3A_7R-sQ 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
xf8C$|, kfo, PrW`A
]3_oT^$: L;=<d 任务描述 JJ3(0
+
FAVw80?5k
`z$<1QT 7E$
e1= VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 OLc/Vij;
r"OVu~ND
(( 0%>HJ{~ C7`FM@z VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 3&!X8Lhv
7d?'~}j
!GcH ) C+-xC~ 可编程参数运行 @ oE [!
vLW&/YJ6
DCv~^ =<I 90j~) 可编程参数运行选项 9g#L"T=
p]uwGWDI
2H8,&lY.p RYDV60*O6 分布类型 Wyf+xr'Ky
i~}[/^
Mg]q^T.a ZYo Wz( 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
i{w<4E3 yz!j9pJ 效率的统计分布 Hq h
bZk7)b;1o
Y!9'Wf/^ O0#wM-M 光栅公差 QfJ?'* [G^ir
m]JZ@ l|[cA}HtB 最低效率的级次效率 WC,&p
\3(d$_:b
;Y#~2eYCz T_O\L[]p* 随机分布类型 @2-Eky
,KF>PoySA