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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 a2eE!I  
    #cqI0ny?G  
    任务/系统说明 C40o_1g  
    c-ql  
    0CK3jdZ+X  
    HbJ^L:/  
    亮点 A}(o1wuw  
    L.:8qY  
    <4582x,G  
    'i4L.&  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; -0P9|;h5  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 !i\ gCLg2_  
    VPb8dv(a3  
    具体要求:光源 Yw_!40`  
    x7/";L>  
    W"&,=wvg2  
    ^ U~QQ  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 }ldpudU  
    o_03Io ~Bf  
    }l Gui>/D  
    /dHIm`. Z  
    od^ylg>K  
    mp z3o\n  
    ^%!#Q].  
    ]`M2Kwp  
    具体要求:分束器 R[OXYHu  
    <6X*k{  
    IL`=r6\  
    I moxg+u  
    具体要求:参考光路反射镜 "<LWz&e^^  
    m~uT8R#$  
    K|I<kA~!H  
    V)P8w#,  
    a4pewg'  
    M~~)tJYsu  
    具体要求:测试光路反射镜 L$,yEMCe  
    [v`kqL~  
    egVKAR-  
    zE~Xx p  
    具体要求:探测器 QQv%>=_`  
    hw(\3h()  
    mi[8O$^iJ  
    h`iOs>  
    结果:3D光线追迹 ;%;||?'v  
    Xt +9z  
    (e0(GOqf4  
    6[S IDOp*^  
    结果:场追迹 bF5"ab0  
     :>U+HQll  
    dFy GI?  
    \`E^>6!]q  
    结果:移动样品的场追迹结果 4u+0 )<  
    :Qh rh(i  
    @w`wJ*I4,  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 9Vo*AK'&U  
     
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