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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 &Xc=PQ:I  
    MdFFt:y:  
    任务/系统描述 DXFDs=u  
    MEM(uBYKOb  
     #xfav19{.  
    m.<or?l'y>  
    亮点 f\r"7j  
    G.$KP  
     O0s,)8+z5D  
    A H=%6oT2  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Vvp{y  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 z "z  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 C ^c <s  
    _pzYmQ  
    说明：光源 i'10qWz  
    #R7hk5/8n}  
    ^/cqE[V~,  
    M`7[hr  
    说明：透镜系统 ?B@3A)a  
    pNZ3vTs6  
    2jlz#Sk  
     H0jbG;  
    说明：样品结构 Sy]W4%  
    I!}V+gu=  
    }{kn/m/  
    FS!9 j8  
    说明：探测器 &g>M Z" Z|  
    ';}:*nZ//_  
    @$Yk#N;&(  
    9Z f  
    结果：3D光线追迹 @4KKm@(p85  
    >FS%-eI6  
     I[b{*g2Zw  
    !T2{xmHKv$  
    结果：场追迹矩形光栅 6, |>;,U7  
    lHPnAaue@  
    rP,|  
      @' %XdH  
    结果：场追迹锯齿形光栅 8k)*f+1o  
    EQk omjv  
     
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