Eg9502Bl~8 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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~q/`Z)(yc 3lJK[V{'#' 建模任务 (*EN! -/ H$;\TG@,
/oI''O%M 概述 CI,-qi w 8E,zH •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
X[|>r@Aa! •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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ILQg@Jl ed{9UJWh 光线追迹仿真 wjl?@K
7yc:=^ ) •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
NZ_45/(dx •单击go!
Y8d%L;b[D •获得了3D光线追迹结果。
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r8xH A 1?*vqdt 光线追迹仿真 >#'6jm c" l~=1Dr •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
&O'yhAP] j •单击go!
.`iq+i~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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d<whb2l o;O_N^_W 场追迹仿真 %jkd}D F[+sc Mx!G •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
VTF),e! •单击go!
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Jn&(v"_ hIdGQKr>V 场追迹仿真(相机探测器) 0}ZuF. {C3bCVQ]o •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
7#RW4ZM •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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~E)I+$, :s4CWEd 场追迹仿真(电磁场探测器) J3$ihH. •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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j;'NJ~NZ$ ,7'l$-r l 场追迹仿真(电磁场探测器) G1D(-X4ALZ F'"-4YV>& •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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