R;f!s/^) 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
IXugnvyV )sVz;rF<
b$+.}&M QOkPliX 任务描述 @
Sw[+`
fNc3&=]]
A -G?@U 5~ CHj VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 }Z-]m
]z,W1Zs?
*S_eYKSl k#%BxT VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 g&H6~ +\
|Gb"%5YD
w9h\J#f Y6/'gg'&5 可编程参数运行 ` IiAtS
=)(o(bfSKr
h84}lxT^] )W~w72j- 可编程参数运行选项 ?C6iJnm
e7ixi^Q
=m=`| Bn Pm6/sO 分布类型 ;-47d ^
EaG3:<>J
c.Pyt JGp~A#H& 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
>z1RCQWju ig]*Z 效率的统计分布 PBb@J'b
T@uY6))>F
pm,&