zN:752d^+r 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
c9[5) G~]BC#nB_
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任务描述 UGMdWq
*Tlv'E.M
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9$ww} VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 HHYcFoJwYN
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P!bca lrzW H0Q VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 rij[ZrJ
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9s)oC$\ V_pBM 可编程参数运行 "mf;k^sqS
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Sf8d|R@O O2e"TH3 可编程参数运行选项 nGVqVSxKT
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Z7^}G=* 1#(1Bs6X 分布类型 ?zEF?LJoK
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D|o@(V =-qsz^^a- 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
L DsYr] $#r(1 Ev 效率的统计分布 E@FenCF
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y6/X!+3+ : [y(<TLw 光栅公差 &; \v_5N6 f#5JAR
hgK=fHJk Ub,unU 最低效率的级次效率 (zBQ^97]
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Q-v[O4y~ 9K|lU:, 随机分布类型 *-_Npu6
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