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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 o4)hxs /#t&~E_| @Fx@5e vWY(% Q, 建模任务 9?`RR/w (@&I_>2Q #":a6%0Q 概述 % vS8?nG UR3 $B%i •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 9
5 H?{ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 BaL]mIx p`>d7S>" 6Rz[?-mkLO 6
=gp:I 光线追迹仿真 Rd! 2\| (9GbG" •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 y1C/v:;
•单击go! 5(J^N •获得了3D光线追迹结果。 Tf-CEHWD s~$zWx@v PDC]wZd/ r95zP]T 光线追迹仿真 >saI+u'o 4e9E'
"8% •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 .~`Y)PON •单击go! M+ aEma •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ")M;+<c"l #&siHHs \ 4<}A]BQVkJ kxo.v |)8 场追迹仿真 Z[}
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.n} •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ( V4G<-jG •单击go! e@j8T
gI) V2<i/6~ Yu3_=:
<C .B$h2#i1 场追迹仿真(相机探测器) Taasi`
k hTTfJDF •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 %fpsc_ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 sqG`"O4W x,1=D~L} @L;C_GEa 3bts7<K= 场追迹仿真(电磁场探测器) -S$$/sR •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 .Cr1,Po <E}N=J'uJ h,]+ >`b o? dR\cxj 场追迹仿真(电磁场探测器) Wp4K6x d*%Mv[X:< |