微纳测量家族再添新成员：CP200台阶仪

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台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。 B:]%Iu|  
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CP200台阶仪广泛应用于：大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域。 V48o+O  
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台阶仪特性： .|g|X8X  
1.出色的重复性和再现性，满足被测件测量精度要求 b?]Lx.l-  
线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。 *=b36M  
2.超微力恒力传感器：（1-50）mg可调 NpAZuISD!  
测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。 L ]Y6/Q   
3.超平扫描平台 SL$
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系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，提高扫描精度，真实反映工件微小形貌。 M"\j7(  
4.顶视光学导航系统，5MP超高分辨率彩色相机 *Sw1
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5.全自动XY载物台， Z轴自动升降、360°全自动θ转台 vPce6 Cl*  
6.强大的数据采集和分析系统 _O;2.M%@  
台阶仪软件包含多个模块，为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。 Ad)::9K?J  
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CP200台阶仪典型应用：