切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 476阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 Ry z?v<)h  
    l-}KmZ]  
    任务/系统描述 rfs(#  
    $Jp~\_X  
    :&qhJtGo  
    CbOCk:,g5  
    亮点 yHNuU)Ft  
    i5"5&r7r  
    T~Ly^|Ihz  
    J!hFN]M<<  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 }3Y <$YL"R  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 WULAty  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 zBY~lNB  
    6YmP[%  
    说明:光源 s\gp5MT  
    B>z?ClH$R  
    7?J3ci\  
    >;4!O%F  
    说明:透镜系统 <sX VW  
    nBz`q+V  
    :+ Jt^ 6  
    u7s"0f`  
    说明:样品结构 #G#g|x*V  
    Icx7.Y  
    Fi2xr<7"  
    sI,W%I':d  
    说明:探测器 +q{[\#t5  
    ez\eOH6  
    E]I$}>k  
    19c@`?  
    结果:3D光线追迹 A]o4Mf0>I  
    3[d>&xk@$  
    1J{fXh  
    q0&$7GH4  
    结果:场追迹矩形光栅 yZCX S  
    V`#.7uUP  
    'T,c.Vj)  
    %S@L|t  
    结果:场追迹锯齿形光栅 RWKH%C[Yd  
    kWhr1wR1  
     
    分享到