n*<v]1 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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XN#&NT{t} hi|! 任务描述 ]a?bzOr,
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&w85[zs Q9c)k{QZ VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 k_ Y~;P@
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.TpsJXF U]R~ gy}# VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 ab.tH$:<
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DMn4ll| &;c>O 可编程参数运行 7 ^$;
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QR0(,e$Dl qf#)lyr<D6 可编程参数运行选项 o6a0'vU><
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)8,|-o= I:l01W; 分布类型 Q.Aa{d9e
Q@S-f:!
mJ5H=&Z skg|>R,kE 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
fjG&`m#" pQa:pX 效率的统计分布 `<frgXu64
O_~7Glu
8sOQ9 :"1|AJo) 光栅公差 =9wy/c$ 6'vbT~S!
[?0d~Q(R# 0~Gle: 最低效率的级次效率 vB'>[jvA|
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3=mr
"&]r: v,@F|c?_S 随机分布类型 WXw}^v
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