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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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L}A R{ !U]V?Jpi" 任务描述 ,$3
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sXTt)J i`r,B`V`08 VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 "}K/ b
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MCQ>BP 17{]QuqNF VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 :=~%&
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]T^m>v)X GMU<$x8o 可编程参数运行 (W+9 u0Zq
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N(&FATZUW /db?ltb 可编程参数运行选项 D4'?
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8)rv.'A((E t@.gmUUA 分布类型 E yNI]XEj
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G !1- 20 &t%CuU]/@ 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
SX^fh. 5F2+o#*h 效率的统计分布 zwU8i VDe
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PR|Trnd&D RU"w|Qu>pM 光栅公差 *BXtE8
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`4}!+fXQ *`}_e)(k 最低效率的级次效率 cYR6+PKua
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JF{,;&sj T]^F%D% 随机分布类型 <Dm6CH
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