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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    W#L/|K!S  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 F{eI[A  
    As|e=ut(  
    M?qvI  
         gS!zaD7Nr  
    建模任务 3g3Znb  
    EuKkIr/(  
    <@>l9_=R  
    概述 :f0#4'f  
    76cT}l&.h8  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 nz/cs n  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]&"01M~+K  
    >UXNR`?  
    =AX"'q  
    S3y(' PeF  
    光线追迹仿真 =<r1sqf  
    +o K*5 Y  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 pE{Ecrc3|  
    •单击go! -]Aqt/w"l  
    •获得了3D光线追迹结果。 Ime"}*9  
    ey`E E/WV  
    E g_ram`\R  
    OyIIJ!(  
    光线追迹仿真 1-s G`%  
    d_Z?i#r0l  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ,b t j6hg  
    •单击go! KAnq8B!h  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 \$xj>b;  
    CWSc#E  
    ka*#O"}L8  
     =tc!"{  
    场追迹仿真 Fzy5k?R  
    yg82a7D  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 5i=C?W`'  
    •单击go! }qBmt>#  
    JD]uDuE  
    o`Q.;1(Y'  
         aqv'c j>  
    场追迹仿真(相机探测器) 9<5S!?JL  
    V}Ce3wgvA  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 &W*^&0AV  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 b[~-b  
    {=ATRwUL  
    BCh|^Pk  
    6>z,7 [  
    场追迹仿真(电磁场探测器) YRU95K [  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (btm g<WT"  
    _P*QX  
    yV*4|EkvW  
         KY\=D 2m  
    场追迹仿真(电磁场探测器) N t\ZM  
    e s<  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 b8glZb*$  
    9A *gW j  
     
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