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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    YI/vt2  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 sSxra!tv4  
    xE:p)B-]  
    (Qnn  
         4^ A\w  
    建模任务 6mZFsB  
    y}8j_r  
    mOBS[M5*  
    概述 M~v{\!S  
    fa)G$Q  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 fu/v1~X  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 $K hc?v  
    (_D#gr{S=  
    *l}q,9iQ-  
    i4l?q#X  
    光线追迹仿真 g]S.u8K8m  
    8AK#bna~-  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 &WIPz\  
    •单击go! ;G ?_^ 0  
    •获得了3D光线追迹结果。 /PO5z7n0J  
    giv cq'L  
    |&7l*j(\  
    :jA~zHO  
    光线追迹仿真 Q%6*S!~  
    8ARpjYZP  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 N:0mjHG  
    •单击go! $WDa} ~j~^  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Xln'~5~)  
    nI-\HAX  
    \JX8`]|&  
    ?>e-6*.  
    场追迹仿真 arnu|paw  
    (URWi caB  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ,>)/y  
    •单击go! 3AWg43L7  
    ZJS7#<-7o  
    /.vB /{2  
         X\_ku?]v  
    场追迹仿真(相机探测器) Pr" 2d\  
    jGId)f!)  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 'w DNP_  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 v~j21`  
    i-$]Tg  
    [H!V  
    ~G"5!,J  
    场追迹仿真(电磁场探测器) }oU0J  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %1S;y  
    ~ujY+ {  
    X ZfT;!wF&  
         `uY77co6  
    场追迹仿真(电磁场探测器) w18kTa!4@  
    E` BL3+kQ  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Go8 m  
     ,_HVPE  
     
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