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光学测量＞显微 G s+3e8 ,'xYlH 3s 任务/系统描述 KGH/^!u+R aE;le{|!({
 nw>8GivO u_(VE fs4 亮点 /='. 4 v
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` Sz- J y:j 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 u! "t!2I 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 >Cw<BIF 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 (q+)'H%iK n 8*;lK8 说明：光源 u/cg|]x&T .ZvM ^GJb  S4=~`$eP W`\R%>$H 说明：透镜系统 1%4sHSN h%}/Cmx[  3)\8%Ox
KD`IX-r{s 说明：样品结构 n a9sm ):i&`}SY  d&ex5CU5 > ;/l)qk, 说明：探测器 N"nd*? o. 0ci+z@  -F U}pz/ Re P |UH 结果：3D光线追迹 v?KC% Q09[[
 yzqVz_Fi*W b0 lq\9 结果：场追迹矩形光栅 h }B%
/U %Ev4]}2C1  zIh ['^3.n
.Fdgb4>BXX 结果：场追迹锯齿形光栅 E\Rhz]G(  o4|M0
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