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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ;&?pd"^<_Z .Z%G@X*
1r571B*O HXks_ix ) 建模任务 ]}2Ztr)zZ @
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g 概述 oY6|h3T=Q$ I~]mX; •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 y=qo-v59' •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 6'*Uo:] N[bf.5T
HXV73rDA f]A6Mx6 光线追迹仿真 XM@i|AK
M0 Jx>B %vZ\ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 GV@E<dg$R •单击go! m#K%dR
•获得了3D光线追迹结果。 l5OV!<7~X dQ|Ht[s=
C<@1H>S4_
Z#t)Z " 光线追迹仿真 ~)8i5p;P/k jv=f@:[`I •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 59Q Q_#> •单击go! YB1DL^: •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 N3c)ce7[
p{svXP K
rJQ|Oi&1i ]9< 9F ? 场追迹仿真 2&K|~~ L{,7(C= •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 WJ8vHPSM •单击go! '*;eFnmvs: 5{/Pn%5 PZg]zz=V4 c%/&@vs7 场追迹仿真(相机探测器) 78J.~v/ p}|wO&4h •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 4x?u5L
9o •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 UkbQ'P+oS H1qw1[%0y
C{,] 1X6g JU \J
场追迹仿真(电磁场探测器) UuC"-$: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (ai-n,y ]sP9!hup EjE`S_i= 7:q-NzE\6 场追迹仿真(电磁场探测器) *"sDaN0@R A?k,}~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9,> Y "(&`muIc
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