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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    <'qeXgi  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。  f\]sz?KY  
    l1T m`7}  
    Q\^O64geD  
         13=A  
    建模任务 S{]x  
    )U~=Pf"  
    ;nep5!s;<  
    概述 8$")%_1]  
    S?>HD|Z  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 f%SZg!+t  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 s3~lT.  
    #*QO3y~ZM  
    (KFCs^x7wG  
    gRCdY8GH  
    光线追迹仿真 *^g:P^4  
    4lr(,nPRD  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 l n{e1':$"  
    •单击go! 4]yOF_8h  
    •获得了3D光线追迹结果。 J2::'Hw*s  
    #bUXgn>  
    ~D<IB#C  
    hlV=qfc  
    光线追迹仿真 LCZ\4g05  
    5]NqRI^0  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 tX5"UQA  
    •单击go! W=j[V Oq  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 BcL{se9<  
    k_sg ?(-!o  
    5* j?E  
    `7[EKOJ3g  
    场追迹仿真 G}:w@}h/  
    gbI^2=YT'  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 695V3R 7  
    •单击go! x}_]A$nV  
    % W=b? :  
    Sx708`/Ep  
         |uX,5Q#6  
    场追迹仿真(相机探测器) W ?qmp|YD  
    5 xppKt  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 M^O2\G#B  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 v>$'iT~l  
    j"}*T  
    ,VCyG:dw  
    Rtb7|  
    场追迹仿真(电磁场探测器) lhYe;b(  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %6t2ohO"  
    ix([mQg  
    ^Y@\1fX 4e  
         d*jMZ%@uS  
    场追迹仿真(电磁场探测器) H| 8Qp*  
    [Grxw[(_:  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 6{"$nF]  
    b6Wqr/  
     
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