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摘要 3D\.Sj% $qQ6u! 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 $';'MoS G+[>or} O,qR$#l
KtEMH 建模任务 DJ}xD&G #2yOqUO\ !nVX .m9 a,cDj MBcOIy[&A 准直系统 |BH,
H rA*,)I_v@ l0D.7>aj Z+t?ah00 非序列追迹 4)Pt]#Ti eV9:AN }K= l$m^{6IYc w?M*n<)
O 总结—元件… AaTtYd WS(@KN jn}6yXB *kyy''r xDADJ>u2K =Bo0Oei 系统光线追迹结果 Ur&: Rr E=s`$ A
'2[ _U&e 't)j 完美的减反射(AR)涂层 /4~RlXf@ #i2q}/w5`C 3;:xEPb._6 (OG@]|- 有内部反射 b:O4d<+% |?8CV\D! -IX;r1UD
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