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光学测量>显微 Lie= DD Ev T"+;9/p 任务/系统描述 V"T5<HA9 R8Dn
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8mC$p6Okd W]D+[mpgK 亮点 qykI[4
QrLXAK\5
bV:MOj^ g(R!M0hdF 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 E?jb? 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 miV 8jaV 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 <!-#]6 )o;n2T#O 说明:光源 &-KQ
m20n K,!f7KKo -3SRGr i x_a 说明:透镜系统 zX8{( \wp8kSzC ]_hXg*? lWFm>DiLY 说明:样品结构 sh%%U {sUc2vR zc1~ q ze`qf% 说明:探测器 ^mZTki4 W|6.gN] UO'X"` _mDvRFq 结果:3D光线追迹 mnH1-}oL
/?C6oj1
KvEZbf3f Jh%k:TrBm 结果:场追迹矩形光栅 c#pVN](? aT=V/Xh}d GEAVc9V #Y>d@ 结果:场追迹锯齿形光栅 !e0/1 j= {N0ky=ud
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