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光学测量 > 干涉测量 \ne1Xu:hM IR;l{q&` 任务/系统说明 fn.KZ NIgqdEu1
8C]K36q 01=nS? 亮点 7irpD7P>
Z,zkm{9*
zU7co.G jq%%|J.x •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; scX'>\w&c •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; yN[aBYJx,M ! yqez 具体要求:光源 GT.1,E,Vw F
t/yPv
-yOwX2Wv5; }Q$}LR@ 具体要求:用于准直的消色差透镜 yq. <,b=87 U\*]cw Ov8^6O fg$#ZCi &1/OwTI4J "DaE(S& Zt_~Zxn3 lXtsnQOOK 具体要求:分束器 u7&q(Z&&O &Va="HNKt <OY (y#x q QcQnd2K 具体要求:参考光路反射镜 e"oTlB o|:c{pwq dG&^M".( UQZl:DYa
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[ZY;g:p m)7Ql!l 具体要求:测试光路反射镜 Q
XSS FKZ'6KM&A {W+IUvn g(_xo\ 具体要求:探测器 J':X$>E| JBhM*-t(M1 vA3wn>< YMN=1Zuj? 结果:3D光线追迹 |kY}G3/ Vv54;Js9 OZc4 -5 gY'-C 结果:场追迹 *\.8*6*$! )J*M{Gm 6i
AH{#RD 1rx,qfCq 结果:移动样品的场追迹结果 },n? ;6eBfMhL >?Duz+W) 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 IM% ,A5u
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