is?2DcSl5 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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CHJ>{b`O Bi3+)k>u7 建模任务 LN2D Oco YV J
i/So6jW 概述 wnLi2k/Dt< w}R~C •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
5 BtX63 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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wJ<Oo@snm vhuw&.\ 光线追迹仿真 JUAS$Y CjIu[S1% •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
U`|0 jJ •单击go!
cbYLU\! •获得了3D光线追迹结果。
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'b*%ixa ;Lm=dd@S: 光线追迹仿真 x35cW7R}T_ #-% A[7Cdp •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
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NS)}6OI3~" •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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COzyG.R. fFvF\ 场追迹仿真 '_k+WH& `1OgYs •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
wCf~O'XLw •单击go!
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}N0Qm[R 1?* 场追迹仿真(相机探测器) (+<1*5BEkT @H>@[+S# •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
D?yG+%&9 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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场追迹仿真(电磁场探测器) :0)3K7Q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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c gzwx 场追迹仿真(电磁场探测器) I+>%uShm W>VP'vn} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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