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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    ]jkaOj  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 wM2[i  
    3lZ5N@z69  
    Z*M]AvO+#  
         0_A|K>7  
    建模任务 X AnN<  
    BB>R=kt  
    SF 7p/gG  
    概述 52zD!(   
    t+2!"Jr  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 "1#piJ  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 P:p@Iep  
    O6P{+xj$  
    `Dn"<-9:  
    +O2z&a;q  
    光线追迹仿真 e*zt;SR  
    ,[Bv\4Ah  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 IpRdGT02  
    •单击go! IPIas$  
    •获得了3D光线追迹结果。 T&/ ]|4  
    5y1:oiE/  
    "< c,I=A  
    ^xpiNP!?a  
    光线追迹仿真 G(;C~kHX  
    >=WlrmI  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !^,<nP  
    •单击go! 65~X!90k  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 7FTf8  
    [Ju5O[o  
    ly8IrgtKy  
    a%fMf[Fu  
    场追迹仿真 yLDv/r  
    1U/ dc.x5  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 DO^K8~]  
    •单击go! LRuB&4r8  
    k4AF .U`I  
    )[c@5zy~*  
         $N[R99*x8  
    场追迹仿真(相机探测器) ?Ji nX'z  
    \'BA}v &/  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 15 /lX  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Rl%?c5U/$  
    _UqE -+&  
    P`HDQ/^O  
    saj%[Gsy  
    场追迹仿真(电磁场探测器) "6<L) 8  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9?IvSv}z  
    WqHsf1? N  
    $&C~Qti|G  
         n@`:"j%s_  
    场追迹仿真(电磁场探测器) dpTeF`N  
    zo^34wW^  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4|]0%H~n6  
    ?|`Ba-  
     
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