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摘要 qqu.EE TP"1\O 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 .>mr%#p :LQ5u[g$\ :{ur{m5bX TzntO9P+ 建模任务 lr{?"tl_ Z-U-N ]_8qn'7
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"F}'~HWZp ZWm8*}3]7_ 系统光线追迹结果 Ik[s Ht-t1q :mS# h@l 4_UU<GEp 完美的减反射(AR)涂层 Hzhceeh_+ Mze;k3 `$~RxzZ g Kv rX{F= 有内部反射 3 AHY| je6CDF qw
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