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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 4|41^B5Y bKMR7&e.Ep
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3XZD4.2 {$1$]p~3o 建模任务 H?(SSL A1t~&? >g"M.gW 概述 4zfRD`; ZWhmO=b! •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 #!u51P1 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 P:,
x?T?J^ h k!,
}Wche/g` ,ibPSN5Ca 光线追迹仿真 R~5*#r@f P9TBQW2G{ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 XZdr`$z f •单击go! ;!JX-J q •获得了3D光线追迹结果。 5H :~6z LUDJPIk
8u'O`j 'bI ~61{A 光线追迹仿真 X})Imk7&E w Al}:|+n •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 =i^<a7M~ •单击go! *zVLy^L_8 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
^*xHy` D@\;@(
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sId(PT^ 71.\`' 场追迹仿真 ^L-w(r62< z1'FmwT •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 :EmQ_?( ^ •单击go! d=Df.H+3 T<f\*1~^ }\u% )uZ K%(XgXb(</ 场追迹仿真(相机探测器) 6snOMa GRu qQxA@kdd •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Y%0d\{@a •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 `kNi*I^ a\{1UD
x* =sRf 46K&$6eN 场追迹仿真(电磁场探测器) M .)}e7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 jkF+g$B &(1H!
! FR%QGn1 2T@L{ ql 场追迹仿真(电磁场探测器) sCF40AoY& S~k*r{?H}) •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ```d:f iO*`(s
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