切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 997阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7377
    光币
    31026
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 '_%Jw:4k  
    -=Hr|AhE  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    uBXI*51{  
    f.{0P-Np  
    [S%  
    g  YZgo  
    建模任务 hV%l}6yS&  
    zq#o8))4X  
    h=aHZ6v  
    T/ov0l_  
    utXcfKdt  
    准直系统 ;-F#a+2]!  
    pJI H_H  
    ^/,s$dj  
    !}%giF$-  
    非序列追迹 fHiCuF  
    E_z@\z MB  
    q:'(1y~  
    `u-}E9{  
    总结—元件… DmYm~hzJ  
    Kr<O7t0X  
    TCYnErqk  
    _VJb i,V  
    j EX([J1  
    a7Jr} "B  
    系统光线追迹结果 )gR&Ms4  
    biJU r^n  
    Og["X0j  
    j6\{j#q  
    完美的减反射(AR)涂层  i J\#su  
    Vq*p?cF .  
    `s+qz  
    '? d[ ip  
    有内部反射 {BJxRH"&6*  
    Qcw/>LaL:  
    H=dj\Br`  
     
    分享到