f;nO$h[Qb 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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vThK@P!s i@C1}o-/ 任务描述 : ;nvqb d
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=wEqI)Td I+?9}t VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 csPziH$wl
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O{^ET:K@ VoOh$&"M VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 OUd&fUmH
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P@m_tA% (W~')A"hC' 可编程参数运行 LB1AjNJ
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'9+JaB 5ir[}I^z 可编程参数运行选项 {*Ag[HS0u
e-Xr^@M*Q
Lad8C &.zG?e. 分布类型 RZtY3:FBx|
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L*Gk1' s7A3CY]-> 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
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L DHUK_#! 效率的统计分布 tJ{3Z}K
J-6l<%962%
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NE4 光栅公差 (Q_J{[F i;u#<y{E
qSg#:;(O 3y[6n$U& 最低效率的级次效率 59Lv/Mfy
M@k8;_5
B1x# 7>K r9nyEzk 随机分布类型 Q"6:W2#v
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