`2Ju[P 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
)CYSU(YTD o5@
l!NQ
`GUj.+u 9{^:+r 任务描述 `BdZqXKG
Z,!
w.TYo
4\Mh2z5 &d[&8V5S VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 J`Q#p%W
blk~r0.2
5E+l5M*( L'`W5B@ VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 xT#j-T
/E@LnKe
(iIJ[{[H4) #x"4tI 可编程参数运行 tE/j3
XTXRC$B
]}<wS]1 p>96>7w 可编程参数运行选项 1b-4wonQd
9@nX 6\,
[Z`q7ddd^ K!lGo3n] 分布类型 /NNe/7'l
L ![b f5T
%TyR8
% iL\<G}
I 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
1;i[H[hNY LBk1Qw}- 效率的统计分布 RM|<(kq
XwOj`N{!H
N0,.cd]y` xwW[6Ah 光栅公差 Q4JwX=ZVj s_yY,Z:
-4mUGh1dy U{"&Jj 最低效率的级次效率 \(R(S!xr_
H5j~<@STC
O%AQ'[' a*0gd-e0@ 随机分布类型 g<-x"$(C&
4Cr|]o'