Ni_H1G 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
n ay\) ^h[6{F~J
b;i*}4h! 8em'7hR9 任务描述 o=m5AUe?J
x5lVb$!G
d<m;Q}/l&h
|Xso}Y{ VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 m eF7[>!U
W5|{A])N
t~+M>Fjm?d =M\yh,s! VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 S:xXD^n#H
,1-%C)
14,)JZN {]CZgqE{ 可编程参数运行 (m/:B=K
1-kuK<KR
Hv/C40uM- r:QLU]
可编程参数运行选项 >.?yz
o@Ye_aM~?Y
\8{SQ% ?JuJu1 分布类型 1$*8F
+t7HlAXB#
HhbBt'fH {v"f){ 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
(j8*F Bq '(]Wtx%9" 效率的统计分布 <J8c dB!e
%NLd"SV
hb[ThQ u(9pRr
L 光栅公差 g@H<Q('fJ vn.5X
)<x9t@$ 4MC]s~n 最低效率的级次效率 wSR|uh
VwR\"8r3
l+;S$evY '(K4@[3t 随机分布类型 -jjB2xP
%|jS`kj