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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ,`;jvY~Ec -u6}T!
`'uUmyg I^WIa"u_ 建模任务 C1V# ?03eI A^pu s0r"N7~ 概述 Q4X7Iu: (Up'$J} •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 WNhbXyp_ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 B]1HS`*7 cFLd)mt/
z/S,+!|z qtHfz"p 光线追迹仿真 Qu`n& i`+B4I8[ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Kh)FyV •单击go! kBbl+1{H •获得了3D光线追迹结果。 uyFn}y62 :lK4
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gv9=quG +3Y!xD?= 光线追迹仿真 7IW> >RBF 8a9RML}G< •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 >!}`%pk( •单击go! .|uLt J •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 M-Y0xWs noC?k }M
uUG*0Lj ?U_9{}r 场追迹仿真 H] k'?; 3sFeP& •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 YsP/p- •单击go! B
wC+ov= M$A#I51 xQu
eE{ `tE^jqrke5 场追迹仿真(相机探测器) RH(V^09[o kq-6HDR •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @u)
'yS •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 "+|L_iuNQ \k@Z7+&7
Ue$zH"w M=y0PCD 场追迹仿真(电磁场探测器) kIvvEh<L= •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 M3pjXc<O B9X8 9<s4yZF@x Pxhz@":[ 场追迹仿真(电磁场探测器) },c,30V' b |7ja_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ^0tw%6: 'iUg[{'+
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