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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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NMN&mJsmh Pf3F)y [= 任务描述 4`?WdCW8
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"'Q~&B;@ 8'Q&FW3" VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 GCxmqoQ
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]-OF3+l4 <^e VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 #Xi9O.
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zRm@ |IT 可编程参数运行 )s
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xr^fP~V|)0 "Q[?W(SA 可编程参数运行选项 Se!B,'C%
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{w v{"*Q9Q aM\Ph&c7e' 分布类型 OXV9D:bIa
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u)Vn7zh 6MQyr2c 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
3AcDW6x| *3y_FTh8ra 效率的统计分布 yk2XfY
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$$T a DV!0zzJ 光栅公差 y# IUDnRJ *nHkK!d<N
l0%7u jq(rnbV 最低效率的级次效率 rxeOT# N}
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YcM0A~< |_16IEJ 随机分布类型 $A)[s$
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