$,Q]GIC 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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C D6N8n] G9&2s%lu.e VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Sa)sDf1+`
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ZxOo&YR3 "+2Cs VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 yC
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,ye[TQ\,M Slo^tqbG 分布类型 Bi9Q8#lh
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@}PXBU DXj>u9*% 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
&kvmLO I bD/ZKvg 效率的统计分布 PN99 R]K0g
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3O4,LXdA vC1fKo\p 光栅公差 yX*$PNL5w /
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k8J zey]X zqt%x?l 最低效率的级次效率 Nk7=[y#z
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I%:?f{\ zC:Pg4=w] 随机分布类型 X'\h^\yOo
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