[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 WDEe$k4.  
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建模任务 ]^:hyOK  
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概述 SPkKiEdM  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 dh^+l;!L  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 K4!P'  
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光线追迹仿真 xMDrE?  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ,AH0*L  
•单击go！ a`H\-G  
•获得了3D光线追迹结果。 .3VK;au\\  
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光线追迹仿真 A7k'K4  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 3{<R5wUo"  
•单击go！ oi2J:Y4  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 Yd'H+r5b  
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场追迹仿真 U~aWG\h#X  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 -$U@By<SJ  
•单击go！ )ll?-FZ   
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场追迹仿真（相机探测器） /ZHO>LNN|  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 3bWum  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 ezp<@'0ZT  
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场追迹仿真（电磁场探测器） Fse['O~  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >):m-I  
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场追迹仿真（电磁场探测器） |U#DUqw  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 M Hg6PQIB  
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