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光学测量>显微
_i/x4,=xv OH(w3:;[8 任务/系统视图 %OIJ. SH009@l_8 TbUouoc u{6b>c|,X 亮点 y:m
;_U,%c u . xUM Ug VLHwkvk !nBE[& 显微镜系统中光栅的全矢量分析 WRBCNra 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 -E$(<Pow~\ 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 i7%v2_ ~$WBc qo 说明:光源 ]FQO@y Xxz_h* +E7Os|m f"{|c@% mm l`,t8 UdiogXZ 说明:透镜系统 8JFns-5 A"V($:>U "CX@a" 说明:样品结构 =o!1}'1 }} Fv<^\q MXsCm( c)b/" 说明:探测器 7xhBdi[ dQ v!>(1ROQ.= X0}+X'3 *\n-yx]
TEzMFu+V &2P+9j> 结果:3D光线追迹 Ue=Je~Ri;9 ZNKopA(=|% C-}@.wr( MyJ\/` 8 s-Z< t)i{=8rq 结果:光线追迹
4GN '#oNOU _<8~CWo: gfW_S&&q 结果:光线追迹衍射级数 OxC8xB;` )Z=S'm
k4_ GBvgVX< l9P=1TL 结果:场追迹采样平面 4#D<#!]^ sU=7)*$ DD?zbN0X k$ORV U 结果:场追迹焦平面 #H5i$ o XaxM$ T[L7-5U0 MB!_G[R
结果:减小光栅周期 _1hiNh$ Cd7imj 随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 eVetG,[" #$^vP/"$
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