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摘要 '_%Jw:4k - =Hr|AhE 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 uBXI*51{ f.{0P-Np [S% gYZgo 建模任务 hV%l}6yS& zq#o8))4X h=aHZ6v
T/ov0l_ utXcfKdt 准直系统 ;-F#a+2]! pJIH_H ^/,s$dj !}%giF$- 非序列追迹 fHiCuF E_z@\z MB
q:'(1y~ `u-}E9{ 总结—元件… DmYm~hzJ Kr<O7t0X TCYnErqk _VJb i,V
j EX([J1 a7Jr} "B 系统光线追迹结果 )gR&Ms4 biJU r^n Og["X0j j6\{j#q 完美的减反射(AR)涂层 iJ\#su Vq*p?cF . `s+qz '?d[ ip 有内部反射 {BJxRH"&6* Qcw/>LaL:
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