^2C0oX 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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}f<fgY A/ 7r:yO 建模任务 )j{WeG7L `G_(xN7O
73&]En 概述 dE 3i= "z^BKb5 •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
qk_p}l-F1 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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,maAw}= f}L>&^I) 光线追迹仿真 [z
W_%O kP >P<k[vF •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
@4G.(zW •单击go!
hEyX~f •获得了3D光线追迹结果。
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!L&=?CX n/KI"qa]9 光线追迹仿真 g_rA_~dh \SYPu,ZT •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
I}*]m%'-Y •单击go!
kGB#2J •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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8as 场追迹仿真 !~Hafn-1 n4ds;N3Hd •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
LU-#=1Q •单击go!
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gt2>nTJz.Z ?=/}Ft 场追迹仿真(相机探测器) "ay,Lr #U",,*2 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
%4|n-`: •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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/tI d#/Y ;[WSf{k 场追迹仿真(电磁场探测器) w*&n(zJF> •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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bMK#^ZoH zVc7q7E 场追迹仿真(电磁场探测器) !T#8N7J> 9sfB+]}h •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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