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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 .wf$]oQQ
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m4,inA: o 建模任务 {9XQ~t"m^ -> `R[k  \
k & ZA 概述 T0"q,lrdxV gp NAM" •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ].
0;;v6) •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 :i oD *k O:jaA3
 C~R, , d /lV+yZ 光线追迹仿真 )}1S
`*J/O V?-SvQIk1 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 b] ~ •单击go！ WP > VQZ& •获得了3D光线追迹结果。 x P $\
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 d' [] q+W* ?a) 光线追迹仿真 TnJJ& "~3b i Ie{L-Na •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 #Q$+ AdY| •单击go！ ASUleOI79( •结果得到点图（二维光线追迹结果）。 A>%mJ 3M `u$lSGl
 XPT @ LM 0N):8`dY 场追迹仿真 WB3YN+Xl3 RL b o •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ?wREX[Tqs •单击go！ e`zCz`R ]K|td)1X  Y?\PU{ O
-YY@[ 5x?u 场追迹仿真（相机探测器） :5_394v I}u&iV` •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 BVu{To:g •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 9](RZ6A+o -ju}I
 =h|xlT zo:NE0 0 场追迹仿真（电磁场探测器） bVOJp% *s •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 d0 ;<Cw~Tl "mc ] ^ O  mq+<2 S
h_1 5 " rd 场追迹仿真（电磁场探测器） _FkIg>s
Lm w4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 0A' )zKik 96i #
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