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光学测量 > 干涉测量 #<?j784 a|fyo# L 任务/系统说明 EJ86k>]
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CUYp(GU 亮点 .AV--oA~
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Ak1f*HGl| •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； xXyzzr1[ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； #}A!Bk
on(W^ocnD 具体要求：光源 VR_1cwKBM 3kJAaI8  ~=c#Ff =Z 9J1& g(?>- 具体要求：用于准直的消色差透镜 ^beW*O! >Cf]uiR SR\#>Qwx_  sGzd c ,@2O_O`: cW3; 5  TX 12$p\ QXF>xZ~ 具体要求：分束器 zg^5cHP\ v[~ U*#i  I]} M K ?
D@0eYX4s 具体要求：参考光路反射镜 .&L#%C sSvQatwS  D@f%&|IZ
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txliZ|.O 具体要求：测试光路反射镜 )ll}hGS @jjp\ ~  0$P40 7
(D))?jnC 具体要求：探测器 ^&.F ! (3 _2h4O  3J@# V ' &hZcj dB 结果：3D光线追迹 :yw0-]/DD &;,w})  ey y&JjV s }z[ O_S,X 结果：场追迹 rY c?y (z"Cwa@e
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JSO> rpO 结果：移动样品的场追迹结果 .*v8*8OJ& 3"q%-M|+Q  _a c_8m 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 "I B)= Hc
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