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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 fYCAwS{ 9CL&tpqv
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zSq+#O1# %|,j'V$ 建模任务 \<z{@ `,7BU??+u J\ 3~ 概述 vO&1F@ TAGqRYgi •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?SQT;C3j( •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 7qh_URt@ da2BQ;
bo@1c0 'rCwPsI&4 光线追迹仿真 Crey}A/N )T2Sw z/ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ZsV'-gu •单击go! 8`*`4m •获得了3D光线追迹结果。 u|w[b9^r E7jv
kU#$ &i!.6M2 光线追迹仿真 AalyEn&> I/'jRM •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 KD#ip3 •单击go! _e?(Gs0BM •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ,Ma$:6`f h7%<
@h$7C< ZB%7Sr0 场追迹仿真 p_mP' cZHlW|$R •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 7W 4[1 •单击go! KWd]?e) ,NVQ C= EW YpYMkm Pw+cpM8< 场追迹仿真(相机探测器) t4 aa5@r ,{]>U'- •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ="XxS|Mq3 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ==Y^~ab;K rVZkG,Q
G`TO[p]q [Si`pPvl 场追迹仿真(电磁场探测器) GV%ibqOpQj •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 hL&z"_` 7MBz&wE^f 1tfm\/V}ho i5:fn@& 场追迹仿真(电磁场探测器) =G*<WcR WJ/&Ag1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ZfIQ Fh> X4 xnr^
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