=KRM`_QShg 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
VK}4<u gY}In+S
@SQsEq+A?\ gLiJ&H 任务描述 Dc9uq5l
\0$+*ejz
'H1~Zhv Daf|.5>(@ VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 UBvp32p
,GbmL8P7Y
K`*GZ+b|` "hkcN+= VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 `FHudSK
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w$2q00R> ^BsT>VSH6 可编程参数运行 G5ATR<0m
g?j)p y
mvn- QP~" XqH@3Ehk 可编程参数运行选项 "k zKQ~
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M!&Hn,22 ]4:QqdV 分布类型 tr<~:&H4T
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|k a _Zy TG2#$Bq1 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
x6ghO-s 0Tj,TF 效率的统计分布 Nc[@QC{
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q'D Ts9Bj 1;B~n5C. 光栅公差 D
0Xl`0"' mxNd
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h@J 最低效率的级次效率 g_>&R58
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E@}F^0c 6?Ncgj
&@ 随机分布类型 7FX4|]
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