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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 [Zzztn+ 4aW[`
xSDTO$U8% yivWT;` 建模任务 LIKQQ #hk5z;J5 ^Pah\p4bj 概述 VGc.yM)&
j #<s"?Y%- •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 D;*cy<_K8 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 qJ .XI x&"P^gh)
Q- w_@~ suYbD!`( 光线追迹仿真 g9=_^^Tg .*X=["
F •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =pTTXo •单击go! |>1#)cONW •获得了3D光线追迹结果。 !}5rd\ _xy[\X;9
)3<>H!yG} s%8,'3& 光线追迹仿真 A-J#$B _'<FBlIN •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 i r'C(zD= •单击go! r8!pk~R5] •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 - P" 9M;Y$Z
gVy`||z PS=q):R| 场追迹仿真 ;lSsy 6urU[t1 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Mvp|S. •单击go! ~|N,{GaL g++-v HD 1=C<aRZ b^ {+[Ex2b$ 场追迹仿真(相机探测器) VvT7v] Z9*@w`x^u •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 2+b}FVOe\ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 TtH!5{$s }`!-WY
lR9uD9Dr I?Z"YR+MQ 场追迹仿真(电磁场探测器) TP~1-(M)} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 DrbjklcUU "@|rU4Y P,xJVo\ iq^;c syKb 场追迹仿真(电磁场探测器) B(5>H2 .:GOKyr(~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Hs_7oy|P b'z\|jY
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