z+zEH9.' 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
Q=#FvsF#z3 h$%h w+"4 _C|j"f/} K7i@7 任务描述 J
L1]auO*
$IdU
PO:sF]5 r!|h3*YA VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 8cURYg6v
q_"w,28
?t/\ ID "QBl
"<<s VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 \i<7Lk
R+.kwq3CED
h&~9?B \zOsq5} 可编程参数运行 ]a[2QQ+g
joNV4v"=`
D/,(xWaT 1hc`s+N 可编程参数运行选项 kX)*:~*
=p:~sn#
O]@s`w SN[ar&I 分布类型 DUg[L
b S' dXP
}U%T6~_wR QC6QqcOX 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
!"'6$"U\K [lu+"V,<LJ 效率的统计分布 9 aK U}y
t%@u)b p
TKVS%// .
K_Jg$3 光栅公差 A-rj: k! !\'HKk~V ?D(aky#cyc t[AA= 最低效率的级次效率 !Y/S 2J
IIF <Zkpb
J*AYZS-tSE Yjl:i*u/ 随机分布类型 kv2 H3O
f'BmIFb#