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光学测量>显微 }NjZfBQW` %xt;&HE 任务/系统描述 "C0?s7Y -pmb-#`M
5{/uHscwLa Q":,oZ2 亮点 r>: ~!o* yPrF2@#XZ/
\?v?%}x r[?GO"ej5 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 }7non 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 dx@|M{jz' 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 SzP`(}AU f=k_U[b4> 说明:光源 {V,aCr [Dhqyjq TAxu ]C$P H )51J:4 说明:透镜系统 N5[^W`Qf l-Be5?|{_ 2&"qNpPtE ;,8 )%[ 说明:样品结构 [rkw k\m* WNY:HH X=+|(A,BdY 80zpRU" 说明:探测器 1:JwqbZKJ 5U-SIG* _9g-D9 F r!FV4 结果:3D光线追迹 oXjoQ vgE
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h ;@c%Vm C}#$wge
结果:场追迹矩形光栅 wn^#`s!]U @R-11wP)M AsD$M*It 5(gWK{R)* 结果:场追迹锯齿形光栅 z&cM8w: 6Df*wi!jI
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