W#L/|K!S 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
F{eI[A As|e=ut(
M?qvI gS!zaD7Nr 建模任务 3g3Znb EuKkIr/(
<@>l9_=R 概述 :f0#4'f 76cT}l&.h8 •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
nz/cs n •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
]&"01M~+K >UXNR`?
=AX"'q S3y('
PeF 光线追迹仿真 =<r1sqf
+o K*5 Y •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
pE{Ecrc3| •单击go!
-]Aqt/w"l •获得了3D光线追迹结果。
Ime"}*9 ey`E
E/WV
Eg_ram`\R OyIIJ!( 光线追迹仿真 1-sG`% d_Z?i#r0l •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
,b t
j6hg •单击go!
KAnq8B!h •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
\$xj>b; CWSc #E
ka*#O"}L8
=tc!"{ 场追迹仿真 Fzy5k?R yg82a7D •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
5 i=C?W`' •单击go!
}qBmt># JD]uDuE
o`Q.;1(Y' aqv'c
j> 场追迹仿真(相机探测器) 9<5S!?JL V}Ce3wgvA •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
&W*^&0AV •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
b[ ~-b {=ATRwUL
BCh|^Pk 6>z,7 [ 场追迹仿真(电磁场探测器) YRU95K[ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
(btmg<WT" _P*QX
yV*4|EkvW KY\=D 2m 场追迹仿真(电磁场探测器) N t\ZM
es< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
b8glZb*$ 9A *gW j