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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ddiBjp2.! 95%,
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bPHqZ*f wqyrs|P 建模任务 }|W n6X GDUOUl& Z?}yPsOb 概述 hR1n@/nh {~RS$ | •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 WFBVAD •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0cxk)l% Yo$
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g.re`m|Aj c7fQ{"f 3B 光线追迹仿真 "o
^cv #^FDFl •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {zf)im[. •单击go! V<+=t{ •获得了3D光线追迹结果。 ' QrvkQ It
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}&h*bim Cm5:_K`;] 光线追迹仿真 6]*~!al? }&{z-/;H •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 SpB\kC"K •单击go! W$X@DXT=o •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 :Vyr8+] ">pt,QV
#kt3l59Ty ' `K-rvF,C 场追迹仿真 aN/0'V|&ym ^*fZ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1 ynjDin< •单击go! 7Ib/Cm0d| 8'Y7lOXS j.FW*iX1C *Ou )P9~-L 场追迹仿真(相机探测器) x/pM.NZF1 S|pMX87R •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 g,0u_$U •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 lW!}OzE(m 0Ek+ }`
3bGJ?hpp qf7oG0 场追迹仿真(电磁场探测器) .-Xp]>f, •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ba-J-G@YW dcGs0b APC,p," E(;V.=I 场追迹仿真(电磁场探测器) bJz}\[z q*^F"D:?k •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 [=
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