切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 458阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-04-04
    摘要 [1b6#I"x  
    kmlG3hOR,  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    +M'aWlPg,  
    /l,+oG%\  
    7fju  
    AH2 _#\  
    建模任务 z\fW )/  
    \3Dk5cSDk+  
    I@0z/4H``  
    A~Z6jK  
    >4n+PXRXX  
    准直系统 ~;M)qR?]W  
    #l*a~^dhqC  
    .dx 4,|6  
     0]AN;  
    序列追迹 4_PCq Ep)  
    Ih.rC>)rx  
    Deg!<[Nw  
    #z ON_[+s9  
    总结—元件 {=3J/)='  
    GX4QaT%  
    M.>^{n$ z  
    4k8*E5cx  
    v*E(/}<v  
    %35L=d[  
    系统光线追迹结果 =p <?Hu  
    {?E<](+0  
    Kv(z4z  
    d/3J' (cq  
    完美的减反射(AR)涂层 u!Xb?:3uj  
    ypx: )e"/  
    W'a(oI  
    4/S=5r}  
    有内部反射 gtiEhCF2W  
    .%=V">R  
    +l`65!"  
     
    分享到