切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 591阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5786
    光币
    23082
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-16
    ` PQQU~^  
    摘要 4NW!{Vw ,  
    Y|Q(JX  
    wpuK?fP  
    ^;<d<V}*  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 'mbLK#q  
         D<d, 9S,)  
    建模任务 e}1Q+h\  
    _wK.n.,S~  
    u+r!;-0i  
    wR@>U.XT@  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 /nQuM05*Z  
    8 E\zjT!#\  
    Lo1ySLo$G  
    yy=hCjQ)  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 eZAMV/]jH  
    ,\iHgsZ  
    +4_,, I  
     
    分享到