[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 2|F.JG^  
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建模任务 5sC{5LJzC  
FT73P0!8.  
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概述 <lZyUd  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 e:{v.C0ez  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 qgrRH
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光线追迹仿真 aB<~T[H%h  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 p3I{  
•单击go！ b!SGQv(^M  
•获得了3D光线追迹结果。  Y2vzK;  
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光线追迹仿真 OQaM47"  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ,eOOV@3C  
•单击go！ 6~?7CK  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 o
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场追迹仿真 +o(t5O[G  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 *X\i= K!  
•单击go！ G40,KCa  
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场追迹仿真（相机探测器） @Ek''a$  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 _CAWD;P  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 [&t3xC,  
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场追迹仿真（电磁场探测器） [VIdw92  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 r4dG83qg  
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P482D)  
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场追迹仿真（电磁场探测器） t&:'Ag.G  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 p.TR1BHw  
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