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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-06-28
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 a?ux  
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    建模任务 qB8R4wCf  
    CH+mzy  
    ^%jk.*  
    概述 e|S_B*1*0  
    \9`76*X6 c  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 s2t9+ZA+s  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 +/4wioGm  
    R.$1aqA}  
    uo[W|Q  
    p^THoF'~T  
    光线追迹仿真 r`5svY  
    5!*@gn  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 8q_"aa,`  
    •单击go! ~"}o^#@DwJ  
    •获得了3D光线追迹结果。 j$Wd[Ja+O  
    o#=@!m  
    ;X)b=  
    caXSt2|'  
    光线追迹仿真 ~zph,bk  
    y';"tDFb  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 9L9qLF5 t  
    •单击go! \<0xg[  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 x#c%+  
    SKeX~uLz  
    UNJAfr P  
    =]m,7v Rq  
    场追迹仿真 g=L80$1  
    GW\66$|  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 z6x`O-\  
    •单击go! AtYqD<hl:  
    T3,}CK#O   
    fF]w[lLDv  
    , Aw Z%  
    场追迹仿真(相机探测器) W\5PsGUsv  
    G;Py%8  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 z[+Sb;  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 $~)YI/b  
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    gi #dSd1\&  
    场追迹仿真(电磁场探测器)  KGJ *h  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "< })X.t  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) ;DX g  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 bZWdd6  
    w9TE E,t;5  
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