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光学测量>显微 C8Ja>o2' N(s5YX7<hd 任务/系统描述 ]sLdz^E3D =hY9lxW
6({TG&`!] '2XIeR 亮点 @k+K_gR /Vdu|k=
` {/"?s| z=/&tRe
W 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
u4x>gRz) 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 7w\L<vFm 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 t03X/%H ZSvU1T8 说明:光源 g>E.Snj} oZ5 ,y+L4 Nnx dO0X #?"^: ,Y 说明:透镜系统 4v.{C"M ?`T Q'#P` PCx: TrPw*4h 9s 说明:样品结构 G,e!!J
X6<Ds'I >t#5eT`_ w ;oCSKY4 说明:探测器 U3u j`Oq |BBo 9+#BU$*v Cz|F%>y# 结果:3D光线追迹 H
S)$|m_ s}q tM.^W
!?)aZ |r .;F%k,!v 结果:场追迹矩形光栅 s~06%QEG m*|G2 i&KBMx Dy&{PeE! 结果:场追迹锯齿形光栅 &$bcB]C\3 ;Wgkf_3
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