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光学测量＞显微 xqC<p`?4 <ii1nz 任务/系统描述 k)K-mD``U 3|+f si)x
 @IY?DO &f<1=2dm 亮点 RL
Zf{Q>
Te@6N\g
 $dp#nyP "SU-^z 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Ji:iKkI 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 8{<[fZy C 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 9N
D+w6" /Ej]X` F 说明：光源 4G8nebv ,;iBeqr5  ?6iatI ! [x<6v}fRn 说明：透镜系统 AMD?LjY~ gGX0+L@E  t0J5v ;
d[]p_oIQq 说明：样品结构 f3TlJ!!U H[7cA9FI  ^~6] 0$yJ `<}V
!Lo 说明：探测器 ?S&w0}R U7"BlT!V\  @\T;PTD- J/x@$' 结果：3D光线追迹 HD:%Yv 3K#mF7)a
 r[v-?W' %]<RRH.w 结果：场追迹矩形光栅 5{ FM#@ uPFHlT  .b#9q6F-/
PyMVTP 4 结果：场追迹锯齿形光栅 0Ox|^V  E./__Mz@
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