T0=%RID%= 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
haW*W=kv) POtwT">z
@XRN#_{ 0.}WZAYy~ 任务描述 ]E!b&
01/yog
FyV)Nmc%t Mp`2[S@$ VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Bp>Z?"hTe
cgevP`*]
#`(-Oj2hH sj& j\<( VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 [~#]p9|L
sF+Bu'9A
zEYT,l Oj ?
|g_ 可编程参数运行 a8wQ,
AV%t<fDG#
~M!s0jT 1?}5.*j< 可编程参数运行选项 7 _*k<W7|
s}5,<|DL
py8)e7gX= x'IYWo
] 分布类型 c&AJFED]<
3+>;$
&W@#pG OPtFz6 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
dNg5#?mzT5 N& 683z 效率的统计分布 GjD^\d/
zF-R$_]av
1x8zub B ta'{S=^j 光栅公差 2LqJ.HH mufJ@Y S#
/3`(Ki{
Q ]W9 {<+& 最低效率的级次效率
BhcTPQsW
@j/|U04_Z
"f5 neW V^[B=|56 随机分布类型 Q eZg l!
z +NwGVk3