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光学测量＞显微 nDh]: t= %ec9`0^4S 任务/系统描述 HSk gS OC|9~B1
 :/N/u5 .] IR (6 亮点 pSQ)DqW
biCX: m+_?
 LFsrqdzJ >^#OtFHuT) 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 KgtMrT5<q 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 3"O)"/"Q. 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 FhZ^/= As ,?"cKdiZ 说明：光源 ~+1t3M e &T qY\ l  ;}!hgyq "HRoS#| \ 说明：透镜系统 :"+/M{qz M+<xX)  X|'E yZ
,6,sz]3- 说明：样品结构 lsV9-)yyl Ju""i4  h)[{{JSf \ltA &}! 说明：探测器 s)#8> s - Ys@M1o  P"dWh;I_ 0f.r jd 结果：3D光线追迹 E|ce[|2 $sDvE~f0n
 ?@U7tNI xjHOrr
OQ 结果：场追迹矩形光栅 Byf5~OC u<x2"0f  HZB U?{
8}m bfu o1 结果：场追迹锯齿形光栅 D8a[zXWnc  >hcA:\UPk
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