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P`+{@@ 摘要 2 a)xTA# Lg+Ac5y}` 1-uxC^u?|# pU}(@oy 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 -);Wfs (,\+tr8r8 建模任务
DPxM'7 Xl{P8L |s(FLF - nHAS( 由于组件倾斜引起的干涉条纹 eK=xrk mDABH@R M)+H{5bt `AtBtjs RV 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 X7MM2V U$.@]F4& T*Exs|N2P-
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