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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量 > 干涉测量 TMD*-wYr  
    @o6!  
    任务/系统说明 XPLm`Q|1#t  
    : cPV08i  
    E%?> %h  
    z+c'-!e/  
    亮点 ~xJ ^YkyH  
    _^D-nk?  
    #V.u[:mO  
    "iJAM`Hi  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; G_}oI|B  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ~i0>[S3 '  
    j:$Z-s  
    具体要求:光源 MhjIE<OI=  
    Of#"nu  
    f\z9?Z(~  
    wj8\eK)]L  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ]} pAZd  
    (!a\23  
    :4)lmIu  
    w+{{4<+cd  
    [$M l;K  
    o\qeX|.70  
    (`<B#D;  
    MEOfVh  
    具体要求:分束器 *fSX3Dk  
    <bJ~Ol  
    }Qh%Z)  
    a YY1*^  
    具体要求:参考光路反射镜 [OFT!=.y &  
    UMH~Q`"  
    'i;ofJ[.c  
    ie/QSte  
    W+.?J 60  
    GYonb) F  
    具体要求:测试光路反射镜 <)+;Bg  
    =nCV. Wf  
     HS|x  
    V/ZWyYxjLi  
    具体要求:探测器 9Dyw4'W.N  
    R%JEx3)0m  
    mG%cE(j*D  
    nTsPX Tat  
    结果:3D光线追迹 Y5TBWcGU%  
    7N0m7SC  
    tfv@ )9  
    3ep L'My$  
    结果:场追迹 we?t/YB=  
    M+4S>Sjw  
    th=45y"C  
    <4;f?e u  
    结果:移动样品的场追迹结果 d%Ku 'Jy  
    CF5%&B  
    R xWD>:  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 n4zns,:)/  
     
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