e2>AL 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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t!u>l cxFyN;7 建模任务 ccx0aC3@I S\GxLW@x
;!7M<T$& 概述 ~BE=z: O%aHQL%Sz •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
: w>R|] •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
RSw;b.t7 AM#s2.@
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{?H/ 'F:Tv[qx 光线追迹仿真 PCa0I^d a]6dhQ` •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
?%D nIl> •单击go!
rd24R-6 •获得了3D光线追迹结果。
~zvZK]JoX {Q`Q2'@
)jjaY1E o3NB3@uj< 光线追迹仿真 )(c%QWz Jp_ :.4 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
V@EyU/VJ •单击go!
l%?()]y •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
{d)L0KXK LY#V)f
xJFcW+ u?>8`]r 场追迹仿真 dl`{:ZR S N-Bw&hEZ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
^ ]+vtk •单击go!
pwB>$7(_h %F}d'TPx
nyOmNvZf 6uk}4bdvq 场追迹仿真(相机探测器) THgEHR0,}[ :KGPQ@:O •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
f|3LeOyz •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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Q~rE+?n9F ?V(+Cc 场追迹仿真(电磁场探测器) 8KKhD$ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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5{v uN)K3 ^oClf( 场追迹仿真(电磁场探测器) P{: 5i%qC %&s4YD/{ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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