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摘要 jHxg(] mqg[2VTRP 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 fQ^45ulz 2Rp5 E^s "Oh(&N:U 6-@
X 建模任务 ;{e ;6Hq ;nPjyu'g *@|EaH/
]oN:MS4r fr1/9E; 准直系统 K0i[D" q>T7};5m2 :-=,([TJ 8tM40/U$ 非序列追迹 S;vE% Qifjv0&;u
fBptjt_ 75t\= 6# 总结—元件… YJlpP0;++ ?=%Q$|]- Z2]ySyt] \B'rWk33,
s.E}xv HrUQ X4 系统光线追迹结果 eUyQS I4A F]hKi`@ pr2b<(Pm 5y. n 完美的减反射(AR)涂层 A d0dg2Gw %d5;JEgA:g 0k?ph$ QeYO)sc` 有内部反射 f3>8ZB4 8#gS{
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