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光学测量>显微 \{a!Z&df I}jem 任务/系统描述 45,): U5 r)
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'8yC wk k-N}tk/5 亮点 7BS5Eq B= -d. i4X3j
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c0 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 )H>?K0I 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 :I{9k~ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 4J1_rMfh rJTYCe1* 说明:光源 3#0y.. F .(&w/jR Zsn@O2 nWes,K6T 说明:透镜系统 Dv*d$ PavW@ !,^y!+,Qy &qzy?/i8 说明:样品结构 %Z3B9 uznYLS xi<yB0MoA %L|xmx!c 说明:探测器 1=h5Z3/fj 1l'JoU.<
v5 @9 =axuL P)) 结果:3D光线追迹 vGnFX0?h 6M
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5\EnD,y X`(fJ', 结果:场追迹矩形光栅 ?iZM.$![ 6V"uovN2 I)kc[/^j$ [C/{ ru&E 结果:场追迹锯齿形光栅 !9{hbmF# 1cc~UQ
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