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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 -9EbU7>! S]m[$)U%@ =t2epIr5 E*vi@aI 建模任务 ^D)C|T /_8V+@im T /uu='3 概述 3#unh`3b b`mEnI
VIz •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 S"l&=J2dc •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lki(_@3 e{=$4F KtE`L4tW6 *:(t.iL 光线追迹仿真 3L|k3 `I4 QPnc "! •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。
v:'y&yS •单击go! rxA<\h,A •获得了3D光线追迹结果。 Aj_}B. !=pemLvH j#,O,\ (TPD!= 光线追迹仿真 2bmppDk l_WY];a •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 7VraWW`H' •单击go! 5VfP@{ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 }V{,
kK =0S7tNut -zt\weqA `{%*DHa 场追迹仿真 &IPT$=u EHOdst •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 /e}k7U,^ •单击go! 6tM{cK%v1 @gd-lcMYW 9Bn
dbSi 7^1ikmYY 场追迹仿真(相机探测器) ts
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+W!: QnqX/vnR •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Ua4} dW[w •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 *T3"U|0_ y lWR Y:wds=lA .s+e
hZ 场追迹仿真(电磁场探测器) fN9hBC@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 <]<50 pP .
*+G K?Ga /cg!Ap5 场追迹仿真(电磁场探测器) A/MOY@%G ,xiRP$hGhh •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 OA8pao~H wGB'c's* eWFlJ;= W{%M+a[#l
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