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光学测量 > 干涉测量 @k||gQqIB U,7}VdO 任务/系统说明 9
f=~E8P sff4N>XAl< dnCurWjdk -nDY3$U/ 亮点 j. mla 5odXT *n "43F.!P gvoYyO#cm •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; (W+aeB0 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ].Xh=7&2{ )_SpY\J 具体要求:光源 N}KL' U}DLzn|w y'm5Z-@o6 '>[Ut@lT; 具体要求:用于准直的消色差透镜 dK>sHUu =TJ9Gr/R&: O9_SVXWVw 3a}53?$ '+7"dHLC;
>Ft)v ;Pe=cc"@ [I`:%y 具体要求:分束器 x.Tulo0/ }mpFo2 Lwn ]EqwDw4 具体要求:参考光路反射镜 ;2[),k u9N/9 +`uNO<$~f 63/a 0Yn 4`Lr^q}M+ {%c&T S@s 具体要求:测试光路反射镜 ]Hg6Mz>Mj 2WC$r8E 5}Z>N,4 v Q,<Ke+d 具体要求:探测器 IYv.~IQO L}rYh`bUP[ (C0Wty 8J:=@X^} 结果:3D光线追迹 DMlr%)@{ Y=t?"E /QT>" 7[I +1 结果:场追迹 '3?-o|v@D T"1=/r$Ft TG%w 8*Ty`G&v 结果:移动样品的场追迹结果 S_?sJwM MV]`[^xQ5 6Ta+f3V 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ),Hr
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