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光学测量 > 干涉测量 gdKn!; ,w# ,y%4Qv G7a 任务/系统说明 *W&}}iL
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. {}=!>U2 亮点 d} {d5 -_a
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Z&w/J P? •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 34e > R?J •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； L 2GUrf
$MPh\T 具体要求：光源 LFHzd@Y7" "jFRGgd79  y53f73Cg X4z6#S 58 具体要求：用于准直的消色差透镜 l%^VBv>
2 d=J$H < (^)" qs B  g4"0:^ / ,|u^-J@
wE u"X  hnf7Q l} m5w ZS>@ 具体要求：分束器 =iZj&B X hynX5,p;.  (}jYi*B
S="teH[ 具体要求：参考光路反射镜 <.6bni
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H/Wo~$ 具体要求：测试光路反射镜 |#x]FNg V/; / &  H[S 4o,
`EjPy>kM 具体要求：探测器 ]EhU8bZ H7= [sL^  `tZ-8f vI)-Zz[3 结果：3D光线追迹 O5;$cP: =5PN H 2 
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rEl bzL"&< 结果：场追迹 >AsrPU[ Ie14`'
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'=^$ ;3Z 结果：移动样品的场追迹结果 K}( 0 H [P Q:/BC= ~  2G4OK7x 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 "N|gU;~W
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