切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 381阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5302
    光币
    20742
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 3D\.S j%  
    $qQ6u!  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    $';'MoS  
    G+[>or}  
    O,qR$#l   
    KtEM H  
    建模任务 DJ} xD&G  
    #2yOqUO\  
    !nVX .m9  
    a,cDj  
    MBcOIy[&A  
    准直系统 |BH, H  
    rA*,)I_v@  
    l0D.7>aj  
    Z+t?ah00  
    序列追迹 4)Pt]#Ti  
    eV9:AN}K=  
    l$m^{6IYc  
    w?M*n<) O  
    总结—元件 AaTtY d  
    WS(@KN  
    jn}6yXB  
    *kyy''r  
    xDADJ>u2K  
    =Bo0Oei  
    系统光线追迹结果 Ur&: Rr  
    E=s`$ A  
    '2[ _U&e  
    't)j  
    完美的减反射(AR)涂层 /4~RlXf@  
    #i2q}/w5`C  
    3;:xEPb._6  
    (OG@]|-  
    有内部反射 b:O4d<+%  
    |?8CV\D!  
    -IX;r1UD  
     
    分享到