IX
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$ 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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/dt'iai~l "f3KE=cUm 建模任务 hV>@qOl
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?jRyw(Q 概述 P
g1EE"N@ (y{nD~k •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
+)7Yqh#$ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
o= N_0. I6,sN9`
K
V;SXa|, .3*VkAs 光线追迹仿真 &+>)H$5 W_z?t; •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
[Q*aJLG •单击go!
hg=BXe4: •获得了3D光线追迹结果。
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C/je5 t?R=a- ZI 光线追迹仿真 \qh
-fW; # mQ]wLPP{1 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
x#s=eeP1 •单击go!
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(;J •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
jboQ)NxT!, "3Z<V8xB
3U73_=>=& M:OJL\0 场追迹仿真
C6`<SW 7,N>u8cTh •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
Fl^}tC •单击go!
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2!^[x~t 'hM?J*m 场追迹仿真(相机探测器) uKZe"wN; );.q:" •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
H21\6 GY •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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Nl^{w'X0h (gl/NH! 场追迹仿真(电磁场探测器) VIxt;yE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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=Xc[EUi<;g c=T^)~$$ 场追迹仿真(电磁场探测器) Sr`gQ#b@r} 3=r8kh7, •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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