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光学测量>显微 @.8FVF w|[{xn^R 任务/系统描述 Aa!#=V1d =u<jxV9
L)QAI5o:3 LB\+*P6QM 亮点 %pUA$oUt q Oyo+hu
Wagb|B\ .vov ,J!Y 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 b{(= C
3 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
["BD,mB 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 I~T~!^}U X$(YCb 说明:光源 s<'WTgy1i @p[ml m A|<i7QVY Fx3 X 说明:透镜系统 &pFP=|Pq &'"dYZj{ ,tl(\4n (Y~gItej 说明:样品结构 I*EHZctH 3FsX3K,_X hOR1RB /|WBk} 说明:探测器 Noi+mL s0/y> ok \xjI=P'-25 d37|o3oC 结果:3D光线追迹 "7}e~*bM?` |*y'H*
n0vhc; d ,jJbQIu# 结果:场追迹矩形光栅 .mvpFdn TQ69O +
4Ixu% q 1~3T;Il 结果:场追迹锯齿形光栅 ueLdjASJ k{E!X
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