[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

WpC9(AX5g  
摘要 n39EKH rm%  
?)7UqVyq  
~Sx\>wBlc  
ix
5<h }  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 dyB@qh~H  
     LXf|n  
建模任务 T `o
[whr  
Uv!VzkPfo  
\9]-(j6[H  
~Jlq.S'  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 uS!V_]  
.>F
pk7  
r"dR}S.Uf  
X=Jt4 h9  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 x|g2H.n  
o 9d|XY_  
`)TgGny01