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摘要 0Y)b319B [l-zU}u&v 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 HoH3.AY X yx{Ac|<mR ]N!SG@X+ >,@Fz)\:{' 建模任务 )N)ziAy} :54|Z5h| ?9H7Twi+T
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O.&6J/ 准直系统 R:E6E@T Qc[[@=S% C;dA?Es>R s.=)p"pTd 非序列追迹 AN^ , F|xXMpC.f
)tFFa*Z' sn5N9=\+T 总结—元件… +}m j6I KS*W<_I k`oXo% xBgf)'W_Z
1yX&iO^d RVI],O 系统光线追迹结果 R&ou4Y:DG &=$8
v"&^ 82O`<Ci Zr}`W\ 完美的减反射(AR)涂层 Y1`. *9PS2*n jvu,W4 V9Au\ 有内部反射 }Lb];hww1 !~ -^s
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