wqi0%Cu* 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
)E}@h%d e"_kH_7sv
"iR:KW@ t|mK5aR4 任务描述 PfyJJAQ[
Q6wa-Y,
@%G?Nht]o `a!9_%|8 VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 {
0-on"o
\7%#4@;?
R}cNhZC }Z{FPW.QK VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 8\^A;5
!/!ga)Y
-7]j[{?w [sjkm+
? 可编程参数运行 nmts% u
1;H"4u_IG&
yCA8/)>Gm \=7jp|{Yl 可编程参数运行选项 d,?Tq
nJGs ,~"
El@*Fo ZX64kk+ 分布类型 vzFpXdt
[8^q3o7n
GGhk~H4OP NPS*0 y/ 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
hxK;f fBctG~CJH 效率的统计分布 n=bdV(?4
{?5iK1|}K
R"9wVM;*c huS*1xl 光栅公差 jS~Pdz :)D7_[i
p7@R+F\.}; Y*PfU+y~ 最低效率的级次效率 #XA`n@2Uoo
* 70ZAo4
CUYA:R<) nvT@'y+ 随机分布类型 .1jiANY
ON){d!]uJ