GE;S5 X]X 在
VirtualLab Fusion中，当研究制造偏差对
优化系统的影响时，可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同，不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布，但在此用例中，我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明，我们选择了锯齿
光栅的例子，为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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^0A}iJL 4 .7 YIM 任务描述 (S1c6~
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(Fc \*Vn RbPD3& . VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Ore>j+
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分布类型 Ziclw)
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.~] 在均匀分布的情况下，点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于，在截断分布的情况下，不会取参数范围外的值，而是在范围内生成一个新数。
ckn0I tK@|sZ>3\ 效率的统计分布 ;#'YO1`gf3
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pqjgt @Z0?1+k 光栅公差 JmMB=}
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