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摘要 :vXlni7N[M ?,z/+/: 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Yc3Rq4I'G 0[In5I I P*:9u> De`p@`+<#~ 建模任务 Bm$(4 Iw[7;B5v YwaWhBCIF
~cH3RFV ,SG-{ 准直系统 J.Fy0W@+k4 2H9;4>ss |PxTm krMO<(x+ 非序列追迹 tDQuimYu7 :lE_hY
.8dlf7* , zPc kM) 总结—元件… BN%;AQV }8eu 9~ )8&;Q9'o EWC{896,
<5E: ,< .C\## 系统光线追迹结果 +rFAo00E| bnZ~jOHl 4GqwY"ja e1/{bX5 完美的减反射(AR)涂层 #5X535'ze !]C=5~BBI "ph<V,lg 6-Id{m x 有内部反射 lPZYd8 {$QkerW3
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