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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Y+~g\z-]c  
    %Sk@GNI_  
    CHJ> {b`O  
         Bi3+)k>u7  
    建模任务 LN2D  
    Oco YV J  
    i/So6jW  
    概述 wnLi2k/Dt<  
    w}R~C   
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 5 BtX63  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Jb["4X;h  
    xI*#(!x"G  
    wJ<Oo@snm  
    vhuw &.\  
    光线追迹仿真 JUAS$Y  
    CjIu[S1%  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 U`|0 jJ  
    •单击go! cbYLU\!  
    •获得了3D光线追迹结果。 &w 8)* T  
    RW$:9~  
    'b*%ixa  
    ;Lm=dd@S:  
    光线追迹仿真 x35cW7R}T_  
    #-% A[7Cdp  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 sOCs13A"  
    •单击go! NS)}6OI3~"  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 $_H`   
    <#GB[kQa  
    COzyG.R.  
    fF vF\  
    场追迹仿真 '_k+WH&  
    `1OgYs  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 wCf~O'XLw  
    •单击go! 9[c%J*r   
    wa=uUM_4u^  
    }N0Qm[R  
         1?*  
    场追迹仿真(相机探测器) (+<1*5BEkT  
    @H>@[+S#  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 D?yG+%&9  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 hI?sOR!  
    )}vNOE?X~  
    Vm}%ttTC  
    :j')E`#   
    场追迹仿真(电磁场探测器) :0)3K7Q   
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {U<xdG  
    zk*c)s  
    /2EHv.e `  
          c gzwx  
    场追迹仿真(电磁场探测器) I+>%uShm  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 mbnV[  
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