/@0 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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+ {WZpP},v c"zE 建模任务 60r0O5=|Fl 6o~g3{Ow
C@ "l" 概述 ]Ryg}DOQ kcE86Y=|x! •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
?6 "B4%7b •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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`2n%Lo?_ :+%Yul 光线追迹仿真 `$yi18F bRI `ZT0 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
3q.HZfN~ •单击go!
#|F5Kh" •获得了3D光线追迹结果。
?J6\?ct4 l|fb;Giq=D
dl+:u}9M$ =/(R_BFna 光线追迹仿真 4\m#:fj % G<`6S5J>hr •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
7kmd.< •单击go!
l42tTD8Awz •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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tfPe-U 7:n OAN}% 场追迹仿真 #f }ORA >!%+) •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
53l !$#o •单击go!
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}nMp.7b jB3Rue:+g 场追迹仿真(相机探测器) 7a4h7/ D()tP •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
w %R=kY)o •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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J@o$V- KK Q,nXc 场追迹仿真(电磁场探测器)
P5`BrY,hZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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B=|m._OL]n oe{,-<yck 场追迹仿真(电磁场探测器) 077 wk %dq|)r •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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