>;fn,9w 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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/W} 任务描述 (:}}p}u
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3u,B< FbW$H]C$ VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Xpfw2;`U'
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<J.q[fd1* FrV8_[ VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 aTBFF
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bX 可编程参数运行 zV"'-iP
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_93:_L 7{NH;U t 可编程参数运行选项 +IlQZwm~
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G"Hj$ U~oGg$ 分布类型 JX#0<U|L
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r,P`$- va0}?fy.O% 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
S{,|Fa^PPO 9A9T'g)Du 效率的统计分布 Nc?'},
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8T"kQB.Zv Bz>5OuOVS\ 光栅公差 dKa2_|k' 8wn{W_5a
F]s:`4 x]t$Zb/Uxa 最低效率的级次效率 B_XX)y %V
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V)Qg
XcL%0%` as[! 9tB] 随机分布类型 '@HCwEuz
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