切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 441阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 s*pgR=dZZ  
    vV9q5Bj:  
    任务/系统描述 vo DTU]pf  
    wq&TU'O  
    ~v<,6BS<$Z  
    \=/^H  
    亮点 ~cx/>Hu  
    sh"\ kk9  
    !23#Bz7  
    W|kKH5E&  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ` 5Qo*qx  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 (yel  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8.Ty ,7Z  
    M9b_Q  
    说明:光源 L$+ap~ld  
    q y8=4~40  
    .<`Rq'  
    :xT=uE.I  
    说明:透镜系统  HRKe 7#e  
    Et+N4w  
    Ci ? +Sl  
    ^*]0quu=z  
    说明:样品结构 d98ZC+q  
    q|%(47}z  
    29#;;n}p  
    v(t?d  
    说明:探测器 A %s"WSx,  
    r`L$[C5I  
    i.Qy0  
    { O*maE"  
    结果:3D光线追迹 c.PPVqx  
    ,9f$a n  
    YDyi6x,  
    %!HmtpS  
    结果:场追迹矩形光栅 {^bs }($J  
    @3K 4,s  
    of ^N4  
    'qhA4W9  
    结果:场追迹锯齿形光栅 (v^L2Po  
    ;o#R(m@Lx  
     
    分享到