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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 Lie= DD  
    EvT"+;9/p  
    任务/系统描述 V"T5<HA9  
    R8Dn GR  
    8mC$p6Okd  
    W]D+[mpgK  
    亮点 qykI[4  
    QrLXAK\5  
    bV:MOj^  
    g(R!M0hdF  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 E?jb?  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 miV8jaV  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 <!-#]6  
    )o;n2T#O  
    说明:光源 &-KQ m20n  
    K,!f7KKo  
    -3SRGr  
    i x_a  
    说明:透镜系统 zX8{(  
    \wp8kSzC  
    ]_hXg*?  
    lWFm>DiLY  
    说明:样品结构 sh%%U  
    {sUc2vR  
    zc1~ q  
    ze`qf%  
    说明:探测器 ^mZTki4  
     W|6.gN]  
    UO' X"`  
    _mDvRFq  
    结果:3D光线追迹 mnH1-}oL  
    /?C6 oj1  
    KvEZbf 3f  
    Jh%k:TrBm  
    结果:场追迹矩形光栅 c#pVN](?  
    aT=V/Xh}d  
    G EAVc9V  
    #Y>d@  
    结果:场追迹锯齿形光栅 !e0/1 j=  
    {N0ky=u d  
     
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