[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

;SE*En  
摘要 |@_<^cV110  
B:X%k/{  
MB;rxUbhe3  
wb9(aS4  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 FaCW +9B  
     I=dn]}b#P  
建模任务 a+HK fK  
]A}ZaXd  
2FZT  
q6pHL  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 Z-lhJ<0/Pa  
.u\$wJ9Ai  
v)np.j0V7  
\FfqIc9;  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 C7F\Y1Wj  
6~sU[thGW  
l@
&-be