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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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dYwkP^KB {BmqUoZrC 任务描述 `XhH{*Q"X
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1vxRhS&FY ~%8P0AP VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 ?0_<u4
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E?G'F3i +bS\iw + VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 $uZmIu9Bi+
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.P$m?p# '< U&8?S 可编程参数运行 TIKkS*$
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UPI- j#yc 3)y1q>CQf 分布类型 b3^:Bh9
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[zx|3wWAX- >jX" 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
px<psR5 pM?~AYWb 效率的统计分布 &{V |%u}v
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t,?,T~#9 LUbj^iQ9 光栅公差 `qc"JB u]Ku96!
uQIPnd(V >$JE!.p%o 最低效率的级次效率 )2Ei<
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