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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 WLA_YMlA
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Ij,?G* 建模任务 5w -G]b +[go7A$5  <\#
概述 :/?R9JVI . LVOaxT •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Y)-)NLLG;n •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 '3kL=( x[h<3V"
 x sypIbN M<m e\s) 光线追迹仿真 1=cfk# fCo2".Tk •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 7G #e~,M5 •单击go！ 97@?QI} •获得了3D光线追迹结果。 {b8 Y- rD)v%vvr&`
 lKD< bTYP{x~ y 光线追迹仿真 X2mm'J DwK X0J]6|du. •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 jjlCi<9CQ^ •单击go！ ?&bVe __ •结果得到点图（二维光线追迹结果）。 x>/@Z6Wxz z AdVJ58H
 */m~m? / o3FK 场追迹仿真 t~=@r9`S
Z` Eb
L •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 }u$a PS<$! •单击go！ in|7ucSlg t
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(E] K)d 场追迹仿真（相机探测器） ?;kc% Rz [Z&s0 f1Qb •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ;eSf4_~ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 D&lXi~Z%. rMFf8D(Y
 9w< _XXQ GHrT?zEX 场追迹仿真（电磁场探测器） uS10P7N} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 \:^n-D*fX 5 /VB'N#7s  &wC.?w$
_ r)hr7 场追迹仿真（电磁场探测器） aD`e]K ^L
" 4- Nnm •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "k@/Z7= B=xZkc
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