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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 \`}Rdr!p% %W~Kx_
Gu}|CFL\ 0+jR,5| 建模任务 3%{A"^S=} 6+u}'mSj8 N3
.!E| 概述 .Qm"iOyM +kP)T(6 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 s%z\szd* •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 }u:@:}8K _p <W
,V'+16xW hNgbHzW 光线追迹仿真 secD
`] !G=!^RA •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ukHSHsR •单击go! 4*'5EBa1 •获得了3D光线追迹结果。 eQ`TW'[9_6 xpCzx=n3.m
=cI -<0QSn 0$NcxbM 光线追迹仿真 @[h)M3DFd }tA77Cm)45 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 1;?n]L`T •单击go! *z
I@Htp •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 1)yEx1 :tU&d(8
aNLRUdc. ^0vK > 场追迹仿真 AdB B#zd 8oiO:lyLSt •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 *"Yz"PK •单击go! {:BAh5e| XgL-t~_ 3Kuu9<0 V'?bZcRr~ 场追迹仿真(相机探测器) Ks'msSMC GcN[bH(@ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ,l/~epx4v) •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 8g0By;h; WO$9Svh8
j_H"m R [&12`!;j 场追迹仿真(电磁场探测器) ]."~) •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Y3@\uM`2# `/?XvF\ _`3'D`s sjl( 场追迹仿真(电磁场探测器) mU0j K@^&M &/QdG= r + •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q"BM*:W !qGER.
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