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VirtualLab Fusion中，当研究制造偏差对
优化系统的影响时，可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同，不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布，但在此用例中，我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明，我们选择了锯齿
光栅的例子，为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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x!fG%o~h Fsm6gE`|n 任务描述 m ";..V
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.dMdb7 (8aj`> y VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 #M{qMJHDo
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,cL; ,YN )l$}plT4 VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 (:qc[,m
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,,BP}f+l$ 6F!B*lr 可编程参数运行 9Q^cE\j
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oz>2P.7 u -P !2vT 可编程参数运行选项 9sT5l"?g
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Y*$> d/E ka !v(j{E 分布类型 `:Gzjngc
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u1L^INo/ Jn^b}bk t 在均匀分布的情况下，点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于，在截断分布的情况下，不会取参数范围外的值，而是在范围内生成一个新数。
QOo'Iv+EL Vn4wk>b}$2 效率的统计分布 Bp_R"DS7A
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')!X1A{ C= V2Y_j 光栅公差 YO .+-( n'v\2(&uYN 
z,4mg6gt <|4$T H^ t 最低效率的级次效率 R8k4?_W?T
Cp(2]Eb
sde>LZet/ g/JF(nkP 随机分布类型 i-Rn,}v
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