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光学测量 > 干涉测量 \^7D% a=;C <pAN{ : 任务/系统说明 &DnX6%2
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 G&P[n8Z$
n)]]g3y2 亮点 !L..I2'
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M'Ec:p=X" •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； (of=hzT^? •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； P+tn XT>nE
l/|bU9o /u 具体要求：光源 1Yj ^N" = |3tq.JU  {(o$? = |8xu*dVAp4 具体要求：用于准直的消色差透镜 ][Ne ;F6 TL%2?'G I)@b#V=  zCOzBL/1q -)S(eqq1 1: cD\  9
U6cM-p? Q};g~b 3 具体要求：分束器 !3Xu#^Xxj JA .J~3  x x^7
y[ikpp#ozY 具体要求：参考光路反射镜 xj/Iq<'R*O #=>t6B4af  | Vl Q0{
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G 5JZpB#o 具体要求：测试光路反射镜 y'gIx*6B@ N{6
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"f 具体要求：探测器 #;l~Y}7' ?`jh5Kw%y  :i;iSrKy q-3,p . 结果：3D光线追迹 6gUcoDD hrLPy V:  zkFx2(Hq-f '"# W!p 结果：场追迹 W <W5ih,# RtE2%d$ JT
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Re`'dde= 结果：移动样品的场追迹结果 bf9LR 1 _z`g@[m:t  }p2YRTH x 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 1 uKWvp0\
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