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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-06-28
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ddiBjp2.!  
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    建模任务 }|Wn6X  
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    概述 hR1n@/nh  
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    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 WFBVAD  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0cxk)l%  
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    光线追迹仿真 "o ^cv  
    #^FDFl  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {zf)im[.  
    •单击go! V<+= t{  
    •获得了3D光线追迹结果。 'QrvkQ  
    It .`  
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    Cm5:_K`;]  
    光线追迹仿真 6]*~!al?  
    }&{z-/;H  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 SpB\kC"K  
    •单击go! W$X@DXT=o  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 :Vyr8+]  
    ">pt, QV  
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    场追迹仿真 aN/0'V|&ym  
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    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1 ynjDin<  
    •单击go! 7Ib/Cm0d|  
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    场追迹仿真(相机探测器) x/pM.NZF1  
    S|pMX87R  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 g,0u_$U  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 lW!}OzE(m  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) .-Xp]>f,  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ba-J-G@YW  
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    APC,p,"  
    E(;V.=I  
    场追迹仿真(电磁场探测器) bJz}\[z  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 [= GVK  
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