pY$Q 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
A.w:h;7 CVR3
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r!{Up7uL .w,q0<} VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 /|&*QLy
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u,Kly<0j [;myHI`tw 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
i<g-+ Qs CQDkFQq-dq 效率的统计分布 j^2j&Ta
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yyy|Pw4:Z !m?-!: 光栅公差 i8HTzv"J 0}dpK $.
}?v )N).kW ;@E$}*3[>V 最低效率的级次效率 }|5Pr(I
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J`1rJ g5r(>, vY 随机分布类型 4x[S\,20
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