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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    Eg9502Bl~8  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ("aYjK k  
    1{wy%|H\  
    ~q/`Z)(yc  
         3lJK[V{'#'  
    建模任务 (*EN!-/  
    H$;\TG@,  
    /oI ''O%M  
    概述 CI,-q i  
    w8E,zH  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 X[|>r@Aa!  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 5t PmrWZ  
    6e*J Cf>  
    ILQg@J l  
    ed{9UJWh  
    光线追迹仿真 wjl? @K  
    7yc:=^ )  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 NZ_45/(dx  
    •单击go! Y8d%L;b[D  
    •获得了3D光线追迹结果。 Q=dR[t>^  
    u66w('2  
    r8 xH A  
    1?*vqdt  
    光线追迹仿真 >#'6jm  
    c" l~=1Dr  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 &O'yhAP] j  
    •单击go! .`iq+i~  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 DJ\lvT#j  
    \!%3giD5!  
    d<whb2l  
    o;O_N^_W  
    场追迹仿真 %jkd}D  
    F[+sc Mx!G  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 VTF),e!  
    •单击go! BG|Kw)z*KM  
    w#o<qrpHf  
    Jn&(v"_  
         hIdGQKr>V  
    场追迹仿真(相机探测器) 0}ZuF.  
    {C3bCVQ]o  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 7#RW4ZM  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 XnNK )dUT}  
    f(3#5288  
    ~E)I+$,  
    :s4CWE d  
    场追迹仿真(电磁场探测器) J3$ihH.  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 /qz( ra  
    2n@"|\uHD  
    j;'NJ~NZ$  
         ,7'l$-rl  
    场追迹仿真(电磁场探测器) G1D(-X4ALZ  
    F'"-4YV>&  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 m{1By/U  
    ]s u\[?l  
     
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