J#/L}h;qH 高NA物镜广泛用于
光学光刻,
显微镜等。因此,在聚焦
仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用
VirtualLab对这种
镜头进行
光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。
相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。
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> &V Y s(?A=JJ 建模任务 Vlf =gP Qt~QJJN?oF
\'>8 (i~ 概观 gm1 7VrC
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RAs5<US: 光线追迹仿真 D| gI3i Cvgk67C=$ •首先选择“光线追迹
系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。
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•点击Go!
d^:(-2l- •获得3D光线追迹结果。
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8j^3_lD (RM;T @` 光线追迹仿真 L>X39R~ Y )](jU%o )2Dm{T •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。
;p] f5R^ •单击Go!
\*r]v;NcP •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。
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Rct=vDU =.9uuF: 场追迹仿真 x4e8;A(y ]*\m@lWu iL\eMa •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。
n| [RXpAp3 •单击Go!
5.o{A#/NTl 3B6"T;_
fo$Ac o0`|r+E\ 场追迹结果(摄像机探测器) lRr ={
>s go[(N6hN NUjo5.7 •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。
0f]LOg •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。
8Z1pQx-P2C Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。
*j/[5J0'M cUPC8k.1
$%5f f6O5k8n 场追迹结果(电磁场探测器) S-D=-{@ l;'#!hC) •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。
*LZ^0c: r U%)m
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