539fB, 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
XRl!~Y| <)qJI'u|
0?$jC-@k: e 2"<3 任务描述 N9dx^+\
JT,[;
@u>:(9bp =x
xN3Ay VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 MJ\^i4
gAudL)X
lcX'n8/3 .5^7Jwh VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 h5o6G1ur
H2jF=U"=
`o4%UkBpM Hhzi(<e^ 可编程参数运行 /;X+<Wj
qo*%S
eqY8;/ .)g7s? K 可编程参数运行选项 NiSyb yR$
@$7'{*
!'z"V_x~ V;LV),R? 分布类型 j5:/Gl8
1F'x$~ZI
T;M4NGmvd vWH)W?2 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
:|HCUZ*H(T :!QT , 效率的统计分布 X:>,3[hx|
'PvOOhm,
J$^"cCMr hnnVp_<] 光栅公差 I_s* pT m4on<5s/
3Viz0I<% ` yYYyB[ 最低效率的级次效率 Z [YSET
adtgNwg
O~OM.:al& XY,!vLjL 随机分布类型 P_.zp5>
B!x7oD9