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光学测量＞显微 %&V%=-O_7 hv\Dz*XTs0 任务/系统描述 K1]3zLnS B##X94aTT
 '!,(G3 wArfnB& 亮点 qE]e+S?57a
V@ O)7ND
 \/V#,O K( d+t\ca 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v+SdjFAY 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 F*>#X r~/ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 v7`{6Pf_$ K,%CE
]. 说明：光源 kOq8zYU| 8?YeaMIBB  BfVh\ lkH :g^
mg-8 说明：透镜系统 "dvo@n| +"=ydF.9  HiH<'m"\.
j:/Z_v' 说明：样品结构 {>~9?Xwh |d *a~T0  J.M&Vj: DrC"M*$! 说明：探测器 t4/ye>P & &/"a
E  )c'E9ZuZ>d [ ;sTl~gC 结果：3D光线追迹 e
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$;1a 结果：场追迹矩形光栅 RwOOe7mv \x]\W#C  5$N#=i `V
V %D1Q}X 结果：场追迹锯齿形光栅 n \JI7A}  kw]?/s`
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