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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 @k||gQqIB  
    U,7}VdO  
    任务/系统说明 9 f= ~E8P  
    sff4N>XAl<  
    dnCurWjdk  
    -nDY3$U/  
    亮点 j. mla  
    5odXT *n  
    "43F.!P  
    gvoYyO#cm  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; (W+aeB0  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ].Xh=7&2{  
    )_SpY\J  
    具体要求:光源  N}KL'  
    U}DLzn|w  
    y'm5Z-@o6  
    '>[Ut@lT;  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 dK>sHUu  
    =TJ9Gr/R&:  
    O9_SVXWVw  
    3a}53? $  
    '+7"dHLC;  
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    ;Pe=cc"@  
    [I`:%y  
    具体要求:分束器 x.Tulo0/  
    }mpFo 2  
    L wn  
    ]EqwDw4  
    具体要求:参考光路反射镜 ;2[),k  
    u9N /9  
    +`uNO<$~f  
    63/a 0Yn  
    4`Lr^q}M+  
    {%c&T S@s  
    具体要求:测试光路反射镜 ]Hg6Mz>Mj  
    2WC$r8E  
    5}Z>N,4  
    vQ,<Ke+d  
    具体要求:探测器 IYv.~IQO  
    L}rYh`bUP[  
    (C0Wty  
    8J:=@X^}  
    结果:3D光线追迹 DMlr%)@ {  
    Y=t? "E  
    /  QT>"  
    7[I +1  
    结果:场追迹 '3?-o|v@D  
    T"1=/r$Ft  
    TG% w  
    8*Ty`G&v  
    结果:移动样品的场追迹结果 S_?sJwM  
    MV]`[^xQ5  
    6Ta+f3V   
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ),Hr  
     
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