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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-06-28
    高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 [Zzztn+  
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    建模任务 LIKQQ  
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    概述 VGc.yM)& j  
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    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 D;*cy<_K8  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 qJ .XI   
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    光线追迹仿真 g9=_^^Tg  
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    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =pTTXo  
    •单击go! |>1#)cONW  
    •获得了3D光线追迹结果。 !}5rd\  
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    光线追迹仿真 A-J#$B  
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    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 i r'C(zD=  
    •单击go! r8!pk~R5]  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 - P "  
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    场追迹仿真 ;lS sy  
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    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Mvp|S.  
    •单击go! ~|N,{GaL  
    g++-v HD  
    1=C<aRZ b^  
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    场追迹仿真(相机探测器) VvT7v]  
    Z9*@w`x^u  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 2+b}FVOe\  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 TtH!5{$s  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) TP~1-(M)}  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 DrbjklcUU  
    "@|rU4Y  
    P,xJVo\  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) B(5>H2  
    .:GOKyr(~  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Hs_7oy|P  
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