]jkaOj 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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Z*M]AvO+# 0_A|K>7 建模任务 XAnN< BB>R=kt
SF7p/gG 概述 52zD!( t+2!"Jr •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
"1#piJ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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`Dn"<-9: +O2z&a;q 光线追迹仿真 e*zt;SR ,[Bv\4Ah •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
IpRdGT02 •单击go!
IPIas$ •获得了3D光线追迹结果。
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"< c,I=A ^xpiNP!?a 光线追迹仿真 G(;C~kHX >=WlrmI •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
!^,<nP •单击go!
65~X!90k •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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ly8IrgtKy a%fMf[Fu 场追迹仿真 yLDv/r 1U/ dc.x5 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
DO^K8~] •单击go!
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)[c@5zy~* $N[R99*x8 场追迹仿真(相机探测器) ?JinX'z \'BA}v
&/ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
15 /lX •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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saj%[Gsy 场追迹仿真(电磁场探测器) "6<L)
8 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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$&C~Qti|G n@`:"j%s_ 场追迹仿真(电磁场探测器) dpTeF`N zo^34wW^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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