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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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1my1m $,zW0</P*l VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 {gh<SZsE
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dhjX[7Bl9 2"HG6"Rr VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 6MNr H
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U"=Lzo.0 60 %VG 可编程参数运行 C_Z/7x*>d
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;O3E@ ""A6n{4 可编程参数运行选项 Dt!
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/_qHF- pHXs+Ysw+ 分布类型 <HtGp6q
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=3ovaP HX)]@qL 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
O>'tag m/"([Y_ 效率的统计分布 a@J/[$5
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sF>O=F-7 IEfYg(c0U 光栅公差 #^BttI 5KP\ #Y !C h1q {,u})U2 最低效率的级次效率 C1+f\A|9FP
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