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光学测量>显微 F-Z>WC{+ Q3lVx5G>4 任务/系统描述 W(ZEqH2 :%Z)u:~':
#euOq WV}pE~ 亮点 w;VUP@Wm fR.raI4et
*y"|/_
* qyyLU@hd 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ;Xidv9c 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 FlS)m` 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 @TKQ_7BcB hQSJt[8My 说明:光源 TuMZHB7h; XSZjuQ<[3 P\c0Q;){h" nkk GJV! 说明:透镜系统 kGq<Zmy| ,v| vgt QL(}k)dB # 9f
4{=\ 说明:样品结构 DF#WQ8?$] 0@f7`D *7Sg8\wDn '9wD+'c=A 说明:探测器 ]*S_fme /|e"0;{ Qzk/oHs J! eVw\6 结果:3D光线追迹 WY~}sE 6a`_i
FH H2 `|JQ)!Agx 结果:场追迹矩形光栅 P3XP=G`E ~w%Z Bp PzTTL=G + }Lwj~{ 结果:场追迹锯齿形光栅 13{"sY:PT# h$zPQ""8
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