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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 'j&+Pg)@
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0Tp,b (;n P80mK-Iyv_ 建模任务 pXPLTGY<R+ &[#iM0;)W0 BU;o$"L 概述 tMbracm e]5
n4"]D) •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 qL;u59 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 sW#OA\i& 'cgB$:T}.,
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l2`c}9 rP%B#%;S" 光线追迹仿真 OK8|w]-A JnodDH ? •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 5yl[#>qt •单击go! vr2cDk{ •获得了3D光线追迹结果。 Lnk(l2~U E!rgR5Bd
Z) qts= a]]>(Txc 光线追迹仿真 ,RXfJh F<9S, •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 09_5niaz[ •单击go! 6C@W6DR3N •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 zt3y5'Nk nm}wdel"
qvH RP@ '.$va< 场追迹仿真 +!6dsnr8 /$-Tg)o5i •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 J{w[vcf •单击go! \g;o9}@3~ P(|+1$#[ rf\A[)<: r5w y]z^ 场追迹仿真(相机探测器) 7SVqfWp {vf4l4J( •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 0D.qc8/V4. •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ]>_Ie?L)< ]-+%]'
5vSJjhS \2U F J 场追迹仿真(电磁场探测器) 0Z,a3)jcc •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~9Jlb-*I5 3U\| E :=cZ,?PQp1 BXj]]S2 场追迹仿真(电磁场探测器) V;-$k@$b. *p !F+" •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >3SZD YYs/r
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