[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

u%!/-&?wF  
摘要 jmPnUn  
aS=-9P;v  
XXPn)kmWR  
9sG]Q[:.]  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 %PM&`c98z7  
     dhv?36uE  
建模任务 R-LMV  
}IEwGoDwNs  
4Oo{\&(  
!mHMFwvS  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 4a}[&zm(5  
$>Qq 7  
|W_;L6)  
2,aH1Xbex  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 o=J-Ju
 
@GUlw[vi  
txE=AOY5