^*zW"s 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
|=OpzCs W.GN0(uG
9e76pP( ?ZM^%]/+ 建模任务 Lj-{t% } a:xgjUt&5
qSCTFJ0 概述 gNi}EP5> VG#$fRrZ •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
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K0hTQ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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t)`+d=P \Qb>: 光线追迹仿真 i&B?4J) pJ$(ozV •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
%L.rcbg:<c •单击go!
@YbZ8Uc •获得了3D光线追迹结果。
0I6499FQ r8H7TJI0
f>b!-| <y'qo8oqF 光线追迹仿真 's/27=o )<tzm'Rc •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
paUyS 1i •单击go!
Ld'EABM •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
3 pHn_R S So~.)J
cKSfqqPm$" nN!vgn
j 场追迹仿真 [cY?!Qd0 "
-<}C%C •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
{m>~` •单击go!
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PAt? Rqt[D @;m 场追迹仿真(相机探测器) >zN"
z) kz3?j< •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
D'Jm!Ap •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
[Ja(ArO3|[ 4/ 0/#G#j
Bl:{p>-q O>kXysM v> 场追迹仿真(电磁场探测器) fB@K'JQG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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GC,vQ\ y_;]=hEL 场追迹仿真(电磁场探测器) 3m?@7 F 1
yxZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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