&i`\`6 q 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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>@b70X!J] 8-cB0F=j_ 任务描述 q9-=>
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axOdGv5 *Z7W'- VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 H<dOh5MFh
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M2|-C VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 XUUl*5^
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Rv=(D^F, Aa*UV6(v 可编程参数运行 GXC:~$N
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R1'bB"$ 可编程参数运行选项 [`P+{ R
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3_(fisvx EfY|S3Av 分布类型 8W?/Sg`
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F9q<MTh X}`|"NIk. 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
e7/ b@ X)d7y 效率的统计分布 M{+Ie?ZI
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>\hu1C|W B 8z3W9 光栅公差 #5)E4"m qp>O#tj[
Le"$k su> HT/zcd)}# 最低效率的级次效率 KFHn)+*"
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`,ZsKxI Klh7&HzR 随机分布类型 hKb-l`KO
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