[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 2Z;wU]  
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建模任务 u/-ul  
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概述 E%@,n9T~"  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 A Ch!D>C1  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 SIQ7oxS4  
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光线追迹仿真 v[~e=^IIsl  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 E_ #MQ;n  
•单击go！ }i0(^"SoXZ  
•获得了3D光线追迹结果。 lMoi5q  
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光线追迹仿真 Z7>pz:,  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ,kS3Ioj  
•单击go！ U\dq Mp#Wy  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 YL*yiZ9  
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场追迹仿真 /<ODP6Yy;  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 QlT{8uw)  
•单击go！ >.'rN>B+  
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场追迹仿真（相机探测器） t6m&+N  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 36MqEUjyB  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 3Ov? kWFO  
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场追迹仿真（电磁场探测器） 7tbM~+<0  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 v',%   
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场追迹仿真（电磁场探测器） 4R<bfZ43  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 |KH981  
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