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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 F-AU'o
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建模任务 F
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6_|iXs(& QO2@K1Y 概述 z]_2lx2e j9gn7LS •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 /]j^a:#"6t •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ;)~}/nR<a JfD-CoQS'
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>"qv 光线追迹仿真 P5Lb)9_Jw m`i_O0T •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 8\WV.+ •单击go! yY[9\! •获得了3D光线追迹结果。 Fn>KdoByN ]K?;XA3 dZ
'9{`Czc(Gb -pmb-#`M 光线追迹仿真 ^H"o=K8= |I[/Fl: •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 6ChFsteGFr •单击go! XHU\;TF •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 K;z$~;F vtq$@#?~ b
O&dBLh!G c@3mfc{ 场追迹仿真 pfBe24q Hf/ZaBn •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 |\zzOfaO •单击go! |v:oLgUdH }!Y=SP1e l~]D|92 <Y]e 场追迹仿真(相机探测器) ;NOmI+t0w& .k:heN2-x •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 },n? •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ?g\emhG ;6eBfMhL
rD+mI/_J` h1t~hrq 场追迹仿真(电磁场探测器) wz'= •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ({ O~O5k 8.,d`~ TZ63=m ?7>"ZGDe> 场追迹仿真(电磁场探测器) 5cGQ `l PYBE?td •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 b)@D@K"5 4O{G^;
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