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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 129\H<
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YtvDayR> t >"`rcg 建模任务 Ua
\f]y _3%$E.Q 2!-Q!c`y 概述 cVx SO`jZw mQ`atFz:Z •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ({rcH.: •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 j.] ]VA ZX&e,X~V
h.K"v5I* -sA&1n"W&5 光线追迹仿真 3}\ z&| YT8q0BR] •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 #$W5)6ch •单击go! O W.CU=XU •获得了3D光线追迹结果。 ]8%E'd n`Z}tQ%)o
X[.%[G|oj} 9 RDs`>v 光线追迹仿真 wzy[sB274 m^XO77" •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 2o(O`;z •单击go! +/celp •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 /#T {0GBXe 424iFc[
ng+sK R5e[cC8o. 场追迹仿真 xKE=$SV( OD7A(28 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 &*/= `=:C8 •单击go! \\ItN ahgP"Qz ZgEV-.>P @,oc%m 场追迹仿真(相机探测器) wowf1j- `scW.Vem •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 k(RKAFjY •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 >[wxZ5)) !x-__[#
=_=%1rI~ Mhn1-ma: 场追迹仿真(电磁场探测器) xkFa •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 O-7)"
!+$QN4{9 8 !:2: [ p,]/ ^ N 场追迹仿真(电磁场探测器) H2|'JA#v e~gNGr]L/ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >y8>OJ?A7- 4r_*: $g
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