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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 O^IpfS\/ `Y(/G"]
s\KV\5\o t=yM}#r$ 建模任务 ].Et&v n\P{Mc Rq\.RR]( 概述 '7E?|B0], QiZThAe •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Wm"W@LPx5 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 U9;AU]A aIm\tPbb
G,$jU9 f av5lgv)3 光线追迹仿真 >Vg<J~[g l9SbuT$U •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 /O&j1g@ •单击go! TYB^CVSZ •获得了3D光线追迹结果。 hsVWD,w Jj([O2Eq$
hB|LW^@v //AS44^IS 光线追迹仿真 NB>fr#pb )WBTqML[ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 M#2DI?S@ •单击go! 9?]4s-~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 %pV/(/Q mF#{"
2AU_<Hr6 QPdhesrd- 场追迹仿真 ~I!7]i]"*? xy[R9_V •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ku?i[Th •单击go! $%sOL(
r 8wwD\1pLS 5]gd,&^?> s_VP(Fe@K 场追迹仿真(相机探测器) k+%6:r,r& &grT} •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 uE+]]ir •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Bm.%bA>
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elw<(<u` @@_f''f$ 场追迹仿真(电磁场探测器) KLlW\MF1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 llI`"a q]<cn2 bf::bV?T rsA K0R+ 场追迹仿真(电磁场探测器) n|3ENN :X/j%m* •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 hesL$Z [ 91e&-acA
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