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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ?=msH=N<l J1U/.`Oy
!PlEO 2at xj)F55e? 建模任务 VT)oLj/A @gEUm_#HTs t>RY7C;PuS 概述 r|8d
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82omL •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ub0.J#j@ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 sE<V5`Z= Q$W
$)i")=Hy 05#1w#i 光线追迹仿真 |^I0dR/w: (8DC}kckE •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 k"%~"9 •单击go! eKgBy8tNS0 •获得了3D光线追迹结果。 W(Fv
l +o{R _
DPxM'7 Xl{P8L 光线追迹仿真 UhWNl]Z ZQsJL\x[UK •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~W'{p •单击go! e]"W!KcD9 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 \)904W5R .G.0WR/2
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$ [}w [!uG1 GJ> 场追迹仿真 I*{nP)^9 65P0,b6"OT •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 HZB>{O •单击go! ~H_/zK6e 2WL|wwA _/$Bpr{R 6<SAa#@ey 场追迹仿真(相机探测器) ~$cV:O7 [PM2\#K •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 }OR@~V{Gj •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 "Yv_B3p IqHV)A
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CtO 场追迹仿真(电磁场探测器) :{v#'U/^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D,*3w'X!K 85$m[+md {X+3;& |