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光学测量 > 干涉测量 v*e=oyx[ <.6$zcW 任务/系统说明 ((_v>{ TqMy">>
#1f8A5< *W<g%j-a 亮点 u:4?$%rB
D'Sdz\:4
SbpO<8}8 C[(Exe •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; v~HfA)#JK •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; [k6 5i ,t>/_pI+= 具体要求:光源 FY]z*= nbz?D_ ~4~>;e L~(`zO3f 具体要求:用于准直的消色差透镜 T\Q)"GB Eq/%k $6#1 3&JsYQu l4Y}<j\; :j,e0#+sA b$ )XS ^?tF'l` +hS}msu' 具体要求:分束器 Lpdp'9>I "%Eyb\V! wXsA-H/` i'9 具体要求:参考光路反射镜 PDssEb7 a|@^N N5[fwz
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Eyu?T 具体要求:测试光路反射镜 yeNC-U< }3!.e b9([)8 x3my8'h@ 具体要求:探测器 =lG5Kc{B UvOB`Vj BY$%gIB6> [0}^w[ 结果:3D光线追迹
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`Sd< 结果:场追迹 #sEbu^ t
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E}mzi 结果:移动样品的场追迹结果 mOyBSOad4 u U>Bun
Qp${/ 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 '
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