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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 a?ux 1CpIK$/
xJ|_R,>.H o-r00H| 建模任务 qB8R4wCf CH+mzy ^% jk. * 概述 e|S_B*1*0 \9`76*X6
c •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 s2t9+ZA+s •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +/4wioGm R.$1aqA}
uo[W|Q p^THoF'~T 光线追迹仿真 r`5svY 5!*@gn •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 8q_"aa,` •单击go! ~"}o^#@DwJ •获得了3D光线追迹结果。 j$Wd[Ja+O o#=@!m
;X)b= caXSt2|' 光线追迹仿真 ~zph,bk y';"tD Fb •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 9L9qLF5 t •单击go! \<0xg[ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 x#c%+ SKeX~uLz
UNJAfr P =]m,7 v Rq 场追迹仿真 g=L80$1
GW\66$| •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 z6x`O-\ •单击go! AtYqD<hl: T3,}CK#O fF]w[lLDv ,Aw
Z% 场追迹仿真(相机探测器) W\5PsGUsv G;Py%8 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 z[+Sb; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 $~)YI/b 8~ wP?
=>htX(k} gi #dSd1\& 场追迹仿真(电磁场探测器) KGJ *h •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "< })X.t #6*20w_u /_qW?LKG/ NE4 }!I 场追迹仿真(电磁场探测器) ;DXg )18C(V-x •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 bZW dd6 w9TE E,t;5
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