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VirtualLab Fusion中，当研究制造偏差对
优化系统的影响时，可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同，不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布，但在此用例中，我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明，我们选择了锯齿
光栅的例子，为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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\25 Rq/&w w4\b^iJ z 任务描述 $-Lk,}s.*
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dq+VW}[EO 8 2 nQ] VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Eaf6rjD
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'vq-~y5^# 6",S$3q VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 sOhQu>gN
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:G=N |3 -aK_ 可编程参数运行 h:\WW;s[B
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d~M;@<eD pTT7#b(t 可编程参数运行选项 fjVGps$ j
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kTZ`RW&0 aKkL0 D 分布类型 j
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xdGmiHN FR"yGx#$ 在均匀分布的情况下，点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于，在截断分布的情况下，不会取参数范围外的值，而是在范围内生成一个新数。
];P$w.0 N j4= 效率的统计分布 L 1iA
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z UN&L7D P(D 0ru 光栅公差 CT(VV6I\ In<L?U?([D 
\X1?,gV_ fG_.&!P 最低效率的级次效率 =aR'S\<
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}q7rR:g d~ n|F| `: 随机分布类型 `p0+j
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