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光学测量＞显微 XXcf!~ uO kAliCD) 任务/系统描述 |P7f^0idk r3 _gPK
 ({VBp[Mh t QaCNS$= 亮点 cB}2(`z9
B
L,pSdeq
 )YtL=w?L' 1@S6[&_ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 O m IB k 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Ur (o &, 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 WG luY>C; hb8XBBKR 说明：光源 b[;3KmUB Q3q.*(#  N:[;E3?O E}vO*ZZEw 说明：透镜系统 <&%1pZ/6. C'2 =0oou  5@ +E i25
xBfe8lor 说明：样品结构 U hhmG+ 0_mvz%[J  1 " 7#|=1/ v@uaf=x- 说明：探测器 qg{<&V7fE Sw@ ,<4S  *>p(]_s, 3ZlGbP#3w 结果：3D光线追迹 U" Hquo M6*{#Y?
 +Cg"2~ K!c@aD:# 结果：场追迹矩形光栅 K[ gWXB P 3@`H<tP'6o  A=C3e4.C
6Su@a%=j 结果：场追迹锯齿形光栅 /+t [,  0s9z @>2
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