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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 dx;k`r$w Q,80 Hor#J
a')|1DnR C:G8c[ 建模任务 `U2DkY&n )#LpCM,a |{,KRO0P 概述 5+fLeC; f-r]
|k •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 }2ZsHM^]% •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 &N;-J2M /Wf^hA
&.Zb,r$Y
eAqz3#_My 光线追迹仿真 zq%D/H6J, j^`hzh3S •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 +S=Rn, •单击go! _!|/
;Nk •获得了3D光线追迹结果。 aH#l9kCb oTT7M`P3h
p6vKoI#T 3"{.37Q 光线追迹仿真 ~,2/JDVJ5- x|{IwA9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 R<V!%rL;; •单击go! 5^j45'%I •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 r#6_]ep}<' Iuh/I +[7
Y F*OU"2U %8~3M75$ 场追迹仿真 owPm/ F 'ky b\q •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 pD&&l!i&[ •单击go! )$,"u4 %E_b'[8 5 QO34t2 \Vl`YYjZ 场追迹仿真(相机探测器) 1LJUr"6] 1 1cWy+8D •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ;.bm6(; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ,()0'h}n ?h1H.s2X
7-BvFEM; ]@Sj`J[fd 场追迹仿真(电磁场探测器) f#Xyoa% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 G-T0f 'fL"txW TFcT3]R[rL 4np qJ1 场追迹仿真(电磁场探测器) ,$eK-w U#1bp}y •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 c_"
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