[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 GadZ!_.f  
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建模任务 A.D@21py  
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概述 <c X\|dM  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 a$7}41F[~s  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 + Q $Jq  
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光线追迹仿真 `Tt;)D  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 t:SME'~.P  
•单击go！ k9'`<82Y  
•获得了3D光线追迹结果。 {cYS0%Go  
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光线追迹仿真 3fb"1z#  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 h"/y$  
•单击go！ -9
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•结果得到点图（二维光线追迹结果）。
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场追迹仿真 HqZ3]  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 HZ+l){u  
•单击go！ Y[8GoqE|  
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场追迹仿真（相机探测器） da,Bnze0  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 .}O _5b(  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 UP})j.z  
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场追迹仿真（电磁场探测器） k^Gf2%k  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 p;Lp-9H\33  
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场追迹仿真（电磁场探测器） hA6D*8oXD  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ! /^Jma7n  
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