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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 +4+c zfz  
    3^iVDbAW{  
    任务/系统说明 _*cKu>,O  
    rZ&li/Z  
    WfHa  
     LYr9a(  
    亮点 yeam-8  
    RivhEc1h%  
    EE*|#  
     Qxfds`4V9i  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 1vYa&!  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ,$ Cr9R&/  
     y@SI)&D  
    具体要求：光源 b7y#uL1AE  
    N2 t`  
    0p+3 6g  
    'nS>'yYH#  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 ++eT 0  
    CzI s_/  
     @{Dfro  
    p,tkVedR  
    yg4#,4---b  
    8|nc( $}~  
    >S8 n 8U  
    ]Ot=At  
    具体要求：分束器 B.!&z-)#  
    &fsk ESV0  
    \t%iUZ$  
     1SH]$V4C  
    具体要求：参考光路反射镜 >[&ser  
    7'gk=MQc  
    QX42^]({;c  
    w}s5=>QG%  
    e jR_3K^  
     \}\# fg  
    具体要求：测试光路反射镜 Dk&(QajL  
    ac6@E4 _  
    +~|Jn_:A f  
     BSy{"K*M  
    具体要求：探测器  :YPi>L5  
    FAdTp.   
    Z ;[xaP\S  
    -zWNQp$  
    结果：3D光线追迹 "3'a.b akw  
    'V8o["P  
    }|&^Sg%95  
    KdD~;Ap$  
    结果：场追迹 "Pu917_P  
    +p&zM3:9w  
    n]7rHV}G  
     g}IOHE  
    结果：移动样品的场追迹结果 *>HS>#S  
    XB@i{/6K  
    8C[eHC*r  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 wn|;Li  
     
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