切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 452阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5754
    光币
    22922
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 0Y)b319B  
    [l- zU}u&v  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    HoH3.AY X  
    yx{Ac|<mR  
    ]N!SG@X+  
    >,@Fz)\:{'  
    建模任务 )N)ziAy}  
    :54|Z5h|  
    ?9H7Twi+T  
    7/PHg)&  
    O.& 6J/  
    准直系统 R:E6E@T  
    Qc[[@=S%  
    C;dA?Es>R  
    s.=)p"pTd  
    序列追迹 AN^,  
    F|xXMpC.f  
    )tFFa*Z'  
    sn5N9=\+T  
    总结—元件 +}mj6I  
     KS*W<_I  
    k`oXo%  
    xBgf)'W_Z  
    1yX&iO^d  
    RVI],O  
    系统光线追迹结果 R&ou4Y:DG  
    &=$8 v"&^  
    82O`<Ci  
    Zr}`W \  
    完美的减反射(AR)涂层 Y1`.  
    *9PS2*n  
    jvu,W4  
    V9Au\  
    有内部反射 }Lb];hww1  
    !~ -^s  
    7Mo O2  
     
    分享到