YI/vt2 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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( Qnn 4^
A\w 建模任务 6mZFsB y}8j_r
mOBS[M5* 概述 M~v{\!S fa)G$Q •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
fu/v1~X •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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*l}q,9iQ- i4l?q#X 光线追迹仿真 g]S.u8K8m 8AK#bna~- •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
&WIPz\ •单击go!
;G?_^ 0 •获得了3D光线追迹结果。
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|&7l*j(\ :jA~zHO 光线追迹仿真 Q%6*S!~ 8ARpjYZP •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
N:0mjHG •单击go!
$WDa}~j~^ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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\JX8`]|& ?>e-6*. 场追迹仿真 arnu|paw (URWicaB •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
,>)/ y •单击go!
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/.vB /{2 X\_ku?]v 场追迹仿真(相机探测器) Pr" 2d\ jGId)f!) •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
'wDNP_ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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[H!V ~G"5!,J 场追迹仿真(电磁场探测器) }oU0J •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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X ZfT;!wF& `uY77co6 场追迹仿真(电磁场探测器) w18kTa!4@ E`BL3+k Q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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