il:+O08_ 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。
& )rmv L:~
"Vw6]_ 
RlpW)\{j? ^D!U F (H 建模任务 ^fRA $t ~V (WD;Mk 
GLEGyT?~ 概述 grv 3aa@ Zu5`-[ mw •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
{B u^%JEn •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
.rwZ`MP T,k`WR 
?:UDK? ETYw 光线追迹仿真 H=B8'N ;hRo}
+\l •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
1 ,Y-_e) •单击go！
L> cTI2NB. •获得了3D光线追迹结果。
`2 {x 8A PE3l2kr 
>i=mw5`D] =T!M` 光线追迹仿真 f\1)BZ 'I xqIt?v2c •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。
0&Zm3(} •单击go！
]Rz]"JZ\S •结果得到点图（二维光线追迹结果）。
$n!saPpxS IEHAPt' 
&d=j_9 ![ Fb~Egc 场追迹仿真 9FK%"s` 5_{C \S`T •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
}VdohX- •单击go！
tZwZZ0]Z @MTm8E6au 
2B5Z0< GoZr[ =d 场追迹仿真（相机探测器） 8h}o 5B 1%t9ic •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
^lf{IM-Y •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。
)y _MI
r G-xW&wC- 
fC52nK&T8 3 `$- 场追迹仿真（电磁场探测器） cd#@"&r •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
vEk
jd# &+Xj%x.] 
{|bf` LDx1@a|83 场追迹仿真（电磁场探测器） rOEk% kJ QVsOB$ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
)u`q41! *{/B Pc0* 
