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光学测量>显微 RoM*Qjw 85@6uBh 任务/系统描述 +zdq+<9X p2NB~t7Z
@%@^5 IO)Ft 亮点 $E~Lu$| OB
i!fLa
CD<u@l,1 'm!11Phe 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 em9]WSfZ@` 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ?L#SnnE 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ~z1KD)^ 9B;Sk]y 说明:光源 q}A3"$-F S~(VcC$K xo_k"'f+ \-iUuHP 说明:透镜系统 0?L$)T-B Y)5uK:)^ AA& dZjz +VW]%6+ 说明:样品结构 y $DB B)cb}.N: m}'@S+k^ j83Y'VJJC 说明:探测器 S+xGHi) I/-w65J] b!HFv;^N Uus)2R7 结果:3D光线追迹 awW\$Q i\z0{;f|GX
+bd{W]={ 5F+ f '~ 结果:场追迹矩形光栅 .&Gtw
_ zr9Pm6Rl 3Co>3d_ R]sjG< 结果:场追迹锯齿形光栅 6)<o O( dZYJ(7%
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