Cee?%NaTS 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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Tb~(?nY5 \@tt$ m% 任务描述 4Mnne'7
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ud!iy VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 V.:imj
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Gu&zplB u:"mq.Q VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 b9`MUkGGd
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pu! 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
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K- EZE/~$`3 效率的统计分布 w6v P
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8X[G)J; 光栅公差 1}BW .6f
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jsfyNl?6 X=mzo\Aos 最低效率的级次效率
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