<'qeXgi 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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Q\^O64geD 13 =A 建模任务 S{]x )U~=Pf"
;nep5!s;< 概述 8$")%_1] S?> HD| Z •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
f%SZg!+t •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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(KFCs^x7wG gRCdY8GH 光线追迹仿真 *^g:P^4 4lr(,nPRD •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
l n{e1':$" •单击go!
4]yOF_8h •获得了3D光线追迹结果。
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~D<IB#C hlV=qfc 光线追迹仿真 LCZ\4g05 5]NqRI^0 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
tX5"UQA •单击go!
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Oq •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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5*j?E `7[EKOJ3g 场追迹仿真 G}:w@}h/ gbI^2=YT' •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
695V3R 7 •单击go!
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Sx708`/Ep |uX,5Q#6 场追迹仿真(相机探测器) W?qmp|YD 5 xppKt •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
M^O2\G#B •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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,VCyG:dw Rtb7| 场追迹仿真(电磁场探测器) lhYe;b( •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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^Y@\1fX 4e d*jMZ%@uS 场追迹仿真(电磁场探测器) H| 8Qp* [Grxw[(_: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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