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成像系统>包括光栅 K;Qlg{v FGY4 u4y 任务/系统说明 LxaR1E(Cc' &~Qi+b0!  FMMQO,BU w7aC=B/{?i 亮点 N]f"+
[9dW9[Z+!
 N) D;)ZH |zhV l 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） J%]< /J 严格分析光栅衍射效率 OIP JN8V 考虑入射光的方向分布 ?hu}w l) QS.t_5<U 说明：光源 Y~@@{zP ?Ho~6q8O@  r/E'#5 Q F*Lm=^: 说明：光束分束器 Dg(8 82#_ #;,dk(URo  >(nb8T| w$%d"Jm#X 说明：检测透镜系统 ]@YBa4}w $K D H"J  P(B:tg u XD?s3Wv 说明：微型晶片 )r X["= =To}yJ#  IjJO; kex4U6&OQB 说明：检测物镜 7&-i
:2 R E~:+.eB  Reci:T(_ mhTi{t_fHM 说明：探测器 ZmM/ YPy cF6eMml ;  rm}OVL 8JYF0r7 结果：3D光线追迹（只有0级） W6cA@DN$# ;#c=0*.  Dxj&9Ra ?8 dd^iX/ 结果：3D光线追迹（所有级） nSUQ Eho< NJ"
d `  #bk[Zj& dk}T&qZ~p 结果：光线追迹 v (PwE B] L#)F00/`
 Hqsj5j2i ibe#Y 结果：场追迹 =/_tQR~ yffg_^fR
 6 KT]3*B g~,"C 8-H 结果：线性偏振光的场追迹 xz9x t cPQUR^!5  >;|~
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