&sA@! 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。
^630%YO FfS KE 
a +lTAe .ng:Z7 建模任务 i_' u:P<t K0 6 E: 
_mG>^QI. 概述 6
_n~E e &Jf67 \N •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
-.
J@ •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
?ISv|QpC o|njgmF;\ 
J_@`:l0,z kf -/rC)> 光线追迹仿真 q% pjY L=v"5)m2R •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
L9bIdiB7 •单击go！
)BX-Y@fpA •获得了3D光线追迹结果。
\!J9| \0bZ1" 
iosL&*'8 sqjv3=} 光线追迹仿真 Xhk_h2F[ PvkHlb^ x% •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。
o4d[LV4DS •单击go！
r$/.x6g// •结果得到点图（二维光线追迹结果）。
LQ'VhNU fs3jPHZJ# 
<pp<%~_Z Y)KO*40c 场追迹仿真 iTpK:p X RI0 +9YJ •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
=7P(T`j •单击go！
`7o(CcF6H ?cmv;KV
lKA2~ o d_!l RQ^N 场追迹仿真（相机探测器） nv-_\M R3! 3TJ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
jb
{5
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。
{z0PB] U (Gp|K6 
1 z5\>F *s}j :fJ 场追迹仿真（电磁场探测器） 7nOn^f D •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
)WR*8659e TkjPa}; R 
B_u Aa5' ?[~)D}] j 场追迹仿真（电磁场探测器） vp#r :+= ^{(i;IVG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
m< wEw-1. NX5NE2@^qH 
