f,'^"Me$c 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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8P8h%%Z N?v}\ PU 建模任务 MuF{STE>-> Xk`' m[
p-kug]qX 概述 Mz: "p. l#& \,T •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
dmPAPCm%y •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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k{J\)z iC 4rzgq 光线追迹仿真 Bmv5yc+; NeR1}W •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
'Esz#@R •单击go!
( 9(NP_s •获得了3D光线追迹结果。
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@dc4v_9 [z,6 K= 光线追迹仿真 Q.g44> GP0}I@>? •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
nK6(0?/ •单击go!
O{Y*a )" •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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?*:BgaR_ ^?S lM 场追迹仿真 n!h952" r#B{j$Rw
•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
u-R;rf5%k •单击go!
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.U bY 场追迹仿真(相机探测器) O'S9y ^%NjdZu DO •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
ZM_-g4[H •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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~ep^S^V+ Q|7;Zsd: 场追迹仿真(电磁场探测器) ;!B>b)% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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uOJso2Mx tS[%C) 场追迹仿真(电磁场探测器) z'}z4^35, 3w8v.J8q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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