g]?>6 %#rA 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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XF@34b5( 0juP"v$C> 任务描述 |a'$v4dCF
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]&='E.f T/hz23nH VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 F"23vG>3
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p9 VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 4:s,e<Tc4v
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可编程参数运行 2';{o=TXV
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yRp&pUtb @v\8+0 可编程参数运行选项 j5~~%
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h=kC3ot\ |#(y?! A^ 分布类型 t7e7q"+/
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_+Pz~_+kS u})8) 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
,OMdLXr @ykl:K%ke 效率的统计分布 =W gzj|Kr
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S++jwP nM!_C-yX 光栅公差 'W&ewZH_h r#J_;P{U
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n 最低效率的级次效率 ;[:IC^9fv
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!R[~Z7b6 Vf$$e) 随机分布类型 qtz~Y~h|>
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