j7E;\AZ^  
    1d+Kn Jy  
    C+t3a@&|  
    Y.I~.66s  
    总结—元件 G?v <-=I  
    T\Xf0|y  
    FWeUZI+  
    HdlO Ga6C  
    MPnMLUB$\  
    ,? <;zq  
    系统光线追迹结果 &;?+ ^L>  
    :4[>]&:u3  
    xKBi".wA  
    Kn$t_7AF^  
    完美的减反射(AR)涂层 R%r25_8  
    v(Kj6'  
    8>j&) @q  
    OU` !c[O  
    有内部反射 (D[~Z!   
    v(0ujfSR0  
    P%&|?e~D^  
     
    分享到