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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 5!57<n 7c<_j55(
$J]NWgXl@ gEmsPk, 建模任务 s-F3(mc( B9`_~~^U5 +JB*1dz>8 概述 I]Z"?T oJc7az •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 3qDuF •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 dd@
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s KPZqPtb;
qg*xdefQ% l\u5RMS(' 光线追迹仿真 iE]^6i :Yi 4Ia •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ir_X65l/2 •单击go! mE9ytFH\k •获得了3D光线追迹结果。 K~qKr<) JP]-a!5Ru
#-PUm0| -(E-yCu 光线追迹仿真 FX~pjM {!pYQ|# •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 WaiM\h?=# •单击go! (cp$poo •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 {y<E_y
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T1RICIf1F l i%8X. 场追迹仿真 %'9&JsO Fn;Gq-^7@ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Enhrkk •单击go! \obM}caT T
0?9F2 CSr2\ogT Emv9l~mIu 场追迹仿真(相机探测器) mvyOwM {dvsZJj •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ?cD_\~ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 $-n_$jLY #aadnbf
bhCAx W ?1H>k<Jp 场追迹仿真(电磁场探测器) ASr3P5/ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 92^Dn`g *C(q{|f B,A\/%< #/WjKr n 场追迹仿真(电磁场探测器) .j`8E^7< J*qo3aJjE •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 #3-hE JL?|NV-
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