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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 HP_h!pvx W`vPf
Q njK<}M9 1aS:bFi` 建模任务 de2G"'F 2;>uP#1] cq?,v?m 概述 Z7pX%nj_ C}<e3BXc •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 dl8f]y#Q •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ?'a>?al%> ]!^wB 3j
qS! Lt3+ Uaux0W 光线追迹仿真 ktynIN iR9duP+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 4Ol1T(J# •单击go! k3t]lGp •获得了3D光线追迹结果。 J`0dF<<{[y =J)-#|eZG
+{=U!}3| >f Hu 光线追迹仿真 z7XI`MZN^ [^}bc-9?i •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
+ug2p;<B •单击go! cy!P!t,@ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 9]ZfSn) W0mvwYON[
X6Z/xb@ VByA6^JR 场追迹仿真 &F#eYEuy $-pijBiz_ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 vv2[t •单击go! $v2t6wS," MtPdpm6\ X=f %! _ ~yd 场追迹仿真(相机探测器) "AXgT[ O QA^FP8!j •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 K@2"n|
S; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 cy?#LS O>vCi&
N.Q}.(N0 A9]&w 场追迹仿真(电磁场探测器) WQN`y>1#@_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ?RsPAL XPdqE`w=$p y"7*u
3>" 6A=k;do 场追迹仿真(电磁场探测器) 8EJP~bt 95j`^M)Q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 LcA7f'GVK A2L"&dl
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