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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    $c!cO" U  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {Lex((  
    FCC9Ht8U?  
    X}~5%B(  
         Z'P>sV  
    建模任务 %nTgrgS(=  
    %Ts6M,Fpp  
    ? 1OZEzA!  
    概述 -R^OYgF  
    ?R7>xrp5  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Hh_Yd)  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Sn I-dXNF  
    MeXzWLH  
    0w0\TWz*   
    CCCd=s.  
    光线追迹仿真 %SG**7  
    tOJK~%'  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 rOt`5_2f  
    •单击go! -6URM`y'j  
    •获得了3D光线追迹结果。 cmpT_51~O  
    }@kD&2  
    {*gO1TZt9  
    d|^cKLu  
    光线追迹仿真 PSOW}Y|q  
    [Yo3=(7J  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 O]"3o,/]G  
    •单击go! &n_aMZ;  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ?-40bb  
    Pc+8CuN?  
    k 8C[fRev  
    Ck71N3~W  
    场追迹仿真 f`zH#{u  
    Q&zEa0^rG6  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 DB1GW,  
    •单击go! D(EY"s37  
    &d"c6il[  
    >k:BG{$Kae  
         {fwA=J9%KS  
    场追迹仿真(相机探测器) ]g#ur@Y%  
    9ANC,+0p  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ;.Lf9XJ   
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 PNm WZW*  
    gk"0r\Eq  
    N! 7r~B   
    Who7{|M\'  
    场追迹仿真(电磁场探测器) Gi7jgv{{  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ]}4{|& e  
     U>0' K3_  
    1ga-8&!  
         v35wlt^}  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 0FA N9u2  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 G#V}9l8 Q  
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