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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 |=OpzCs  
    W.GN0(uG  
    9e76 pP(  
         ?ZM^%]/+  
    建模任务 Lj-{t% }  
    a:xgjUt&5  
    qSCTFJ0  
    概述 gNi}EP5>  
    VG#$fRrZ  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 n K0hTQ  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 iqlVlm>E  
    ma`w\8 a  
    t)`+d=P   
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    光线追迹仿真 i&B?4J)  
    pJ$(ozV  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 %L.rcbg:<c  
    •单击go! @Yb Z 8Uc  
    •获得了3D光线追迹结果。 0I6499FQ  
    r8H7TJI0   
    f>b!-|  
    <y'qo8oqF  
    光线追迹仿真 's/27=o  
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    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 paUyS1i  
    •单击go! Ld'EABM  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 3 pHn_R  
    SSo~.)J  
    cKSfqqPm$"  
    nN!vgn j  
    场追迹仿真 [cY?!Qd 0  
    " -<}C%C  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 {m>~`   
    •单击go! )62q|c9F  
    +EQpD.  
    t P At?  
         Rqt[D @;m  
    场追迹仿真(相机探测器) >zN" z)  
    kz3?j<  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 D'Jm!Ap  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 [Ja(ArO3|[  
    4/ 0/#G#j  
    Bl:{p>-q  
    O>kXysMv>  
    场追迹仿真(电磁场探测器) fB@K'JQG  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 P((S2"D<4  
    V%VrAi.  
    GC,vQ\  
         y_;]=hEL  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 3m?@7F  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :4Id7Ce  
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