切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 434阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5627
    光币
    22287
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 b?FTwjV+#  
    H Ql_ /:Wx  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    <sq@[\l}a  
    -KG3_kE  
    :X;AmLf`2u  
    U i ~*]  
    建模任务 SRx `m,535  
    I7nZ9n|KU  
    )#l,RJ(  
    ~ -hH#5  
    |%~sU,Y\(  
    准直系统 /N&)r wc  
    13nXvYo'  
    W!BIz&SY:-  
    m*S[oy&  
    序列追迹 ]h$,=Qf hD  
    V+kU^mI  
    7!E?(3$#"  
    X4R+Frt8  
    总结—元件 ~y(- j[  
    L4'FL?~I  
    IL]VY1'#  
    yS[Z%]bvU  
    -v(.]`Wo&;  
    l;dZJ_Ut$  
    系统光线追迹结果 kt;| $  
    058+_xX  
    HwH Wi  
    6DG:imGl  
    完美的减反射(AR)涂层 Q7 Clr{&  
    !be6}  
    hd2 X/"  
    ]' F{uDm[  
    有内部反射 JL4\%  
    ui:  
    L@|W&N;%a  
     
    分享到