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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Xw&vi\*m  
    LX m@h  
    +{WZpP},v  
         c"zE  
    建模任务 60r0O5=|Fl  
    6o~g3{Ow  
    C@ "l"  
    概述 ]Ryg}DOQ  
    kcE86Y=|x!  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?6 "B4%7b  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 J/\^3rCB  
    D{M& >.  
    `2n%Lo?_  
    :+%Yul  
    光线追迹仿真 `$yi18F  
    bRI`ZT0  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 3q.HZfN~  
    •单击go! #|F5Kh"  
    •获得了3D光线追迹结果。 ? J6\?ct4  
    l|fb;Giq=D  
    dl+:u}9M$  
    =/(R_BFna  
    光线追迹仿真 4\m#:fj %  
    G<`6S5J>hr  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 7kmd.<  
    •单击go! l42tTD8Awz  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 <UbLds{+Uo  
    Mi7LyIu  
    tfPe-U  
    7:n OAN}%  
    场追迹仿真 #f }ORA  
    >!% +)  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 53l!$#o  
    •单击go! j "e]Ui  
    2 xt$w%  
    }nMp.7b  
         jB3Rue:+g  
    场追迹仿真(相机探测器) 7a4h7/  
    D()tP  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 w %R=kY)o  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Y >U_l:_^  
    "/{H=X3was  
    J@o$V- KK  
    Q,n Xc  
    场追迹仿真(电磁场探测器) P5`BrY,hZ  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 sYd)r%%AU  
    3W55 m@w  
    B=|m._OL]n  
         oe{,-<yck  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 077 wk  
    %dq |)r  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :-e[$6}S  
    73kI%nNB  
     
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