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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    f,'^"Me$c  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 2Dw}o;1'  
    #tN!^LLi  
    % 8P8h%%Z  
         N?v}\P U  
    建模任务 MuF{STE>->  
    Xk`'m[  
    p-kug]qX  
    概述 Mz: "p.  
    l#&\,T  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 dmPAPCm%y  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 #n.XOet<\  
    GQ6~Si2  
    k{J\)z  
    iC4rzgq  
    光线追迹仿真 Bmv5yc+;  
    NeR1}W  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 'Esz #@R  
    •单击go! ( 9(NP_s  
    •获得了3D光线追迹结果。 "{x+ \Z\  
    ,:xses*7  
    @dc4v_9  
    [ z,6K=  
    光线追迹仿真 Q .g44>  
    GP0}I@>?  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 n K6(0?/  
    •单击go! O{Y*a )"  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 OZ4%6/  
    2#X>^LH  
    ?*:BgaR_  
    ^?S lM  
    场追迹仿真 n!h952"  
    r#B{j$Rw   
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 u-R;rf5%k  
    •单击go! ]SUW"5L-  
    #&sn l  
    M3s:B& /  
         R= .UbY  
    场追迹仿真(相机探测器) O'S9y  
    ^%NjdZuDO  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ZM_-g4[H  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 MCTTm^8O  
    ^&\<[\  
    ~ep^S^V+  
    Q|7;Zsd:  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ; ! B>b)%  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ntn ~=oL  
    Id{Ix(O  
    uOJso2Mx  
         tS[%C)  
    场追迹仿真(电磁场探测器) z'}z4^35,  
    3w8v.J8q  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Z9 zsvg  
    .NMZHK?%  
     
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