N|o>%)R 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
8M~u_`6 !L/tLHk+
4NJVW+:2 R7,pukK 建模任务 Z|}H^0~7S +~:x}QwGT
5e)i!;7Uv 概述 8'n#O>V@ ss*5.(y •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
i"vDRrDe •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
+<z7ds{Z "7:u0p!
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e u6f4yQ 光线追迹仿真 @::lJDGVv :bI,rEW#_ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
TX&[;jsj •单击go!
BL7>dZOa •获得了3D光线追迹结果。
mqubXS;J|P t6j-?c('
?,!uA)({n vu44 !c@ 光线追迹仿真 ?~{rf:Y tD865gi •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
1]HHe*'Z •单击go!
y)IGTW o •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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C"k2<IE 场追迹仿真 GpScc'a7 SCqu, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
HhzkMJR8 •单击go!
6V+V
zDo 2m|Eoc&M_
{ 576+:* ,nI_8r"M> 场追迹仿真(相机探测器) D\@e{.$MZ| w 7Cne%J8 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
_xa}B,H •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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C3]\$ E*Pz < 场追迹仿真(电磁场探测器) tX+0 GLz •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
Q S5dP &t[z
)r-T= D1oaG0 场追迹仿真(电磁场探测器) ~JIywzcf8 |~7+/VvI+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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