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光学测量>显微 a<Ta *:R$0 4Q.70 任务/系统描述 <e"2<qVi V.}U p+WL
TG($l2 <K~#@.^` 亮点 azSS:=A f|EWu
;X>KP,/r$ ~![R\gps 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 iJAW| dw} 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 U i;o/Z3 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 7~
2X/ ]yyfE7{q 说明:光源 n*V^Qf &Jj?C cCwT0O#d [Gu]p& 说明:透镜系统 h`)r :a7 |h;MA,qva F4@h}T5) =
hpX2/] 说明:样品结构 xH0Bk<`V: VFyt9:a 6SpkeXL OLv( 说明:探测器 E~24b0<7 joa$Y6 6oC(09 UJQ!~g.y] 结果:3D光线追迹 ,30&VW## \K?3LtJ
w>#~_x,` 6(wpf^br2 结果:场追迹矩形光栅 yjr!8L:m L3 &NGcd OyVp 3O ]+oPwp;il 结果:场追迹锯齿形光栅 &9'6hMu fO9e ;
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