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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 E-*>f"<h ]5qjK~,4b
B=o#LL UcKWa>:Fi 建模任务 VNOK>+ BMtYM{S6 m \R@.jkZ 概述 ;&7qw69k <uWJ>sg^6 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 _zVbqRHlw •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 RN cI]oJ j,gM+4V^
l:k E^ =6 O(c4iWm 光线追迹仿真 B8BY3~}] A7I8Z6& •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 1*eWvYo1 •单击go! N8/Au=De_ •获得了3D光线追迹结果。 H7cRWB B4M'Er{v
[8om9 Z3 Q>+_W2~] 光线追迹仿真 "~i#9L/H SbQ{ > •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 CO6XIgTe •单击go! fu7[8R"{ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 MZhJ,km) QVA!z##
B=nx8s KlSY^(kHR 场追迹仿真 'DB({s H]]>sE •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 %CfTqbB •单击go! lfI7&d* 6b1 Uj< 5D q{"@E m<VL19o>R 场追迹仿真(相机探测器) ROI$;B( u{y5'cJ{ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 BfO}4 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 T=)L5 Vuq< rO2PbF3
4QN6BZJ5 LnACce
?b 场追迹仿真(电磁场探测器) nqw*oLFQ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *Sp O|*' rt4|GVa sjgxx7 Yv|bUZ@ 场追迹仿真(电磁场探测器) h: (l+jr J1wGK|F~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !&<Wc^PG HoQ(1e$G-
UW~tS ,HjHt\!~<
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