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光学测量＞显微 ,S7~=S QYFN:XZ 任务/系统视图 +5N^TnBtBL 'Hcd&3a  n-L]YrDPK[ Q u,)wfp~ 亮点 Cnb[t[hk+j * q\HFI  hV Tyv"
(\[jf39e 显微镜系统中光栅的全矢量分析 vr8J*36{ 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 N9fUlXhR 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 vV\/pu8 N6-2*ES 说明：光源 t*ri`}a{v ?eY chVq  !>"INmz A3<P li  kV]%Q3t Vj9`[1}1Z 说明：透镜系统 r!-L`GUm >G w%r1)  *NX*/(Q 说明：样品结构 )%nt61P\W C {H'  4Tbi%vF{ \?p9qR;"4 说明：探测器 T3 B |r<>I ^OGH5@"  q%)*,I<
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 [|P]S t- CC]@`R5 结果：3D光线追迹 ~Krg8s!F& )f_"`FH0d  b(.o|d /P : \ON+LQr  d-K5nRyI 5 p(t") 结果：光线追迹 = *U%j oM?
C62g\  (p#;6Xhf da7x 1n$D 结果：光线追迹衍射级数 7\|NYT4 y:(C=*^<t  A16- NnSI)*%' 结果：场追迹采样平面 o<eW g E l 8.D3  SE7 (+r V~%WKQ 结果：场追迹焦平面 z|4@nqqX ybuSqFy`$  3M>FU4Ug2 E6KBpQcd[ 结果：减小光栅周期 'yAoZ P\|
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